「○×テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR THIS SYSTEM例文帳に追加

半導体テストシステム及びこのシステムのテスト方法 - 特許庁

SOCKET FOR SEMICONDUCTOR TEST, AND SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体テスト用ソケットおよび半導体テスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置及び半導体テスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF LOGICAL CIRCUIT AND TEST DEVICE OF LOGICAL CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテスト方法および論理回路のテスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路、そのテスト回路、及びテスト方法 - 特許庁

TEST APPARATUS AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM TEST SYSTEM AND ELECTRON BEAM TEST METHOD例文帳に追加

電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法 - 特許庁

TEST SHEET MANUFACTURING METHOD, PRINTING SYSTEM AND TEST SHEET例文帳に追加

テストシート製造方法、印刷システム及びテストシート - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体テスト回路及びテスト装置 - 特許庁

MEMORY DIAGNOSIS TEST CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

メモリ診断テスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, TEST CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ装置並びにテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

TEST SYSTEM, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

テストシステム、半導体集積回路及びテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR LOGIC CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

論理回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びテスト装置 - 特許庁

TEST HANDLER AND SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST METHOD例文帳に追加

テストハンドラー及び半導体素子テスト方法 - 特許庁

DIGITAL TEST DEVICE FOR TESTING ANALOG SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

アナログ半導体装置をテストするデジタルテスト装置 - 特許庁

TEST HAMMER, AND LID MATERIAL DEVICE FOR TEST HAMMER例文帳に追加

テストハンマー及びテストハンマー用蓋材装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, TEST SYSTEM AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置、テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

MODEM TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

モデムテストシステム及びモデムテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト回路とテスト方法 - 特許庁

TEST SHEET, PRINTING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING TEST SHEET例文帳に追加

テストシート、印刷装置、及びテストシートの製造方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路のテスト方法、及びテスト装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST GENERATOR FOR TELECOMMUNICATION FACILITY例文帳に追加

電気通信設備のテスト方法及びテスト・ジェネレータ - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びテストシステム - 特許庁

TESTING METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子のテスト方法及びテスト基板 - 特許庁

LSI TEST SYSTEM AND LSI TEST METHOD例文帳に追加

ＬＳＩテストシステムおよびＬＳＩテスト方法 - 特許庁

TESTING TOOL AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト用治具とテスト方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法およびテスト装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF PLL CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＰＬＬ回路のテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR SCAN TEST例文帳に追加

スキャンテスト回路及びスキャンテスト方法 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR MACRO CORE TEST例文帳に追加

マクロコアテスト装置およびマクロコアテスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

集積回路、テスト回路およびテスト方法 - 特許庁

LSI TEST DEVICE AND LSI TEST METHOD例文帳に追加

ＬＳＩテスト装置およびＬＳＩテスト方法 - 特許庁

TEST SETTING CIRCUIT AND TEST SETTING METHOD例文帳に追加

テスト設定回路及びテスト設定方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR CAMERA MODULE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

カメラモジュールのテスト装置及びそのテスト方法 - 特許庁

A product under test (11, 46, 55, 77-79) is tested remotely.例文帳に追加

テスト対象製品(11,46,55,77−79)が遠隔でテストされる。 - 特許庁

SCAN TESTING METHOD AND SCAN TESTING DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト方法及びスキャンテスト装置 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR SCAN TEST例文帳に追加

スキャンテスト回路、およびスキャンテスト方法 - 特許庁