「Charged」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

FOR CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加

荷電粒子線描画装置および荷電粒子線描画方法 - 特許庁

A charged particle beam transfer system is provided with a lighting optical system containing a charged particle beam source 1.例文帳に追加

本装置は、荷電粒子線源１を含む照明光学系を具備する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND ENERGY CORRECTION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子線装置および荷電粒子線のエネルギー補正方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CHARGED-PARTICLE BEAM WRITINGCHARGED-PARTICLE BEAM WRITING DEVICE AND CHARGED-PARTICLE BEAM WRITING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁

FOCUS ADJUSTING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND THE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

荷電粒子線装置の焦点調整方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

CHARGED BATTERY FOR LAMP AND MOUNTING STRUCTURE OF CHARGED BATTERY FOR LAMP例文帳に追加

ランプ用充電池およびランプ用充電池の取付構造 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM INSTRUMENT AND METHOD OF DETECTING CHARGED PARTICLES例文帳に追加

荷電粒子ビーム器具および荷電粒子を検出する方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE, DISPLAY DEVICE, DISPLAY MEDIUM AND PRODUCTION OF CHARGED PARTICLES例文帳に追加

帯電粒子、表示素子、表示媒体及び帯電粒子の製造方法 - 特許庁

CHARGED BEAM DEVICE, AND IMAGE DISPLAY METHOD OF CHARGED BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電ビーム装置、及び荷電ビーム装置の画像表示方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF CHARGED PARTICLE, CHARGED PARTICLE AND ELECTROPHORETIC DISPLAY PANEL例文帳に追加

帯電粒子の製造方法、帯電粒子及び電気泳動表示パネル - 特許庁

CHARGED STATE DISPLAY AND METHOD FOR DISPLAYING CHARGED STATE例文帳に追加

充電状態表示装置及び充電状態の表示方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM IMAGE GENERATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置および荷電粒子線像生成方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE LITHOGRAPHY METHOD AND CHARGED PARTICLE LITHOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE-BEAM DRAWING DEVICE AND CHARGED- PARTICLE-BEAM DRAWING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビ—ム描画装置および荷電粒子ビ—ム描画方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DRAWER AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線描画装置および荷電粒子線描画方法 - 特許庁

To provide a charged particulate sampling device for suppressing variation in charged amount of charged particulates in a sampling process of introducing the charged particulates into a measuring device for measuring the charged state of the particulates.例文帳に追加

微粒子の帯電状態を測定する測定装置に帯電微粒子を導入するサンプリング過程において帯電微粒子の帯電量が変化することを抑える帯電微粒子サンプリング装置を提供する。 - 特許庁

The charged particle irradiator 1 is equipped with a charged particle induction means 106 which transports a charged particle beam and a charged particle irradiation means 109 which shapes and applies the transported charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子照射装置１は、荷電粒子ビームを輸送する荷電粒子誘導手段１０６と、輸送されてきた荷電粒子ビームを整形して照射する荷電粒子照射手段１０９とを備えている。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL ELEMENT FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SADDLE- TYPE COIL FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, OPTICAL ELEMENT FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SADDLE-TYPE COIL FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用光学素子の製造方法、荷電粒子線装置用サドル型コイルの製造方法、荷電粒子線装置用光学素子、荷電粒子線装置用サドル型コイル、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

To provide a charged member superior in charging uniformity as the charged member contacted on a body to be charged via charged acceleration particles for accelerating charge of the body to be charged and without producing hardness increase or the like, even if it is used over a long period.例文帳に追加

被帯電体の帯電を促進させるための帯電促進粒子を介して被帯電体と当接する帯電部材として、帯電均一性に優れ、且つ長期間使用しても硬度上昇などの問題を生じないものを提供する。 - 特許庁

To provide a charged quantity distribution measuring device and a charged quantity distribution measuring method, capable of sampling a charged particulate without disturbing an air current of a charged quantity distribution measuring part, in charged quantity distribution measurement of a gravitational precipitation type.例文帳に追加

重力沈降型の帯電量分布測定において、帯電量分布測定部の気流を乱すことなく帯電微粒子をサンプリングすることが可能な帯電量分布測定装置および帯電量分布測定方法を提供する。 - 特許庁

When a charging current becomes lower than a value not higher than a predetermined fully charged current value, a fully charged detection unit 6 decides that a fully charged state is achieved and supplies a fully charged information signal to the fully charged control unit 21 of a load circuit 20.例文帳に追加

充電電流が予め設定した満充電電流値以下になると、満充電検出部６は満充電と判定し負荷回路２０の満充電制御部２１に満充電情報を送出する。 - 特許庁

Consequently, the flying regular charged toner does not tap out weakly charged toner and reversely charged toner.例文帳に追加

このため，飛翔した正規帯電トナーが弱帯電トナー及び逆帯電トナーをたたき出すおそれがない。 - 特許庁

The particulate sampling part 200 introduces the charged particulate into the charged quantity distribution measuring part 100 while collecting the charged particulate.例文帳に追加

また、微粒子サンプリング部２００は、帯電微粒子を集めつつ帯電量分布測定部１００に導入する。 - 特許庁

The normally-charged toner caused to fly therefore hardly flicks the low-charged toner and the oppositely-charged toner.例文帳に追加

