| 意味 | 例文 |
For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING LIPID METABOLISM IMPROVING AGENT例文帳に追加
脂質代謝改善剤の試験方法 - 特許庁
ELECTRODE APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト用電極装置 - 特許庁
OPERATING DEVICE FOR TESTING TORQUE WRENCH例文帳に追加
トルクレンチを検査するための操作装置 - 特許庁
Nitric acid is used for testing gold. 例文帳に追加
黄金を試すには硝酸を用いる - 斎藤和英大辞典
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SURFACE TREATING例文帳に追加
表面処理検査方法および装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の温度特性試験装置 - 特許庁
SELF TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
集積回路装置の自己テスト方法 - 特許庁
DRIVING/TESTING DEVICE FOR PICTURE PATTERN DISPLAY DEVICE例文帳に追加
図柄表示装置の駆動・試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING RUN-FLAT DURABILITY EVALUATION例文帳に追加
ランフラット耐久性評価試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験装置及び方法 - 特許庁
DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
表示装置およびその試験方法 - 特許庁
SHOCK TESTING APPARATUS FOR ROLLER BEARING例文帳に追加
転がり軸受用の衝撃試験装置 - 特許庁
TESTING MACHINE, AND PIPING FOR THERMOSTAT例文帳に追加
試験装置及び恒温機器用配管 - 特許庁
Procedures for operation, maintenance, inspection and testing例文帳に追加
運転、保守、検査及び試験の手順 - 経済産業省
TESTING DEVICE FOR TESTING AT LEAST ONE ELECTRONIC CONTROL SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING TESTING DEVICE例文帳に追加
少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 - 特許庁
A testing service system is provided with; facilities preparing testing-kits in which testing kits the person for the medical examination can receive are installed; testing institutions which carry out testing on the specimen; a testing-service firm which is the operator and manager of the testing service system; and a cellular phone firm which collects charges for the testing on behalf of the testing-service firm.例文帳に追加
検査サービスシステムは、受診者が入手可能な検査キットが設置された検査キット設置施設、検体サンプルの検査を行う検査機関、検査サービスシステムの運営者且つ管理者である検査サービス会社、及び、検査費用の徴収を代行する携帯電話会社を有する。 - 特許庁
HISTORY INFORMATION RECORDER FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置の履歴情報記録装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CONDUCTION OF SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE例文帳に追加
半導体パッケージ用基板の導通検査方法 - 特許庁
ANEMOMETER FOR WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE, AND WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE USING IT例文帳に追加
耐候光試験機用風速計及びそれを用いた耐候光試験機 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING TEST PIECE WIDTH OF MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF TESTING PARASITIC EFFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置および半導体素子の寄生効果試験方法 - 特許庁
(iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited 例文帳に追加
四 登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム
THERMAL SHOCK TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD FOR THERMAL SHOCK TEST例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法 - 特許庁
To provide an image sensor, and testing system and testing method for the same.例文帳に追加
イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁
PULL-OUT RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOCK BOLT AND LOCK-BOLT PULL-OUT RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加
ロックボルト用引抜抵抗試験装置及びロックボルト引抜抵抗試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR AUTOMATIC TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体デバイスの自動試験装置、及び自動試験装置用プログラム - 特許庁
HARDNESS TESTING MACHINE AND METHOD FOR CORRECTING STRAIN OF MACHINE BODY IN HARDNESS TESTING MACHINE例文帳に追加
硬さ試験機及び硬さ試験機における機体歪み補正方法 - 特許庁
PRINTING TESTING METHOD OF GRAVURE INK AND PRINTING TESTING MACHINE USED FOR THE SAME例文帳に追加
グラビアインキの印刷試験方法及びそれに用いる印刷試験機 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS AND OPERATING PROCEDURE FOR SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体チップテスト装置及び半導体チップテスト装置の操作手順 - 特許庁
PARALLEL PROCESSING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置の並列処理方法及び半導体試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SELF-DIAGNOSTIC METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体試験装置及び半導体試験装置の自己診断方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND UNIT CONNECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置および半導体試験装置のユニット接続方法 - 特許庁
FLOW RATE REGULATING STRUCTURE FOR WIND TUNNEL TESTING APPARATUSES, AND WIND TUNNEL TESTING APPARATUS例文帳に追加
風洞試験装置の流速調整構造及び風洞試験装置 - 特許庁
PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体試験装置のパターン発生装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁
WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE, WATER-TIGHTNESS TESTING SYSTEM FOR EXISTING PIPE USING THE SAME, AND WATER-TIGHTNESS TESTING METHOD FOR EXISTING PIPE USING WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE例文帳に追加
既設管水密性試験装置、該装置を用いた既設管水密性試験システム及び既設管水密性試験装置を使用した既設管水密性試験方法 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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| Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved. 「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編 |
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