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Covering graphの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
In actually manufacturing semiconductor devices as real products, the residual film thickness of the covering film at an arbitrary point can be decided using the graph showing the relation.例文帳に追加
実際に製品として半導体装置を作製する際は、この関係グラフを用いて、任意点における被覆膜の残存膜厚を判定する。 - 特許庁
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