「Con Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The T-CON circuit 12 has a test video signal storage unit 12a stored with a test video signal.例文帳に追加

Ｔ−ＣＯＮ回路１２は、テスト映像信号が記憶されたテスト映像信号記憶部１２ａを有する。 - 特許庁

This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.例文帳に追加

試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁

In this state, the T-CON circuit 12 determines that an instruction to display test video is received from the main circuit 11, generates the timing signal based on the test video signal stored in the test video signal storage unit 12a, and sends it out to a liquid crystal display unit.例文帳に追加

この状態のとき、Ｔ−ＣＯＮ回路１２は、メイン回路１１からテスト映像を表示する旨の指示を受けたと判断し、テスト映像信号記憶部１２ａに記憶されたテスト映像信号に基づいてタイミング信号を生成し、液晶ディスプレイ部に送出する。 - 特許庁

A timing deviation is retrained from being generated in a transfer of an FF data between respective output clocks COn, and execution of the test such as a scan test is facilitated, when the LSI operated by the clocks of the plural different frequencies is tested, by generating the output clocks COn of n-pieces in which the selection clocks SC are synchronized with the input clock CI.例文帳に追加

同期化手段１０３において、選択クロックＳＣを入力クロックＣＩにて同期させたｎ個の出力クロックＣＯｎを生成することにより、複数の異なる周波数のクロックで動作するＬＳＩの試験時において、各出力クロックＣＯｎ間でのＦＦのデータの受け渡しでタイミング違反が発生することを抑制することができ、スキャン試験等の試験の実施を容易にすることができる。 - 特許庁