例文 (999件) |
測定用装置の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 9213件
測定用プローブおよび測定装置例文帳に追加
MEASUREMENT PROBE AND MEASURING DEVICE - 特許庁
車体用測定装置例文帳に追加
MEASURING DEVICE FOR CAR BODY - 特許庁
測定用の光学装置例文帳に追加
OPTICAL DEVICE FOR MEASUREMENT - 特許庁
医療用測定装置例文帳に追加
MEDICAL MEASURING DEVICE - 特許庁
用紙厚測定装置例文帳に追加
PAPER THICKNESS MEASURING DEVICE - 特許庁
光応用測定装置例文帳に追加
用紙厚測定装置例文帳に追加
SHEET THICKNESS MEASURING DEVICE - 特許庁
測定用光学装置例文帳に追加
OPTICAL DEVICE FOR MEASUREMENT - 特許庁
コンデンサ用測定装置例文帳に追加
MEASURING APPARATUS FOR CAPACITOR - 特許庁
携帯用測定装置例文帳に追加
PORTABLE MEASURING DEVICE - 特許庁
測定器用プロ—ブ装置例文帳に追加
PROBE APPARATUS FOR MEASURING APPARATUS - 特許庁
医療用測定装置例文帳に追加
MEDICAL MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
気体測定用装置例文帳に追加
GAS MEASURING APPARATUS - 特許庁
医療用測定装置例文帳に追加
用紙長測定装置例文帳に追加
PAPER LENGTH MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
ガス測定装置、ガス測定方法、及びガス測定用光源例文帳に追加
APPARATUS, METHOD, AND LIGHT SOURCE FOR GAS MEASUREMENT - 特許庁
測定対象物の測定用チップ,測定対象物の測定装置及び測定対象物の測定方法例文帳に追加
CHIP FOR MEASURING OBJECT TO BE MEASURED, EQUIPMENT AND METHOD FOR MEASURING OBJECT - 特許庁
測定対象物の測定用チップ,測定対象物の測定装置及び測定対象物の測定方法例文帳に追加
CHIP, APPARATUS, AND METHOD FOR MEASURING OBJECT TO BE MEASURED - 特許庁
濃度測定装置の被測定物位置決め方法、濃度測定装置及び濃度測定用被測定物例文帳に追加
POSITIONING METHOD FOR OBJECT TO BE MEASURED FOR DENSITY MEASURING DEVICE, DENSITY MEASURING DEVICE, AND OBJECT TO BE MEASURED FOR DENSITY MEASUREMENT - 特許庁
成分測定装置用チップ、成分測定装置および成分測定システム例文帳に追加
TIP FOR COMPONENT MEASURING DEVICE AND COMPONENT MEASURING DEVICE AND SYSTEM - 特許庁
座標測定装置ならびに座標測定装置を用いて測定する方法例文帳に追加
To provide a coordinate measuring device and a method of measurement with the coordinate measuring device. - 特許庁
画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム例文帳に追加
PICTURE MEASURING DEVICE, PICTURE MEASURING METHOD AND PROGRAM FOR PICTURE MEASURING DEVICE - 特許庁
力測定装置用過負荷保護装置例文帳に追加
OVERLOAD PROTECTION DEVICE FOR FORCE-MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
酵素免疫測定装置及び該装置を用いる測定法例文帳に追加
APPARATUS FOR MEASURING ENZYME IMMUNITY AND METHOD FOR MEASURING USING THE APPARATUS - 特許庁
光測定装置及び光測定装置用光切り換え器例文帳に追加
PHOTOMETRIC APPARATUS AND LIGHT CHANGEOVER DEVICE THEREFOR - 特許庁
測定装置用光源モジュール及び測定装置例文帳に追加
LIGHT SOURCE MODULE FOR MEASURING DEVICE, AND MEASURING DEVICE - 特許庁
眼鏡用測定装置及び三次元測定装置例文帳に追加
MEASURING APPARATUS FOR GLASSES, AND THREE-DIMENSIONAL MEASURING APPARATUS - 特許庁
光測定装置及び光測定装置用光切り換え器例文帳に追加
OPTICAL MEASURING APPARATUS AND OPTICAL CHANGEOVER DEVICE THEREFOR - 特許庁
手摺り位置測定装置とその装置を用いた測定方法例文帳に追加
HANDRAIL POSITION MEASURING INSTRUMENT AND MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁
角度測定装置およびこの角度測定装置の使用例文帳に追加
ANGLE MEASUREMENT DEVICE AND ITS USAGE - 特許庁
