「○×テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

TIRE PRESSURE TEST DEVICE例文帳に追加

タイヤ耐圧テスト装置 - 特許庁

TEST EQUIPMENT FOR AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車のテスト装置 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子機器テスト回路 - 特許庁

ARITHMETIC TEST TEACHING MATERIAL例文帳に追加

算数テスト教材 - 特許庁

TESTING SYSTEM FOR RADIO例文帳に追加

無線機用テストシステム - 特許庁

O-RING TEST DEVICE例文帳に追加

Ｏリングテスト装置 - 特許庁

PATH DELAY TEST METHOD例文帳に追加

パスディレイテスト方法 - 特許庁

TEST STAGE UNIT例文帳に追加

テストステージユニット - 特許庁

TEST PIECE FOR ETCHING例文帳に追加

エッチングテストピース - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT TEST SYSTEM例文帳に追加

電子部品テストシステム - 特許庁

(What is a labor market test?)例文帳に追加

（労働市場テストとは） - 経済産業省

"Beta Test" was initial system test. 例文帳に追加

“ベータテスト”は初期のシステムテストであった． - コンピューター用語辞典

a {flicker test} to examine the degree of eye fatigue 例文帳に追加

フリッカーテストという,目の疲労度などを検査するテスト - EDR日英対訳辞書

a scholastic ability test called an achievement test 例文帳に追加

アチーブメントテストという学力テスト - EDR日英対訳辞書

The JUnit test result shows that the test passes.例文帳に追加

JUnit テスト結果で、テストに合格したことが示されます。 - NetBeans

Test client generation for testing RESTful web services. 例文帳に追加

RESTful Web サービスのテスト用テストクライアントの生成。 - NetBeans

Deselect Test Initializer and Test Finalizer. 例文帳に追加

「テスト初期化」および「テスト終了」を選択解除します。 - NetBeans

Add the following test method to the test class. 例文帳に追加

次のテストメソッドをテストクラスに追加します。 - NetBeans

Deselect Test Initializer and Test Finalizer.Click Finish. 例文帳に追加

「テスト初期化」および「テスト終了」を選択解除します。 - NetBeans

Figure 15: Testing Your Application, Part 4 例文帳に追加

図 15:アプリケーションのテスト (テスト 4) - NetBeans

Figure 17: Testing Your Application, Part 5 例文帳に追加

図 17:アプリケーションのテスト (テスト 5) - NetBeans

Package related test files (unit-tests etc) 例文帳に追加

パッケージ関連テストファイル(ユニットテストなど) - PEAR

Regression tests package containing the testing suite for Python.例文帳に追加

Python用テストスイートを含む回帰テストパッケージ。 - Python

Run the test without collecting the result. 例文帳に追加

テスト結果を収集せずにテストを実行します。 - Python

Return the number of tests represented by the this test object. 例文帳に追加

テストオブジェクトに含まれるテストの数を返します。 - Python

Secondary tests (subtests) of non-obviousness 例文帳に追加

非自明性に関する二次的テスト（サブテスト） - 特許庁

Secondary tests (subtests) of non-obviousness 例文帳に追加

非自明性に関する二次的テスト(サブテスト) - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR MACRO CELL AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

マクロセルのテスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND METHOD FOR SCHMITT TRIGGER BUFFER例文帳に追加

シュミットトリガバッファのテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, TEST DEVICE, TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハ、テスト装置、半導体ウェハのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体テスト回路と半導体テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体テスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加

半導体装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TEST APPARATUS AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST CIRCUIT GENERATING EQUIPMENT例文帳に追加

スキャンテスト回路およびスキャンテスト回路生成装置 - 特許庁

TEST AUXILIARY CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト補助回路およびテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

IC TEST SYSTEM AND IC TEST METHOD例文帳に追加

ＩＣテストシステムおよびＩＣテスト方法 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD例文帳に追加

スキャンテスト回路およびスキャンテスト方法 - 特許庁

SCAN TEST METHOD AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト方法およびスキャンテスト回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路、テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置および半導体テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路、及びテスト方法 - 特許庁

SCAN TEST CONTROL METHOD AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト制御方法、及びスキャンテスト回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT, TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

テスト回路、テスト方法、及び半導体集積回路装置 - 特許庁