Chargedを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 17593件
COLUMN FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置用カラム - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATOR例文帳に追加
荷電粒子線照射装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画装置。 - 特許庁
CHARGED PARTICLE CONTROL METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加
荷電粒子制御装置及び方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子ビーム露光装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム露光装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM SCANNING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線走査装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子線応用装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁
CONCRETE CHARGED STEEL PIPE PILLAR例文帳に追加
コンクリート充填鋼管柱 - 特許庁
CHARGED PARTICLE ACCELERATOR CONTROL SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子加速器用制御システム - 特許庁
SAMPLE TABLE FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線装置用試料台 - 特許庁
CHARGED MIST DEPOSIT PREVENTING MEANS例文帳に追加
帯電噴霧付着防止手段 - 特許庁
SHUTTER DEVICE OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
荷電粒子線のシャッタ装置 - 特許庁
COIL FOR CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子線光学機器用コイル - 特許庁
SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
走査型荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子線露光装置 - 特許庁
"The valves are not sufficiently charged!" 例文帳に追加
「バルブが充分じゃないじゃないか！」 - JULES VERNE『80日間世界一周』
ELECTROSTATIC CONVEYANCE METHOD FOR ELECTROSTATICALLY CHARGED TONER AND ELECTROSTATIC CONVEYANCE DEVICE FOR ELECTROSTATICALLY CHARGED TONER例文帳に追加
帯電トナーの静電搬送方法及び帯電トナーの静電搬送装置 - 特許庁
BINDER FOR ELECTROSTATICALLY CHARGED IMAGE DEVELOPING TONER AND THE ELECTROSTATICALLY CHARGED IMAGE DEVELOPING TONER例文帳に追加
静電荷像現像トナー用バインダー及び静電荷像現像トナー - 特許庁
REVERSELY CHARGED TONER SEPARATING DEVICE AND REVERSELY CHARGED TONER SEPARATING METHOD例文帳に追加
逆帯電トナー分別装置及び逆帯電トナー分別方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE FIXING DEVICE, CHARGED PARTICLE FIXING METHOD AND MICROARRAY例文帳に追加
荷電粒子固定装置、荷電粒子固定方法及びマイクロアレイ - 特許庁
CHARGED SPACER SPRAYER, CHARGED SPACER SPRAY METHOD AND LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加
帯電スペーサの散布装置、帯電スペーサの散布方法、及び液晶パネル - 特許庁
CHARGED AMOUNT MEASURING DEVICE OF TONER AND CHARGED AMOUNT MEASURING METHOD例文帳に追加
トナーの帯電量測定装置及び帯電量測定方法 - 特許庁
CHARGED PARTICULATE SAMPLING DEVICE, AND CHARGED AMOUNT DISTRIBUTION MEASURING DEVICE例文帳に追加
帯電微粒子サンプリング装置および帯電量分布測定装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム照射システムおよび荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁
CHARGED BEAM WRITING APPARATUS AND METHOD OF CORRECTING ASTIGMATISM OF CHARGED BEAM例文帳に追加
荷電ビーム描画装置及び荷電ビームの非点収差補正方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL ELEMENT AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム制御素子および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム露光方法及び荷電粒子ビーム露光装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM ORBIT CORRECTING UNIT AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム用軌道補正器、及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
DEFLECTION MECHANISM OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビームの偏向機構及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線照射装置、及び荷電粒子線照射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM ACCELERATING DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM ACCELERATOR例文帳に追加
荷電粒子ビーム加速装置および荷電粒子ビーム加速器 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム照射方法及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY APPARATUS AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION APPARATUS AND CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム出射装置及び荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM PROCESSING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム加工方法及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE METHOD例文帳に追加
荷電粒子線露光装置及び荷電粒子線露光方法 - 特許庁
METHOD OF SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビームの走査方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION CONTROL DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線照射制御装置及び荷電粒子線照射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線顕微方法及び荷電粒子線応用装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND IRRADIATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビームの照射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD USING CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画装置を用いた荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM OBSERVATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム観察方法 - 特許庁
MULTI-CHARGED BEAM LENS AND CHARGED BEAM EXPOSURE DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
マルチ荷電ビームレンズおよびそれを用いた荷電ビーム露光装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM-DRAWING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM-DRAWING APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁
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原題：”Around the World in 80 Days[Junior Edition]” 邦題：『80日間世界一周』 | This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide. SOGO_e-text_library責任編集。Copyright(C)2000-2001 by SOGO_e-text_library この版権表示を残すかぎりにおいて、商業利用を含む複製・再配布が自由に認められる。 プロジェクト杉田玄白正式参加テキスト。 SOGO_e-text_library(http://www.e-freetext.net/) |
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