「Electron Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRON MICROSCOPE AND TESTPIECE CHAMBER FITTED WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡、及びそれに取り付けられる電子顕微鏡用試料室 - 特許庁

VACUUM CONTAINER AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

真空容器および電子顕微鏡 - 特許庁

REMOTE OPERATING SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡遠隔操作システム - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE STAGE例文帳に追加

電子顕微鏡および試料ステージ - 特許庁

APPARATUS FOR SIGHT COMPENSATION OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の視野補正装置 - 特許庁

RAPID SUCCESSIVE SHOOTING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

高速連続撮影電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING CIRCUIT FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の走査回路 - 特許庁

MAGNETIC FIELD APPLYING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の磁場印加装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料ホルダ - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギフィルタを備えた電子顕微鏡 - 特許庁

And under the scanning electron microscope例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を使うと - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIANCE LEVEL DISPLAY DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の電子線照射量表示装置 - 特許庁

REFLECTION ELECTRON DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の反射電子検出装置 - 特許庁

FOCUSING SYSTEM OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のフォーカス合わせ装置 - 特許庁

WAFER HOLDER AND ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

ウエハホルダおよび電子顕微鏡装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDING MEMBER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料保持部材 - 特許庁

DIFFERENTIAL PUMPING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

差動排気走査形電子顕微鏡 - 特許庁

PRE-CRYOGENIC ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN HOLDER例文帳に追加

電子顕微鏡の予冷型試料台 - 特許庁

PROTECTIVE MATERIAL FOR SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡試料保護材料 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁

PHASE PLATE LENS SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の位相板用レンズシステム、および透過電子顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF DATA PROCESSING OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

差分コントラスト電子顕微鏡および電子顕微鏡像のデータ処理方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 - 特許庁

REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の遠隔操作装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND REMOTE CONTROL DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡と遠隔操作装置 - 特許庁

VACUUM EXHAUSTION DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の真空排気装置 - 特許庁

OBJECTIVE LENS SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

対物レンズ系及び電子顕微鏡 - 特許庁

SHUTTER MECHANISM OF ANALYTIC ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析電子顕微鏡のシャッタ機構 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用画像処理装置 - 特許庁

FILAMENT ASSEMBLY FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

電子顕微鏡等のフィラメントアセンブリ - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMETER例文帳に追加

モノクロメータ付走査形電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE MOVING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料移動装置 - 特許庁

SAMPLE REPLACEMENT MECHANISM OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料交換機構 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用画像表示装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡像観察装置 - 特許庁

SAMPLE HEATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料加熱装置 - 特許庁

OBSERVING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用観察装置 - 特許庁

ANALYZING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における分析方法 - 特許庁

RETRIEVAL METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

電子顕微鏡画像の検索方法 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