「透過型電顕」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

透過型干渉電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION TYPE INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡装置例文帳に追加

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡例文帳に追加

COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子分光器及びそれを備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加

ELECTRONIC SPECTROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ABOVE - 特許庁

電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRONIC SPECTROSCOPE - 特許庁

二次元電子検出器及び透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TWO-DIMENSIONAL ELECTRON DETECTOR AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子線損傷を低減する透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE WHICH REDUCES ELECTRON BEAM DAMAGE - 特許庁

電子線分光器を備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON BEAM MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM SPECTROMETER - 特許庁

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法例文帳に追加

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用グリッドおよびグリッドホルダー例文帳に追加

GRID AND GRID HOLDER FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

テレビカメラを備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING TELEVISION CAMERA - 特許庁

Ｘ線分光器を備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH X- RAY SPECTROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡及び撮影方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡及びその制御方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡の試料ホルダー例文帳に追加

SAMPLE HOLDER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁

透過型電子顕微鏡の撮影装置例文帳に追加

PHOTOGRAPHING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡で用いられる検出器システム例文帳に追加

DETECTOR SYSTEM FOR USE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡のアライメント装置例文帳に追加

ALIGNMENT DEVICE OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具例文帳に追加

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG - 特許庁

エネルギーフィルタを備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER - 特許庁

透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用の検出器システム例文帳に追加

DETECTOR SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作成方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME - 特許庁

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用の試料製造方法例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡による観察方法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の調製方法例文帳に追加

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法例文帳に追加

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用収差補正器例文帳に追加

ABERRATION CORRECTOR FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法例文帳に追加

PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法例文帳に追加

METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN - 特許庁

透過型電子顕微鏡及び立体観察法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法例文帳に追加

MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドに関する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscopy grid. - 特許庁

電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡例文帳に追加

METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の試料を位置決めするための電動マニピュレーター例文帳に追加

ELECTRIC MANIPULATOR FOR POSITIONING SPECIMEN ON TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡例文帳に追加

SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