測定装置、測定用プローブおよび操作装置例文帳に追加
MEASURING DEVICE, MEASURING PROBE AND OPERATION DEVICE - 特許庁
画像測定装置及び画像測定装置用プログラム例文帳に追加
IMAGE MEASURING DEVICE AND PROGRAM THEREFOR - 特許庁
距離測定装置用受信機および距離測定装置例文帳に追加
RECEIVER FOR DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
温度測定装置およびこれ用いたガス濃度測定装置例文帳に追加
TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND GAS CONCENTRATION MEASURING DEVICE USING IT - 特許庁
位置測定装置、位置測定装置を用いた形状測定装置及び位置測定方法、並びに位置測定方法を用いた形状測定方法例文帳に追加
POSITION MEASURING DEVICE, SHAPE MEASURING DEVICE AND POSITION MEASURING METHOD USING POSITION MEASURING DEVICE, AND SHAPE MEASURING METHOD USING POSITION MEASURING METHOD - 特許庁
ねじ測定方法、ねじ測定用プローブ及びそれを用いたねじ測定装置例文帳に追加
SCREW MEASUREMENT METHOD, PROBE FOR MEASURING SCREW, AND SCREW MEASUREMENT DEVICE USING IT - 特許庁
方位測定装置、該方位測定装置に用いられる方位測定方法及び方位測定プログラム例文帳に追加
DIRECTION MEASUREMENT DEVICE; AND DIRECTION MEASUREMENT METHOD AND DIRECTION MEASUREMENT PROGRAM USED FOR DIRECTION MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
マラリア感染赤血球の測定方法、測定装置、測定用試薬、及びマラリア原虫の測定方法、測定装置、測定用試薬例文帳に追加
METHOD, APPARATUS AND REAGENT FOR MEASURING MALARIA-INFECTED ERYTHROCYTE, AND METHOD, APPARATUS AND REAGENT FOR MEASURING PLASMODIUM - 特許庁
干渉測定用装置及び干渉測定用方法例文帳に追加
INTERFERENCE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD THEREOF - 特許庁
使用量測定装置および使用量測定システム例文帳に追加
USAGE QUANTITY MEASURING DEVICE AND USAGE QUANTITY MEASURING SYSTEM - 特許庁
測定用セルと、それを用いた微生物数測定装置例文帳に追加
MEASURING CELL AND APPARATUS FOR MEASURING NUMBER OF MICROORGANISMS THEREWITH - 特許庁
血圧測定用カフ、血圧測定装置及び血圧測定方法例文帳に追加
CUFF FOR SPHYGMOMANOMETRY, SPHYGMOMANOMETER APPARATUS, AND SPHYGMOMANOMETRY METHOD - 特許庁
半導体測定装置、半導体測定用治具、及び半導体測定方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR MEASURING DEVICE, TOOL FOR MEASURING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD - 特許庁
免疫測定方法、免疫測定装置、及び免疫測定用試薬例文帳に追加
IMMUNITY MEASUREMENT METHOD, IMMUNITY MEASURING APPARATUS, AND REAGENT FOR MEASURING IMMUNITY - 特許庁
EMI測定用導体治具、EMI測定装置およびEMI測定方法例文帳に追加
CONDUCTOR JIG FOR EMI MEASUREMENT, EMI MEASURING DEVICE, AND EMI MEASURING METHOD - 特許庁
膜厚測定方法、膜厚測定用プログラム、及び膜厚測定装置例文帳に追加
FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM, FILM THICKNESS MEASUREMENT APPARATUS - 特許庁
pH測定用サンプル、pH測定装置及びpH測定方法例文帳に追加
SAMPLE FOR PH MEASUREMENT, PH MEASUREMENT APPARATUS AND PH MEASUREMENT METHOD - 特許庁
質量測定用圧電振動子、質量測定装置および質量測定方法例文帳に追加
MASS MEASURING PIEZOELECTRIC VIBRATOR, MASS MEASURING DEVICE, AND MASS MEASURING METHOD - 特許庁
気中アルカリ濃度測定用チップ、測定方法及び測定装置例文帳に追加
IN-AIR ALKALI CONCENTRATION MEASURING CHIP, MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE - 特許庁
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