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For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
METHOD FOR TESTING OPTICAL INFORMATION MEDIUM例文帳に追加
光情報媒体の試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR OPTICALLY TESTING WEATHERABILITY例文帳に追加
耐候光試験装置及び方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR REFRIGERANT RECOVERING DEVICE例文帳に追加
冷媒回収装置の試験装置 - 特許庁
FATIGUE TESTING INSTRUMENT AND FATIGUE TESTING METHOD FOR RING FOR ENDLESS METAL BELT例文帳に追加
無端金属ベルト用リングの疲労試験装置および疲労試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR CONNECTING STRUCTURE OF SECONDARY CELL, AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
二次電池用連接構造体の検査装置およびその検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SINTERED BODY, FLAW INSPECTION METHOD FOR SPECIMEN AND TESTING MACHINE例文帳に追加
焼結体の試験方法、供試体の欠陥検査方法、試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING POLLEN ADHESION-PREVENTING PERFORMANCE AND METHOD FOR TESTING POLLEN-RELEASING PERFORMANCE例文帳に追加
花粉付着防止性能および花粉脱落性能の試験方法 - 特許庁
CLOSING APPARATUS FOR TESTING PIPING WITHSTAND PRESSURE, AND TOOL FOR TESTING PIPING WITHSTAND PRESSURE例文帳に追加
配管耐圧試験用閉止装置および配管耐圧試験用治具 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING BRAKE VALVE FOR ROLLING STOCK例文帳に追加
鉄道車両用ブレーキ弁の試験装置 - 特許庁
PATTERN GENERATOR FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置のパターン発生装置 - 特許庁
INDIVIDUAL ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE, INDIVIDUAL ENVIRONMENTAL TESTING METHOD AND MODULE TESTING DEVICE FOR OPTICAL TRANSMISSION例文帳に追加
個別環境試験装置、個別環境試験方法および光伝送用モジュール試験装置 - 特許庁
MOUNT TESTING APPARATUS FOR TESTING APPROPRIATE DESIGN OF LAND PATTERN, AND ITS MOUNT TESTING METHOD例文帳に追加
ランドパターンの設計の適否を試験する実装試験装置及びその実装試験方法 - 特許庁
STANDARD WAFER FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体検査用標準ウエハ、半導体の検査方法および半導体検査装置 - 特許庁
FRICTION AND WEAR TESTING MACHINE FOR ARTIFICIAL JOINT例文帳に追加
人工関節摩擦摩耗試験機 - 特許庁
BREAKAGE TESTING MACHINE FOR SHEET-LIKE ARTICLE例文帳に追加
シート状物品の折れ試験装置 - 特許庁
STABLE PATCH CORD FOR LAN TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
LAN試験機器用の安定パッチコード - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路テスト方法 - 特許庁
TEMPERATURE REGULATOR FOR GENETIC TESTING例文帳に追加
遺伝子検査用温度調節装置 - 特許庁
SIMULATION TESTING DEVICE FOR SNOWMELT WATER FLOW例文帳に追加
融雪水流水模擬試験装置 - 特許庁
EMERGENCY STAIRS FOR OSCILLATION TESTING DEVICE例文帳に追加
動揺試験装置用非常階段 - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR FEMORAL PROSTHESIS例文帳に追加
大腿部人工器官用試験システム - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING WIRELESS SYSTEM例文帳に追加
無線系試験システムとその方法 - 特許庁
COOLING SYSTEM FOR LSI TESTING DEVICE例文帳に追加
LSI試験装置の冷却システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置および方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC DISCHARGE RESISTANCE例文帳に追加
静電気放電耐性試験方法 - 特許庁
CRACK TESTING METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加
空気入りタイヤのクラック試験方法 - 特許庁
LIGHT SOURCE FOR TESTING SOLID-STATE IMAGE SENSOR例文帳に追加
固体撮像素子検査用光源 - 特許庁
ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE FOR FUEL CELL例文帳に追加
燃料電池の環境試験装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ABNORMALITIES例文帳に追加
異常検査方法及びその装置 - 特許庁
KIT FOR IMMUNO-CHROMATOGRAPHY, AND TESTING VESSEL例文帳に追加
イムノクロマトグラフィー用キット、試験容器 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェーハの温度試験装置 - 特許庁
CHARACTERISTIC TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の特性試験回路 - 特許庁
SOFTWARE TESTING METHOD FOR SOFTWARE SYSTEM例文帳に追加
ソフトウェアシステムのソフトウェア試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR NONCONTACT IC CARD例文帳に追加
非接触ICカード用試験装置 - 特許庁
LOAD TESTING METHOD FOR PILED RAFT FOUNDATION例文帳に追加
パイルド・ラフト基礎の載荷試験方法 - 特許庁
STROKE CONTROLLER FOR TENSILE-TESTING MACHINE例文帳に追加
引張試験機のストローク制御装置 - 特許庁
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