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"testing method"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2141件
DATA TRANSFER DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
データ転送装置及びそのテスト方法 - 特許庁
PERFORMANCE TESTING METHOD OF SLUDGE INCINERATOR例文帳に追加
汚泥焼却炉の性能試験方法 - 特許庁
LEAK TESTER AND LEAK TESTING METHOD FOR ALUMINUM WHEEL例文帳に追加
アルミホイールリークテスト方法および装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF MECHANICAL CHARACTERISTICS OF SOLDER例文帳に追加
はんだの機械的特性試験方法 - 特許庁
ULTRASONIC TESTING METHOD AND ITS SYSTEM例文帳に追加
超音波探傷方法及びその装置 - 特許庁
TEST CHAMBER FOR ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子機器用テスト・チャンバ及び方法 - 特許庁
DESTRUCTIVE TESTING METHOD OF MOBILE ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加
携帯電子機器の破壊検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR PLANT MONITOR CONTROL SYSTEM例文帳に追加
プラント監視制御システムの試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体試験方法及び試験装置 - 特許庁
OPTICAL DISK DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
光ディスク装置及びその試験方法 - 特許庁
ELEVATOR AND ITS EMERGENCY STOP TESTING METHOD例文帳に追加
エレベーター及び非常止め試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
テスト装置、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置およびその検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置、およびその試験方法 - 特許庁
OSCILLOSCOPE AND ITS CALIBRATION TESTING METHOD例文帳に追加
オシロ装置及びその較正試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF WIRE HARNESS MOUNTED PARTS例文帳に追加
ワイヤーハーネス装着部品の検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR APPARATUS AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及びその試験方法 - 特許庁
IC TEST SYSTEM AND IC TESTING METHOD例文帳に追加
ICテストシステム及びIC試験方法 - 特許庁
SELF TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
集積回路装置の自己テスト方法 - 特許庁
TENSILE TESTING METHOD FOR REINFORCED FIBER STRAND例文帳に追加
補強繊維ストランドの引張試験方法 - 特許庁
ACCELERATION TESTING METHOD AND ACCELERATION TESTING DEVICE例文帳に追加
加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁
CIRCUIT TESTER AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
回路試験装置および回路試験方法 - 特許庁
DIGITAL FILTER TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
デジタルフィルタ試験装置及び試験方法 - 特許庁
DISPLAY APPARATUS AND POSITIONAL DEVIATION TESTING METHOD例文帳に追加
表示装置および位置ずれ検査方法 - 特許庁
REFRACTORY TESTING METHOD AND REFRACTORY TESTER例文帳に追加
耐火物の試験方法およびその装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP例文帳に追加
半導体集積回路チップ試験方法 - 特許庁
BENDING LOAD TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD例文帳に追加
曲げ荷重試験装置及び試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置とその試験方法 - 特許庁
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