「原子間力顕微法」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法例文帳に追加

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND METHOD FOR FORMING ENERGY DISSIPATION IMAGE USING THE SAME - 特許庁

原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置例文帳に追加

APPROACH CONTROL METHOD AND APPARATUS OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いた垂直断面加工方法例文帳に追加

VERTICAL SECTION MACHINING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法例文帳に追加

FINE PROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法例文帳に追加

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法例文帳に追加

SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いたフォトマスクのパーティクル除去方法例文帳に追加

METHOD FOR REMOVING PARTICLE OF PHOTOMASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法例文帳に追加

PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE - 特許庁

デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法例文帳に追加

DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT - 特許庁

非接触型原子間力顕微鏡およびそれを用いた観察方法例文帳に追加

NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME - 特許庁

走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法例文帳に追加

SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡を使用したフォトマスク修正方法例文帳に追加

METHOD FOR MODIFYING PHOTOMASK USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法例文帳に追加

SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム例文帳に追加

SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR - 特許庁

高さ制御性に優れた原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法例文帳に追加

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE EXCELLENT IN HEIGHT CONTROLLABILITY - 特許庁

原子間力顕微鏡法及び他の用途用の測定ヘッド例文帳に追加

ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND MEASUREMENT HEAD USED FOR OTHER APPLICATION - 特許庁

高温状態における高分子材料の原子間力顕微鏡観察方法例文帳に追加

ATOMIC FORCE MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF POLYMERIC MATERIAL AT HIGH TEMPERATURE STATE - 特許庁

原子間力顕微鏡検査用のプローブを製造する方法例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPIC INSPECTION - 特許庁

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いた加工方法例文帳に追加

WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE FINE WORKING DEVICE - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いた加工装置及び加工方法例文帳に追加

WORKING DEVICE AND WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

タッピングモードにおける衝撃力を低減化した原子間力顕微鏡の操作方法例文帳に追加

METHOD OF OPERATING ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH REDUCED IMPACT FORCE IN TAPPING MODE - 特許庁

音叉型原子間力顕微鏡プローブ、その調整方法及び製造方法例文帳に追加

TUNING FORK TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE, ITS ADJUSTING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

原子間力顕微鏡の加工用ダイヤモンド探針の観察方法及び加工方法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND MACHINING METHOD OF DIAMOND PROBE FOR MACHINING OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法例文帳に追加

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM - 特許庁

原子間力顕微鏡の探針を用いたフォトマスクのパターン余剰欠陥修正方法例文帳に追加

PATTERN EXCESS DEFECT REPAIRING METHOD OF PHOTOMASK USING PROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスク余剰欠陥修正方法例文帳に追加

METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK SURPLUS DEFECT USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROFABRICATING APPARATUS - 特許庁

原子間力顕微鏡用のコロイドプローブカンチレバーの製造方法および製造装置例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING COLLOID PROBE CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING DEVICE - 特許庁

フォトマスク欠陥修正方法及びそれに用いる原子間力顕微鏡微細加工装置例文帳に追加

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE USED THEREFOR - 特許庁

原子間力顕微鏡のカンチレバーの共振特性を容易に得るための方法を提案する。例文帳に追加

To provide a method for readily acquiring the resonance characteristics of a cantilever of an atomic force microscope. - 特許庁

パーティクル除去方法、微小ピンセット装置、原子間力顕微鏡および荷電粒子ビーム装置例文帳に追加

PARTICLE REMOVAL METHOD, MINUTE TWEEZER APPARATUS, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁

水性樹脂被膜の原子間力顕微鏡観察から被膜の物理強度を予測する方法例文帳に追加

METHOD FOR ESTIMATING PHYSICAL STRENGTH OF FILM FROM ATOMIC FORCE MICROSCOPIC OBSERVATION OF AQUEOUS RESIN FILM - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いて試料の界面情報及び度量衡学的情報を得る方法例文帳に追加

METHOD OF OBTAINING INTERFACE INFORMATION AND METROLOGICAL INFORMATION OF SAMPLE, USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

櫛歯型プローブ、これを備える原子間力顕微鏡装置および変位測定方法例文帳に追加

COMBTOOTH-SHAPED PROBE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT, AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD - 特許庁

また、原子間力顕微鏡法により探針位置を制御して、低接触抵抗を実現する。例文帳に追加

The low contact resistance is realized by controlling a position of the probe by an atomic force microscope method. - 特許庁

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたマスク余剰欠陥除去方法例文帳に追加

METHOD FOR REMOVING MASK EXCESS DEFECT BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE - 特許庁

走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法例文帳に追加

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたクロムマスクの黒欠陥修正方法例文帳に追加

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN CHROME MASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE - 特許庁

ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。例文帳に追加

To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force. - 特許庁

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like. - 特許庁

光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡例文帳に追加

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE - 特許庁

集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法例文帳に追加

METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工で垂直な加工面を従来よりも確実かつ簡便な方法で得られるようにする。例文帳に追加

To provide a vertical section machining method for forming a vertically machined surface by mechanical machining using an atomic force microscope (AFM) technique, in a more positive and easier manner than ever. - 特許庁

一層高い有用性及び測定精度を有する原子間力顕微鏡及びその測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an atomic force microscope having high usability and high measuring precision, and a method therefor. - 特許庁

強誘電体磁区を画定するために原子間力顕微鏡を用いて、微小粒子または分子のアレイをアセンブルする方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of assembling an array of particulates or molecules using an atomic force microscope for partitioning a ferro-dielectric magnetic domain. - 特許庁