「Electron Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

TWO-DIMENSIONAL ELECTRON DETECTOR AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

二次元電子検出器及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子線照射装置及び走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON BEAM MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM SPECTROMETER例文帳に追加

電子線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE WHICH REDUCES ELECTRON BEAM DAMAGE例文帳に追加

電子線損傷を低減する透過型電子顕微鏡 - 特許庁

CROSS-SECTION OBSERVATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

断面観察用走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法 - 特許庁

SAMPLE COOLING HOLDER OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料冷却ホルダー - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND BRAKE MECHANISM例文帳に追加

電子顕微鏡装置およびブレーキ機構 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND COMPUTER READABLE RECORD MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

HYSTERESIS CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のヒステリシス補正方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, MICRO VESSEL FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料作製方法、電子顕微鏡観察用微小容器及び電子顕微鏡観察方法。 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

SAMPLE FOR RESOLUTION EVALUATION OF ELECTRON MICROSCOPE, RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の分解能評価用試料及び電子顕微鏡の分解能評価方法並びに電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁

SAMPLE COATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料コーティング方法 - 特許庁

X-RAY DETECTOR FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用Ｘ線検出器 - 特許庁

ABERRATION CORRECTING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

収差補正装置及び電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE COOLING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料冷却ホルダ - 特許庁

BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ビームセパレータ及び反射電子顕微鏡 - 特許庁

BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ビームセパレータおよび反射電子顕微鏡 - 特許庁

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SIMILAR DEVICE例文帳に追加

走査電子顕微鏡および類似装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料ホルダー - 特許庁

SAMPLE COOLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料冷却装置 - 特許庁

PHOTOGRAPHING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の撮影装置 - 特許庁

ANALYZER AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析装置および透過電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING ELECTRON MICROSCOPE, AND STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の校正方法及び電子顕微鏡校正用標準試料 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH FUNCTION OF X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡の機能を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁

DEFECTIVE REVIEWING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

欠陥レビュー装置および電子顕微鏡 - 特許庁

DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)例文帳に追加

ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁

MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM FOR ILLUMINATION例文帳に追加

照射用電子線を有する顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRONIC SPECTROMETER例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の像表示方法 - 特許庁

IMAGING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

透過電子顕微鏡像の撮像装置 - 特許庁

DISTORTION CORRECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の歪み補正装置 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡による分析方法 - 特許庁

ALIGNMENT DEVICE OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡のアライメント装置 - 特許庁

PATTERN MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン測定方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

MAGNETIC FIELD OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用磁界型対物レンズ - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の対物レンズ - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の校正方法 - 特許庁