例文 (999件) |
測微装置の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1354件
微小ピッチ測定方法及びその装置例文帳に追加
MICROPITCH MEASURING METHOD AND ITS APPARATUS - 特許庁
微小高さ測定装置及び変位計ユニット例文帳に追加
MINUTE HEIGHT MEASURING INSTRUMENT AND DISPLACEMENT METER UNIT - 特許庁
プロフィル測定装置および圧延機微調整方法例文帳に追加
PROFILE MEASURING APPARATUS AND FINE-TUNING METHOD FOR ROLLING MILL - 特許庁
微細単線の熱伝導率測定装置例文帳に追加
MEASURING APPARATUS FOR THERMAL CONDUCTIVITY OF FINE SINGLE WIRE - 特許庁
微小表面温度分布計測法およびそのための装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING MINUTE SURFACE TEMPERATURE DISTRIBUTION - 特許庁
電子顕微鏡の半密閉式観測環境形成装置例文帳に追加
SEMI-HERMETICALLY SEALED OBSERVATION ENVIRONMENT FORMING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
微生物の迅速測定方法及び捕捉装置例文帳に追加
METHOD FOR QUICKLY DETERMINING MICROORGANISM AND CAPTURING DEVICE - 特許庁
微小粒子測定装置及び光軸補正方法例文帳に追加
FINE PARTICLE MEASURING INSTRUMENT AND OPTICAL AXIS CORRECTION METHOD - 特許庁
水中の微量有機物測定装置例文帳に追加
MEASURING DEVICE FOR TRACE ORGANIC MATTER IN WATER - 特許庁
液中微粒子測定装置およびその校正方法例文帳に追加
APPARATUS FOR MEASURING SUBMERGED FINE PARTICLE AND ITS CALIBRATION METHOD - 特許庁
ハーフミラーおよびそれを使用した顕微分光測定装置例文帳に追加
HALF MIRROR, AND MICROSCOPIC SPECTROPHOTOMETER USING THE SAME - 特許庁
共焦点顕微鏡及び高さ測定装置例文帳に追加
CONFOCAL MICROSCOPE AND HEIGHT MEASURING INSTRUMENT - 特許庁
微細周期性溝の観測方法とその観測装置、微細周期性溝の加工観測方法とその加工観測装置例文帳に追加
MICROPERIODIC GROOVE OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION DEVICE THEREOF, MICROPERIODIC GROOVE MACHINING OBSERVATION METHOD AND MACHINING OBSERVATION DEVICE THEREOF - 特許庁
ポンププローブ測定装置及びそれを用いた走査プローブ顕微鏡装置例文帳に追加
PUMP PROBE MEASURING INSTRUMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
放射線検出装置および電子顕微鏡および計測装置例文帳に追加
RADIATION DETECTING DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE AND MEASURING APPARATUS - 特許庁
三次元顕微鏡装置及び同装置を用いた観察・測定法例文帳に追加
THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE, AND OBSERVATION AND MEASURING METHOD USING THREE DIMENSIONAL MICROSCOPE - 特許庁
帯電微粒子サンプリング装置および帯電量分布測定装置例文帳に追加
CHARGED PARTICULATE SAMPLING DEVICE, AND CHARGED AMOUNT DISTRIBUTION MEASURING DEVICE - 特許庁
微小容量測定装置及び半導体記憶装置の設計方法例文帳に追加
MINUTE CAPACITY MEASURING APPARATUS, AND METHOD OF DESIGNING SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS - 特許庁
変位計測方法及びその装置、ステージ装置並びにプローブ顕微鏡例文帳に追加
DISPLACEMENT MEASURING METHOD, INSTRUMENT THEREFOR, STAGE DEVICE, AND PROBE MICROSCOPE - 特許庁
細孔微粒子のガス吸着特性測定装置及びその測定方法例文帳に追加
GAS ADSORPTION CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE FOR PORE PARTICULATE, AND MEASURING METHOD THEREFOR - 特許庁
熱量測定による微生物活性測定方法および装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR ASSAYING BIOACTIVITY OF MICROORGANISM BY CALORIMETRY - 特許庁
微小電極を用いた測定方法、測定装置及び電極体例文帳に追加
MEASUREMENT METHOD USING MICRO ELECTRODE, MEASUREMENT DEVICE, AND ELECTRODE BODY - 特許庁
電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING MEASUREMENT TARGET PATTERN USING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁
走査型静電容量顕微鏡による測定方法および測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE - 特許庁
超純水中の微粒子数測定方法及び測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING NUMBER OF MICROPARTICLE IN ULTRAPURE WATER - 特許庁
顕微鏡を用いた測定装置、測定方法およびそのプログラム例文帳に追加
MEASURING INSTRUMENT AND METHOD USING MICROSCOPE, AND ITS PROGRAM - 特許庁
半導体薬液用微量金属連続測定装置および測定方法例文帳に追加
MINUTE AMOUNT METAL CONTINUOUS MEASURING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHEMICAL - 特許庁
可燃ガス対応微量酸素測定装置及び測定方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF TRACE OXYGEN DEALING WITH COMBUSTIBLE GAS - 特許庁
微小センサによる近傍界測定方法および近傍界測定装置例文帳に追加
NEAR FIELD MEASUREMENT METHOD AND APPARATUS BY MICRO-SENSOR - 特許庁
微粒子のブレイクダウン特性の測定装置およびその測定方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF BREAKDOWN CHARACTERISTIC OF FINE PARTICLES - 特許庁
