Electron Microscopeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1821件
ELECTRON MICROSCOPE AND FLAW SHAPE CONFIRMING METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡および欠陥形状確認方法 - 特許庁
FUNCTION FOR REGULATING AUTOMATICALLY IMAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加
電子顕微鏡等の自動画像調整機能 - 特許庁
To provide a monochromator used for an electron microscope.例文帳に追加
電子顕微鏡使用のためのモノクロメータに関する。 - 特許庁
GRID AND GRID HOLDER FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用グリッドおよびグリッドホルダー - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SEMICONDUCTOR INSPECTING SYSTEM例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及び半導体検査システム - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用の試料製造方法 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁
MONOCHROMATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMATOR例文帳に追加
モノクロメータ及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁
METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUS POSITION CONTROL METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡及びその焦点位置制御方法 - 特許庁
COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR CHEMICAL ANALYSIS例文帳に追加
化学分析用複合放出電子顕微鏡装置 - 特許庁
VACUUM DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE CELL例文帳に追加
電子顕微鏡試料室の真空度表示装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE FOR DIMENSION CALIBRATION例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び寸法校正用試料 - 特許庁
CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH ANNULAR ILLUMINATING APERTURE例文帳に追加
環状の照明開口を備える電子顕微鏡 - 特許庁
It is better than even 300 million n electron microscope. n例文帳に追加
3億 相当のn電子顕微鏡にも勝るって。n - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
The electron microscope carries out Fourier synthesis automatically. 例文帳に追加
電子顕微鏡は、フーリエ合成を自動的に行う。 - 科学技術論文動詞集
VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁
ELECTRON SOURCE HAVING CARBON NANOTUBE, ELECTRON MICROSCOPE USING IT, AND ELECTRON BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加
カーボンナノチューブを有する電子源とそれを用いた電子顕微鏡および電子線描画装置 - 特許庁
OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER例文帳に追加
エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁
METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加
走査型電子顕微鏡および該装置の制御方法 - 特許庁
CRYSTAL ORIENTATION IDENTIFICATION SYSTEM AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
結晶方位同定システム及び透過電子顕微鏡 - 特許庁
PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSING SYSTEM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加
画像処理システム、及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING PERMANENT MAGNETIC LENS例文帳に追加
永久磁石レンズを使用した走査電子顕微鏡 - 特許庁
PHASE PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡用位相板及びその製造方法 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING SCAN IMAGE OBSERVATION FUNCTION例文帳に追加
走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡 - 特許庁
SPACER FOR NANO-IMPRINTING, PREPARATION METHOD OF SPECIMEN FOR CONDITIONING ELECTRON-MICROSCOPE USING IT, SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE CONDITIONING AND ELECTRON-MICROSCOPE PROVIDED WITH IT例文帳に追加
ナノインプリント用スペーサ、及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料の製造方法、並びに電子顕微鏡調整用試料、及びこれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
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