「Atomic Force Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡 - 特許庁

CONTACT TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

接触式原子間力顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用カンチレバー - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND PROBE例文帳に追加

原子間力顕微鏡及びプローブ - 特許庁

NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

非接触型原子間力顕微鏡 - 特許庁

HIGH-BANDWIDTH ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

高帯域原子間力顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING MECHANISM AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査機構および原子間力顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡における試料観察方法および原子間力顕微鏡 - 特許庁

PROBE UNIT AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブユニットおよび原子間力顕微鏡 - 特許庁

PROBE USED IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡、トンネル顕微鏡に用いる探針 - 特許庁

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁

NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND STATIC ELECTRICITY MICROSCOPE例文帳に追加

非接触原子間力顕微鏡、磁気力顕微鏡、および静電気力顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER WITH FORCE AZIMUTH SENSOR FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用力方位センサ付カンチレバー - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

SAMPLE TABLE DRIVING DEVICE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台駆動装置 - 特許庁

FINE PROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR DETECTING NORMAL FORCE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡のための垂直力検出用カンチレバー - 特許庁

QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPIC METHOD, AND QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡 - 特許庁

SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法 - 特許庁

CANTILEVER WITH HIGH PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用背高探針付き片持ちレバー - 特許庁

MICROWAVE WAVEGUIDE PROBE OF MICROWAVE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

マイクロ波原子間力顕微鏡のマイクロ波導波プローブ - 特許庁

MEASURING METHOD FOR CLUSTER SIZE OF WATER BY INTER ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間顕微鏡による水のクラスタ—サイズ測定方法 - 特許庁

VERTICAL SECTION MACHINING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた垂直断面加工方法 - 特許庁

METHOD FOR MODIFYING PHOTOMASK USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使用したフォトマスク修正方法 - 特許庁

DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT例文帳に追加

デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法 - 特許庁

The microscope system 1 is provided with an atomic force microscope 10 and the optical microscope 20.例文帳に追加

顕微鏡装置１は、原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０を備える。 - 特許庁

WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE FINE WORKING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いた加工方法 - 特許庁

WORKING DEVICE AND WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁

SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING PARTICLE OF PHOTOMASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたフォトマスクのパーティクル除去方法 - 特許庁

An atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 are attached to a microscope coupling member 40.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０は、顕微鏡連結部材４０に取り付けられる。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING APPARATUS BY SCANNING PROBE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、および原子間力顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF OPERATING ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH REDUCED IMPACT FORCE IN TAPPING MODE例文帳に追加

タッピングモードにおける衝撃力を低減化した原子間力顕微鏡の操作方法 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE EXCELLENT IN HEIGHT CONTROLLABILITY例文帳に追加

高さ制御性に優れた原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

An atomic force microscope is equipped with an AFM scanner and a sample mounting stand.例文帳に追加

原子間力顕微鏡は、ＡＦＭスキャナおよび試料載置台を備える。 - 特許庁

The probe scanning apparatus 1 has an atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 integrally.例文帳に追加

プローブ走査装置１は、原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０を一体的に備える。 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF POLYMERIC MATERIAL AT HIGH TEMPERATURE STATE例文帳に追加

高温状態における高分子材料の原子間力顕微鏡観察方法 - 特許庁

TUNING FORK TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE, ITS ADJUSTING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

音叉型原子間力顕微鏡プローブ、その調整方法及び製造方法 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING MASK EXCESS DEFECT BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたマスク余剰欠陥除去方法 - 特許庁

NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OPERATION PROGRAM THEREOF例文帳に追加

非接触原子間力顕微鏡及び非接触原子間力顕微鏡の動作プログラム - 特許庁