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「○×テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > ○×テストに関連した英語例文

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○×テストを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18808



例文

RAM TEST CIRCUIT例文帳に追加

RAMテスト回路 - 特許庁

LSI TEST SYSTEM例文帳に追加

LSIテストシステム - 特許庁

TEST CIRCUIT OF RAM例文帳に追加

RAMのテスト回路 - 特許庁

SOCKET FOR TEST, ITS MANUFACTURE, TESTING METHOD USING SOCKET FOR TEST, AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

例文

TEST SIGNAL GENERATING APPARATUS例文帳に追加

テスト信号発生装置 - 特許庁


例文

DIAGNOSTIC TEST SYSTEM例文帳に追加

診断テストシステム - 特許庁

SENSOR TESTING METHOD例文帳に追加

センサのテスト方法 - 特許庁

TEST BOARD TRANSFER TRUCK例文帳に追加

テストボード搬送台車 - 特許庁

ERROR CORRECTION TEST DEVICE例文帳に追加

誤り訂正テスト装置 - 特許庁

例文

SCAN-PATH TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンパステスト回路 - 特許庁

例文

TEST SUPPORT PROGRAM例文帳に追加

テスト支援プログラム - 特許庁

TEST PRINTING METHOD例文帳に追加

テスト印刷方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION DEVICE例文帳に追加

テストデータ作成装置 - 特許庁

ROM TESTING CIRCUIT例文帳に追加

ROMテスト回路 - 特許庁

TEST SOCKET, METHOD OF MANUFACTURING IT, METHOD OF TESTING BY USING IT, AND TESTED MEMBER例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

BATTERY TEST MODULE例文帳に追加

バッテリテストモジュール - 特許庁

METHOD FOR DEVICE TEST例文帳に追加

デバイスのテスト方法 - 特許庁

IC SOCKET FOR TESTING例文帳に追加

テスト用ICソケット - 特許庁

ASIC TESTING MECHANISM例文帳に追加

ASICテスト機構 - 特許庁

TEST PROGRESS MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

テスト進捗管理方式 - 特許庁

TEST-SIGNAL GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

テスト信号生成回路 - 特許庁

ERROR PROCESSING TEST METHOD例文帳に追加

エラー処理テスト方法 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT例文帳に追加

メモリのテスト回路 - 特許庁

ELECTRONIC TEST SYSTEM例文帳に追加

電子テストシステム - 特許庁

SCANNING TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト回路 - 特許庁

PUMP FOR HYDRAULIC PRESSURE TEST例文帳に追加

水圧テスト用ポンプ - 特許庁

TEST METHOD FOR RAM例文帳に追加

RAMのテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF BLADE例文帳に追加

ブレードのテスト装置 - 特許庁

OPTOMETRIC TEST FRAME例文帳に追加

検眼用テストフレーム - 特許庁

TEST ITEM GENERATION DEVICE例文帳に追加

テスト項目生成装置 - 特許庁

TEST MODE MONITORING CIRCUIT例文帳に追加

テストモードモニタ回路 - 特許庁

SYSTEM TEST DEVICE例文帳に追加

システムテスト装置 - 特許庁

LEAK TEST METHOD例文帳に追加

リークテスト方法 - 特許庁

TEST TERMINAL FOR BOARD例文帳に追加

基板用テスト端子 - 特許庁

PATCH TEST TAPE例文帳に追加

パッチテスト・テープ - 特許庁

RADIATION TEST SYSTEM例文帳に追加

放射線テストシステム - 特許庁

STRUCTURE OF TEST PLUG例文帳に追加

テストプラグの構造 - 特許庁

SEMICONDUCTOR-TESTING TOOL例文帳に追加

半導体テスト治工具 - 特許庁

VERIFICATION TEST BENCH例文帳に追加

検証テストベンチ - 特許庁

TEST PIECE MANUFACTURING MACHINE例文帳に追加

テストピース作製機 - 特許庁

TEST DATA GENERATION DEVICE例文帳に追加

テストデータ生成装置 - 特許庁

TRANSMITTER FOR TEST PIECE例文帳に追加

テストピース用送信器 - 特許庁

CIRCUIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体テスト回路 - 特許庁

SCAN TEST EQUIPMENT例文帳に追加

スキャンテスト装置 - 特許庁

TEST HANDLER DEVICE例文帳に追加

テストハンドラ装置 - 特許庁

REMOTE COMPUTER TESTING例文帳に追加

遠隔コンピュータテスト - 特許庁

LSI-TESTING ADAPTOR例文帳に追加

LSIテスト用アダプタ - 特許庁

AIR LEAK TEST APPARATUS例文帳に追加

エアリークテスト装置 - 特許庁

TEST PRINT METHOD例文帳に追加

テスト印刷方法 - 特許庁

例文

SPEAKER TEST METHOD例文帳に追加

スピーカテスト方法 - 特許庁

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