| 意味 | 例文 |
For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE, AND TEST METHOD IN THE TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE例文帳に追加
ファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法 - 特許庁
CONTACT SHEET FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品のテスト用コンタクトシート、電子部品のテスト装置、電子部品のテスト方法及び電子部品の製造方法、及び電子部品 - 特許庁
CHIP FOR DETECTING POLYNUCLEOTIDE AND APPARATUS FOR TESTING POLYNUCLEOTIDE例文帳に追加
ポリヌクレオチド検出チップ及びポリヌクレオチド検査装置 - 特許庁
STANDARD TEST SPECIMEN FOR TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY, AND METHOD FOR TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY BY USING THE SAME例文帳に追加
抗菌性試験用標準試験片及びそれを用いた抗菌性試験方法 - 特許庁
FORCE CALIBRATING MECHANISM FOR HARDNESS TESTING MACHINE AND FORCE CALIBRATING METHOD FOR HARDNESS TESTING MACHINE例文帳に追加
硬さ試験機における力校正機構および硬さ試験機における力校正方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR RADIOGRAPHIC TESTING, AND ASSISTING METHOD FOR RADIOGRAPHIC TESTING例文帳に追加
放射線検査装置及び放射線検査方法並びに放射線検査支援方法 - 特許庁
To provide a test management system for allowing a testing personnel to immediately grasp the measurement apparatus required for testing each test item.例文帳に追加
各試験項目の試験を実施するのに必要な測定器を即座に把握する。 - 特許庁
TENSILE TESTING METHOD FOR THIN FILM BRITTLE MATERIAL, AND TENSILE TESTING DEVICE FOR THIN FILM BRITTLE MATERIAL例文帳に追加
薄膜脆性材料の引張試験方法、及び薄膜脆性材料の引張試験装置 - 特許庁
For example, to select the testing branch for the x86 architecture, edit/etc/make.conf and set: 例文帳に追加
例えば、x86アーキテクチャのtestingブランチを選択するには、/etc/make.confを編集してこのように設定します。 - Gentoo Linux
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, EQUIPMENT FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験方法、半導体試験装置、及び半導体集積回路 - 特許庁
POWER TESTING DEVICE FOR MOTORCYCLE CHAIN AND TESTING METHOD FOR MOTORCYCLE CHAIN USING IT例文帳に追加
オートバイ用チェーンの動力試験装置と、それを使用するオートバイ用チェーンの試験方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING WAVELENGTH VARIABLE SEMICONDUCTOR LASER, AND METHOD FOR TESTING COHERENT LIGHT SOURCE例文帳に追加
波長可変半導体レーザの検査方法及び検査装置、コヒーレント光源の検査方法 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING STABILITY OF HYDROGEN PEROXIDE, AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF HYDROGEN PEROXIDE例文帳に追加
過酸化水素水安定度試験用器具および過酸化水素水安定度試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TIRE ON SNOW AND SNOW- COVERED ROAD FOR TESTING TIRE例文帳に追加
タイヤ用雪上試験方法、タイヤ用雪上試験装置及びタイヤ用雪上試験路面 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING IMAGE SENSOR UNIT例文帳に追加
イメージセンサユニットの検査方法とその装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING CHARACTERISTIC OF ULTRASONIC WAVE TRANSDUCER例文帳に追加
超音波トランスデューサの特性試験装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING PHASE LOCKED LOOP例文帳に追加
位相同期ループのテスト装置および方法 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING MICROCOMPUTER例文帳に追加
マイクロコンピュータのテスト回路およびテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING DEFOAMING PERFORMANCE OF DRIP-PROOF MATERIAL例文帳に追加
防滴材の消泡性能検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD例文帳に追加
磁気ヘッドの試験装置および試験方法 - 特許庁
PATCH FOR TESTING SKIN REACTION AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
皮膚反応試験パッチとその試験方法 - 特許庁
THICKNESS TESTING METHOD AND DEVICE FOR PLATE GLASS例文帳に追加
板ガラスの厚み検査方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
通信システムの検査方法及びその装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
不揮発半導体記憶装置の検査方法 - 特許庁
MEASURING BOARD FOR ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加
電子部品試験装置用の測定用ボード - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTROLLER例文帳に追加
制御機器の試験装置および試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING TRANSMISSION例文帳に追加
トランスミッションの試験装置及び試験方法 - 特許庁
POST-OPERATIVE PROGNOSIS TESTING METHOD FOR EARLY-STAGE LUNG CANCER例文帳に追加
早期肺癌の術後予後検査方法 - 特許庁
RAPID INTEGRITY TESTING FOR POROUS MATERIAL例文帳に追加
多孔性材料の迅速な完全性試験 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRIFICATION例文帳に追加
帯電試験システムおよび帯電試験方法 - 特許庁
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