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For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
ENERGIZATION CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS FOR EVALUATION SAMPLE例文帳に追加
評価用試料の通電特性試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL例文帳に追加
液晶ディスプレイパネル試験装置及び方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路を試験する装置および方法 - 特許庁
OSCILLATION DEVICE FOR AC MEASUREMENT INSTRUMENT TESTING POWER SOURCE例文帳に追加
交流計器試験電源用発振装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING GADOLINIA-ADDED URANIUM DIOXIDE PELLET例文帳に追加
ガドリニア添加二酸化ウランペレットの試験方法 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING INTELLIGENT ELECTRONIC DEVICES例文帳に追加
インテリジェント電子デバイスを試験するためのシステム - 特許庁
GENE SET USED FOR TESTING COLON CANCER例文帳に追加
大腸がんの検査に使用する遺伝子セット - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体装置および半導体試験方法 - 特許庁
METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING RAM例文帳に追加
RAMテスト方法およびRAMテスト回路 - 特許庁
DUT INTERFACE FOR SEMI-CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置のDUTインターフェース - 特許庁
OPTICAL INFORMATION MEDIUM AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
光情報媒体およびその試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ENVIRONMENT例文帳に追加
環境試験装置及び環境試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND METHOD FOR FILM THICKNESS UNEVENNESS例文帳に追加
膜厚むらの検査装置および検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING TOXICITY IN UNDERWATER CONTAMINANT例文帳に追加
水中汚染物質の有害性試験方法 - 特許庁
HEAT CYCLE TESTING DEVICE FOR SHAPE MEMORY ALLOY例文帳に追加
形状記憶合金の熱サイクル試験装置 - 特許庁
TEST RESULT VERIFICATION SERVER FOR SPECIMEN TESTING SYSTEM例文帳に追加
検体検査システムの検査結果検証サーバ - 特許庁
PROGRAM EXECUTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置のプログラム実行方式 - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SELF-EXCITED CONVERTER例文帳に追加
自励式変換器の試験方法および装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DIFFERENTIAL DISTRIBUTION TYPE HEAT SENSOR例文帳に追加
差動式分布型熱感知器の試験装置 - 特許庁
BREAKING STRENGTH TESTING METHOD FOR GAS HYDRATE PELLET例文帳に追加
ガスハイドレートペレットの破壊強度の試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CROSS POINT SWITCH例文帳に追加
クロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MOBILE DEVICE例文帳に追加
移動機試験装置及び移動機試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING HARD DISK DRIVE例文帳に追加
ハードディスクドライブのテスト装置及びその方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CRYSTALLINITY OF SEMICONDUCTOR THIN FILM例文帳に追加
半導体薄膜の結晶性検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR RECOGNIZING OR TESTING SECURITIES例文帳に追加
有価証券を認識し又はテストする方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELEVATOR EMERGENCY CALL DEVICE例文帳に追加
エレベーター用非常通話装置の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子のテスト方法及びテスト基板 - 特許庁
TESTING TOOL AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト用治具とテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁
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