「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE FOR VERIFICATION-TESTING OF TUBE WELDING QUALITY例文帳に追加

チューブ溶接品質確認試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR DRAWING OF SHEET-LIKE ARTICLE例文帳に追加

シート状物の延伸用試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR SAFETY PROTECTION MEASURING DEVICE例文帳に追加

安全保護計測装置の試験装置 - 特許庁

TEST PIECE GRASPING DEVICE FOR MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機用試験片つかみ具 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM DEVICE例文帳に追加

動力伝達系機器用試験装置 - 特許庁

ALARM DISPLAY DEVICE FOR IC TESTING DEVICE例文帳に追加

ＩＣ試験装置の警報表示装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PERIPHERAL DEVICE例文帳に追加

周辺デバイス試験システム及び方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT COMPONENT例文帳に追加

回路部品の試験装置および方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING COMPATIBILITY OF INK-JET PRINTER例文帳に追加

インクジェットプリンタの互換性検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PASSING GAS WHEN CLOSING GOVERNOR例文帳に追加

整圧器閉切り時の越しガス検査方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING WIRE BOND例文帳に追加

ワイヤ接合の検査方法および装置 - 特許庁

IMPACT COMPRESSION TESTING DEVICE FOR CERAMICS例文帳に追加

セラミックス用衝撃圧縮試験装置 - 特許庁

PIPING FOR HEAT MEDIUM AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

熱媒体用配管及び試験装置 - 特許庁

COOLING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の冷却装置 - 特許庁

FATIGUE TESTING MACHINE FOR MICRO/NANO MATERIAL例文帳に追加

マイクロ・ナノ材料用疲労試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置及び試験方法 - 特許庁

ELECTRIC TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気的検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING IC CARD例文帳に追加

ＩＣカードの試験方法および装置 - 特許庁

ENDURANCE TESTING MACHINE FOR TRACTION TRANSMISSION MEMBER例文帳に追加

トラクション伝達部材の耐久試験機 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR PROJECTION WELDING例文帳に追加

プロジェクション溶接の非破壊検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR FILTRATION TESTING例文帳に追加

濾過試験装置、及び、濾過試験方法 - 特許庁

DUCT CONNECTING STRUCTURE FOR IC TESTING APPARATUS例文帳に追加

ＩＣ試験装置のダクト接続構造 - 特許庁

TESTING METHOD OF TV CAMERA FOR ROAD MONITORING例文帳に追加

道路監視用テレビカメラの試験方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING CONTACTLESS ELECTRICAL CONNECTION例文帳に追加

非接触電気的接続部テスト装置 - 特許庁

ARRANGEMENT AND METHOD FOR TESTING ELEMENT例文帳に追加

素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリ試験装置及びメモリ試験方法 - 特許庁

ALL-POINT TESTING APPARATUS FOR OPERATION DISPLAY SCREEN例文帳に追加

運行表示画面全点試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING PIPE LEAKAGE例文帳に追加

配管漏洩検査装置及び方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体ウエハ及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING APOPTOSIS CONTROL ABILITY例文帳に追加

アポトーシス制御能力の検定方法 - 特許庁

FIXING MECHANISM FOR TESTING DEVICE OF VIBRATION CONTROL DEVICE例文帳に追加

防振器の試験装置用固定機構 - 特許庁

LEAK TESTER AND LEAK TESTING METHOD FOR ALUMINUM WHEEL例文帳に追加

アルミホイールリークテスト方法および装置 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING VEHICLE SYSTEM例文帳に追加

車両システム試験装置、及び方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR VEHICULAR PARTS AND ENGINE例文帳に追加

車両部品及びエンジンの試験装置 - 特許庁

COMPLIANCE TESTING DEVICE FOR AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車の法令適合性検査装置 - 特許庁

APPARATUS FOR ISOLATING OR TESTING PIPE SEGMENT例文帳に追加

パイプ・セグメントを分離し試験する装置 - 特許庁

FATIGUE TESTING FIXTURE FOR MICRO TEST PIECE例文帳に追加

超小型試験片用疲労試験治具 - 特許庁

TEST CHAMBER FOR ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

電子機器用テスト・チャンバ及び方法 - 特許庁

BALANCE TESTING METHOD AND DEVICE FOR ELEVATOR例文帳に追加

エレベータの秤試験方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL CABLE例文帳に追加

光ケーブルの試験方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING LIGHT FASTNESS例文帳に追加

耐光性試験方法及び試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR PLANT MONITOR CONTROL SYSTEM例文帳に追加

プラント監視制御システムの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING IC CARD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＩＣカードの試験方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING AND INSPECTING VALVE例文帳に追加

バルブの試験・検査方法とその装置 - 特許庁