このため，飛翔した正規帯電トナーが低帯電トナー及び逆帯電トナーをたたき出すおそれがなくなる。 - 特許庁

A charged particle detector 124 detects the selected secondary charged particles and tertiary charged particles by the impingement of them.例文帳に追加

荷電粒子検出器１２４は、選択された二次荷電粒子及び三次荷電粒子をその衝突により検出する。 - 特許庁

CHARGED BEAM DRAWING DATA CREATING METHOD, CHARGED BEAM DRAWING METHOD, AND PROGRAM OF CREATING CHARGED BEAM DRAWING DATA例文帳に追加

荷電ビーム描画データ作成方法と荷電ビーム描画方法及び荷電ビーム描画データ作成用プログラム - 特許庁

To make the particle diameter of charged liquid fine particles more fine and to control the occurrence of charged ions and charged liquid fine particles.例文帳に追加

帯電液体微粒子の粒子径のさらなる微細化を図り、かつ帯電イオンならびに帯電液体微粒子の発生を制御することを課題とする。 - 特許庁

SCANNING WIDTH CALIBRATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, MICROSCOPIC DEVICE USING CHARGED PARTICLE BEAM, AND SAMPLE FOR CHARGED PARTICLE BEAM CALIBRATION例文帳に追加

荷電粒子ビームの走査幅校正方法及び荷電粒子ビームを用いた顕微装置並びに荷電粒子ビーム校正用試料 - 特許庁

In a duplex mode, an image adjusting device 73 is usable and a 1st toner image (negatively charged) is charged to an opposite polarity (positively charged).例文帳に追加

両面印刷操作の場合は、画像調整装置７３は使用可能で、第１のトナー画像（負帯電）を反対の極性（正帯電）に帯電させる。 - 特許庁

METHOD OF DESIGNING CHARGED PARTICLE BEAM MASK, DESIGN DATA STRUCTURE, CHARGED PARTICLE BEAM MASK AND CHARGED PARTICLE BEAM TRANSFER METHOD例文帳に追加

荷電粒子線マスクの設計方法及び設計データ構造、荷電粒子線マスク、並びに荷電粒子線転写方法。 - 特許庁

METHOD OF CREATING CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING DATA, METHOD OF CONVERTING CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING DATA, AND METHOD OF DRAWING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子線描画データの作成方法、荷電粒子線描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法 - 特許庁

SERVICE RESERVATION SYSTEM, CHARGED AMOUNT REGISTERING DEVICE, CHARGED AMOUNT REGISTERING METHOD, AND CHARGED AMOUNT REGISTRATION PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

サービス予約システム、請求金額登録装置、請求金額登録方法及び請求金額登録処理プログラム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD, POSITION DETECTING METHOD FOR REFERENCE MARK FOR CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING, AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画方法、荷電粒子ビーム描画用の基準マークの位置検出方法及び荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

STANDARD SAMPLE TO BE USED FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING STANDARD SAMPLE TO BE USED FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置に用いられる標準試料，荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置に用いられる標準試料の製造方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING CHARGED PARTICLE MOVING TYPE DISPLAY PANEL, CHARGED PARTICLE MOVING TYPE DISPLAY PANEL, AND CHARGED PARTICLE MOVING TYPE DISPLAY例文帳に追加

帯電粒子移動型表示パネルの製造方法、帯電粒子移動型表示パネル及び帯電粒子移動型表示装置 - 特許庁

EMITTING METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM, OBSERVATION METHOD USING CHARGED PARTICLE BEAM, AND OBSERVATION DEVICE USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビームの照射方法及び荷電粒子ビームを用いた観察方法並びに荷電粒子ビームを用いた観察装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEFECT CHECKING DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CHARGED PARTICLE MIGRATION TYPE DISPLAY PANEL, CHARGED PARTICLE MIGRATION TYPE DISPLAY PANEL, AND CHARGED PARTICLE MIGRATION TYPE DISPLAY DEVICE例文帳に追加

帯電粒子移動型表示パネルの製造方法、帯電粒子移動型表示パネル及び帯電粒子移動型表示装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE DETECTOR, METHOD OF FABRICATION OF CHARGED PARTICLE DETECTOR AND DETECTION APPARATUS EQUIPPED WITH CHARGED PARTICLE DETECTOR例文帳に追加

荷電粒子検出器および荷電粒子検出器の作製方法ならびに荷電粒子検出器を備えた検知装置 - 特許庁

The charged quantity distribution measuring part 100 measures a distribution characteristic of a charged quantity of the introduced charged corpuscle.例文帳に追加

帯電量分布測定部１００は、導入された帯電微粒子の帯電量の分布特性を測定する。 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE-BEAM CONTROL DEVICE, CHARGED-PARTICLE- BEAM OPTICAL DEVICE USING IT, AND CHARGED-PARTICLE-BEAM DEFECTION INSPECTING DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING MAIN DEFLECTION SETTLING TIME OF CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING, CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画の主偏向セトリング時間の決定方法、荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

A charged particle beam application device includes a charged particle beam device and a transfer path for connecting an image processing device to the charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線応用装置は、荷電粒子線装置と画像処理装置を接続する転送路と、を有する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD, AND METHOD OF CORRECTING ASTIGMATISM OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビームの非点補正方法 - 特許庁