例文 (999件) |
計装法の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 12527件
計量装置の洗浄方法、計量装置、計量包装装置および計量包装検査システム例文帳に追加
CLEANING METHOD OF WEIGHING DEVICE, WEIGHING DEVICE, WEIGHING PACKAGING SYSTEM AND WEIGHING PACKAGING INSPECTION SYSTEM - 特許庁
寸法計測方法及びその装置例文帳に追加
DIMENSION MEASURING METHOD AND ITS DEVICE - 特許庁
基本セル設計方法、レイアウト設計方法、設計装置およびプログラム例文帳に追加
BASIC-CELL DESIGNING METHOD, LAYOUT DESIGNING METHOD, DESIGNING APPARATUS, AND PROGRAM - 特許庁
光強度計測方法、反射率計測方法、及び光強度計測装置例文帳に追加
LIGHT INTENSITY MEASURING METHOD, REFLECTANCE MEASURING METHOD, AND LIGHT INTENSITY MEASURING INSTRUMENT - 特許庁
計測装置及びマルチパス判定方法及び計測方法例文帳に追加
MEASUREMENT DEVICE, MULTIPATH DETERMINATION METHOD, AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁
分子軌道法計算方法及び計算装置例文帳に追加
MOLECULAR ORBITAL METHOD CALCULATION METHOD AND CALCULATION DEVICE - 特許庁
分子軌道法計算方法および計算装置例文帳に追加
MOLECULAR ORBITAL METHOD CALCULATION METHOD AND CALCULATING DEVICE - 特許庁
計測方法、基板搬送方法及び計測装置例文帳に追加
MEASURING METHOD, SUBSTRATE CONVEYANCE METHOD, AND MEASURING DEVICE - 特許庁
寸法計測方法、撮像装置、制御装置および寸法計測装置例文帳に追加
DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD, IMAGING DEVICE, CONTROLLER, AND DIMENSIONAL MEASURING DEVICE - 特許庁
計測方法、計測装置、干渉計システム及び露光装置例文帳に追加
MEASURING METHOD, MEASURING APPARATUS, INTERFEROMETER SYSTEM, AND EXPOSURE APPARATUS - 特許庁
半導体装置の設計方法、その設計プログラムおよびその設計装置例文帳に追加
METHOD, PROGRAM, AND DEVICE FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体集積装置の設計方法、設計装置及び設計プログラム。例文帳に追加
METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE, DESIGNED DEVICE, AND DESIGN PROGRAM - 特許庁
計数装置、計数装置の離脱方法および計数システム例文帳に追加
COUNTING DEVICE, METHOD OF DETACHING COUNTING DEVICE, AND COUNTING SYSTEM - 特許庁
時計用外装部品の製造方法、時計用外装部品及び時計例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD FOR WATCH OUTER PACKAGE COMPONENT, WATCH OUTER PACKAGE COMPONENT AND WATCH - 特許庁
隙間計測装置の計測性検証装置及び計測性検証方法例文帳に追加
MEASUREMENT CHARACTERISTIC VERIFICATION DEVICE AND MEASUREMENT CHARACTERISTIC VERIFICATION METHOD OF GAP MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
計量装置およびこれを備えた組合せ計量装置、計量方法例文帳に追加
MEASUREMENT DEVICE, COMBINED MEASUREMENT DEVICE EQUIPPED WITH MEASUREMENT DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁
時計用外装部品の製造方法、時計用外装部品および時計例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD FOR ARMORING PART OF TIMEPIECE, ARMORING PART FOR TIMEPIECE, AND TIMEPIECE - 特許庁
設計支援装置及び設計支援方法並びにシステム設計支援装置例文帳に追加
DESIGN SUPPORTING DEVICE AND METHOD AND SYSTEM DESIGN SUPPORTING DEVICE - 特許庁
避難経路計算装置、避難経路計算方法および避難時間計算装置例文帳に追加
ESCAPE PATH COMPUTING APPARATUS, ESCAPE PATH COMPUTING METHOD, AND ESCAPE TIME COMPUTING APPARATUS - 特許庁
流体脈動圧計測装置、流体脈動圧計測方法、脈圧計測装置、及び脈圧計測方法例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR MEASURING FLUID PULSATION PRESSURE, AND DEVICE AND METHOD FOR MEASURING PULSE PRESSURE - 特許庁
周波数計測装置、周波数計測方法、速度計測装置及び速度計測方法例文帳に追加
FREQUENCY MEASUREMENT DEVICE, FREQUENCY MEASUREMENT METHOD, SPEED MEASUREMENT DEVICE, AND SPEED MEASUREMENT METHOD - 特許庁