微小構造体の変位量測定装置および変位量測定方法例文帳に追加
DISPLACEMENT AMOUNT MEASURING INSTRUMENT AND DISPLACEMENT AMOUNT MEASURING METHOD OF MICROSTRUCTURE - 特許庁
微分パルスボルタンメトリ電流測定方法および測定装置例文帳に追加
DIFFERENTIAL PULSE VOLTAMMETRY ELECTRIC CURRENT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE - 特許庁
エアロゾル中の微粒子数密度測定方法及び測定装置例文帳に追加
MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF FINE PARTICLE NUMBER DENSITY IN AEROSOL - 特許庁
微小粒子間付着力測定方法および測定装置例文帳に追加
FINE PARTICLE ADHESIVE FORCE MEASURING APPARATUS AND ADHESIVE FORCE MEASURING METHOD - 特許庁
プローブ位置固定式微小力測定装置及び測定方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR PROBE POSITION FIXATION-TYPE MEASUREMENT OF VERY SMALL FORCE - 特許庁
金属の微小領域の応力測定方法および応力測定装置例文帳に追加
STRESS MEASURING METHOD FOR MICROSCOPIC AREA OF METAL AND STRESS MEASURING INSTRUMENT - 特許庁
X線回折顕微鏡装置およびX線回折顕微鏡装置によるX線回折測定方法例文帳に追加
X-RAY DIFFRACTION MICROSCOPE APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD BY THE SAME - 特許庁
微量試料用撹拌装置、及びそれを用いた微量試料の特性測定方法、並びにその装置。例文帳に追加
AGITATION DEVICE FOR TRACE SAMPLE, CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF TRACE SAMPLE USING IT, AND DEVICE THEREFOR - 特許庁
微細藻類の増殖活性測定方法および微細藻類の増殖活性測定装置例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING PROLIFERATION ACTIVITY OF MICROALGAE, AND APPARATUS FOR MEASURING PROLIFERATION ACTIVITY OF MICROALGAE - 特許庁
微少質量測定装置、微少質量測定システムおよび電極取り出し方法例文帳に追加
APPARATUS AND SYSTEM FOR MEASURING SMALLMASS AND METHOD OF TAKING OUT ELECTRODES - 特許庁
微小高さ測定方法及びそれに用いる微小高さ測定装置並びに変位ユニット例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF MINUTE HEIGHT, AND DISPLACEMENT UNIT - 特許庁
交流電場を用いて微粒子を質量分級する微粒子計測装置および計測方法例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR MEASURING FINE PARTICLE FOR MASS CLASSIFICATION THEREOF BY USING AC ELECTRIC FIELD - 特許庁
超純水中微粒子の測定装置および超純水中微粒子の測定方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING FINE PARTICLES IN ULTRAPURE WATER - 特許庁
微粒子測定装置20−1〜20−nに、当該微粒子測定装置で求められる所定時間分の微粒子測定結果を記憶し、この記憶された微粒子測定結果を通信網2を介して上位制御装置1へ送信する。例文帳に追加
Particulate measuring results corresponding to a predetermined time calculated by particulate measuring instruments 20-1 to 20-n are stored in the particulate measuring instruments and transmitted to an upper order control device 1 through a communication net 2. - 特許庁
パターン抽出方法、パターン抽出装置、微小異物形状測定方法、微小異物形状測定装置、ホール中央部の穴径測定方法、ホール中央部の穴径測定装置、ホール段差測定方法及びホール段差測定装置例文帳に追加
PATTERN EXTRACTION METHOD AND DEVICE, MINUTE FOREIGN OBJECT SHAPE MEASUREMENT METHOD AND DEVICE, METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HOLE DIAMETER AT HOLE CENTER PART, AND METHOD HOLE STEP MEASUREMENT METHOD AND HOLE STEP MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
微粒子のブレイクダウン閾値測定方法とその測定装置、およびこれを用いた液中微粒子測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF BREAKDOWN THRESHOLD VALUE OF FINE PARTICLES AS WELL AS MEASURING APPARATUS FOR FINE PARTICLES IN LIQUID BY USING THEM - 特許庁
電気化学測定用集合微小電極、該集合微小電極を用いた電気化学測定法及び該集合微小電極を備えた電気化学測定装置例文帳に追加
CLUSTER MICROELECTRODE FOR ELECTROCHEMICAL MEASUREMENT, ELECTROCHEMICAL MEASURING METHOD USING CLUSTER MICROELECTRODE, AND ELECTROCHEMICAL MEASURING INSTRUMENT PROVIDED WITH CLUSTER MICROELECTRODE - 特許庁
微細パターン測定方法、微細パターン測定装置、及び微細パターン測定プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体例文帳に追加
METHOD AND INSTRUMENT FOR FINE PATTERN MEASUREMENT, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORED WITH FINE PATTERN MEASURING PROGRAM - 特許庁
微細パターン測定方法、微細パターン測定装置及び微細パターン測定プログラムを記録した記録媒体例文帳に追加
MICRO-PATTERN MEASURING METHOD, MICRO-PATTERN MEASURING DEVICE AND RECORDING MEDIUM HAVING MICRO- PATTERN MEASURING PROGRAM RECORDED THEREIN - 特許庁
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