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「○×テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > ○×テストに関連した英語例文

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○×テストを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18808



例文

EXERCISE TEST INTERPRETATION例文帳に追加

エクササイズテスト解釈 - 特許庁

SCAN PATH TESTING METHOD例文帳に追加

スキャンパステスト方法 - 特許庁

TEST CASE GENERATION METHOD例文帳に追加

テストケース生成方法 - 特許庁

ID SOCKET FOR TEST例文帳に追加

テスト用ICソケット - 特許庁

例文

TEST PRINT SYSTEM例文帳に追加

テスト印刷システム - 特許庁


例文

TRANSMISSION TESTING APPARATUS例文帳に追加

ミッションテスト装置 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATOR例文帳に追加

テスト信号発生装置 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATOR例文帳に追加

テスト信号発生器 - 特許庁

ENGINE TEST CELL例文帳に追加

エンジンテストセル - 特許庁

例文

TEST HEAD ASSEMBLY例文帳に追加

テストヘッド組立体 - 特許庁

例文

AIR LEAK TEST DEVICE例文帳に追加

エアリークテスト装置 - 特許庁

TEST CASE CREATION DEVICE例文帳に追加

テストケース生成装置 - 特許庁

SUPPORT BASE FOR TEST HEAD例文帳に追加

テストヘッドの支持台 - 特許庁

LEAK TEST SYSTEM例文帳に追加

リークテストシステム - 特許庁

ELECTRIC COMPONENT TESTING SYSTEM例文帳に追加

電気部品テストシステム - 特許庁

SMALL TEST-LEARNING DEVICE例文帳に追加

小テスト学習装置 - 特許庁

ANALYTICAL TEST STRIP例文帳に追加

分析テストストリップ - 特許庁

CHIP FOR EVALUATION TEST例文帳に追加

評価テスト用チップ - 特許庁

SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体テスト装置 - 特許庁

PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加

プログラムテストシステム - 特許庁

TESTING SOCKET, TEST METHOD USING THE SAME AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、このテスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR例文帳に追加

テストパターン生成装置 - 特許庁

TEST COVERAGE SYSTEM例文帳に追加

テストカバレージ方式 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR例文帳に追加

テストパターン発生装置 - 特許庁

TEST METHOD OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示器のテスト方法 - 特許庁

TEST SAMPLE ARRANGING DEVICE例文帳に追加

テスト試料配置装置 - 特許庁

SHUTOFF VALVE TESTING DEVICE例文帳に追加

遮断弁テスト装置 - 特許庁

SCANNING TEST DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR TEST PIECE例文帳に追加

テストピ—スの検査方法 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATOR例文帳に追加

テスト信号生成装置 - 特許庁

TEST DISTRIBUTION METHOD例文帳に追加

テスト分配方法 - 特許庁

SCANNING TEST METHOD例文帳に追加

スキャンテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER例文帳に追加

半導体テスト装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION APPARATUS例文帳に追加

テストデータ生成装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR BLADE例文帳に追加

ブレードのテスト装置 - 特許庁

TEST LENS STORAGE IMPLEMENT例文帳に追加

テストレンズ収納器 - 特許庁

TEST EXECUTION SYSTEM例文帳に追加

テスト実行システム - 特許庁

LSI TEST DEVICE例文帳に追加

LSIテスト装置 - 特許庁

FORCEPS FOR SEALING TEST例文帳に追加

シーリングテスト用鉗子 - 特許庁

ADC TEST CIRCUIT例文帳に追加

ADCテスト回路 - 特許庁

TOOL FOR PATCH TEST例文帳に追加

パッチテスト用ツール - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING TEST PLUG例文帳に追加

テストプラグ試験装置 - 特許庁

FLUORESCENT TEST CHART例文帳に追加

蛍光テストチャート - 特許庁

OPTICAL DISK FOR TEST例文帳に追加

テスト用光ディスク - 特許庁

PROGRAM TEST DEVICE例文帳に追加

プログラムテスト装置 - 特許庁

TEST DATA EDITING DEVICE例文帳に追加

テストデータ編集装置 - 特許庁

TEST FACILITATION CIRCUIT例文帳に追加

テスト容易化回路 - 特許庁

TEST BOARD FITTING DEVICE例文帳に追加

テストボード取付装置 - 特許庁

TEST SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

テスト支援システム - 特許庁

例文

COLOR SENTIMENT TEST例文帳に追加

カラー感情テスト - 特許庁

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