熱量計測方法、熱量計測装置、排液計量方法、及び排液計量装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR HEAT QUANTITY MEASURING AND METHOD AND APPARATUS FOR DRAINAGE AMOUNT MEASURING - 特許庁
放射計、放射計制御装置、計測システム、放射計制御方法および放射計制御プログラム例文帳に追加
RADIOMETER, RADIOMETER CONTROLLER UNIT, MEASURING SYSTEM, RADIOMETER CONTROL METHOD, AND RADIOMETER CONTROL PROGRAM - 特許庁
トルク計測方法、トルク計測装置、トルクセンサ装置例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING TORQUE, TORQUE-MEASURING DEVICE, AND TORQUE SENSOR DEVICE - 特許庁
デジタル制御装置の設計方法および設計装置例文帳に追加
DESIGNING METHOD AND DESIGNING APPARATUS FOR DIGITAL CONTROL DEVICE - 特許庁
半導体装置の設計装置、設計方法及びプログラム例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM - 特許庁
半導体装置、その設計方法及び設計装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DESIGNING METHOD AND DESIGNING APPARATUS THEREOF - 特許庁
半導体装置の設計方法およびその設計支援装置例文帳に追加
DESIGNING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS DESIGN SUPPORT AIDS - 特許庁
地震計設置装置と地震計設置装置の設置方法例文帳に追加
SEISMOMETER-SETTING APPARATUS AND METHOD FOR SETTING SEISMOMETER-SETTING APPARATUS - 特許庁
計測装置、計測方法および電子ビーム照射装置例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT AND ELECTRON BEAM IRRADIATION APPARATUS - 特許庁
半導体装置並びにその設計方法及び設計装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DESIGNING METHOD AND DESIGNING DEVICE THEREFOR - 特許庁
半導体装置の設計方法および設計装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
計時装置および計時装置の制御方法例文帳に追加
CLOCKING DEVICE AND CONTROL METHOD OF CLOCKING DEVICE - 特許庁
半導体装置、その設計方法および設計装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS DESIGN METHOD, AND DESIGN APPARATUS - 特許庁
角度計測装置、撮影装置、及び角度計測方法例文帳に追加
ANGLE-MEASURING APPARATUS AND METHOD, AND PHOTOGRAPHING DEVICE - 特許庁
計装制御方法および計装制御システム例文帳に追加
INSTRUMENTATION CONTROL METHOD AND INSTRUMENTATION CONTROL SYSTEM - 特許庁
半導体装置の設計方法、設計支援装置例文帳に追加
DESIGN METHOD AND DESIGN SUPPORT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体装置の設計装置及び設計方法例文帳に追加
DESIGN DEVICE AND DESIGN METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体装置、基板設計方法、基板設計装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE, SUBSTRATE DESIGN METHOD, AND SUBSTRATE DESIGN APPARATUS - 特許庁
温度計測方法、温度計測装置及び基板処理装置例文帳に追加
TEMPERATURE MEASURING METHOD, TEMPERATURE MEASURING APPARATUS AND SUBSTRATE TREATING APPARATUS - 特許庁
計測装置、液滴吐出装置、および計測方法例文帳に追加
MEASUREMENT APPARATUS, DROPLET DISCHARGE APPARATUS, AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁
計測装置、トリガ信号発生装置及び計測方法例文帳に追加
MEASURING APPARATUS, TRIGGER SIGNAL GENERATING APPARATUS, AND MEASURING METHOD - 特許庁
紙幣計数装置及び紙幣計数装置の制御方法例文帳に追加
PAPER MONEY COUNTING DEVICE AND CONTROL METHOD FOR PAPER MONEY COUNTING DEVICE - 特許庁
計測装置及び処理装置並びに計測処理方法例文帳に追加
MEASURING APPARATUS, PROCESSING, APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT AND PROCESSING - 特許庁
計時装置および計時装置の制御方法例文帳に追加
CLOCKING DEVICE AND CONTROL METHOD THEREFOR - 特許庁
半導体装置の設計検証装置及び設計方法例文帳に追加
APPARATUS FOR VERIFYING DESIGN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND DESIGN METHOD - 特許庁
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