「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

WAFER PROBER AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウエハプローバー及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING HORMONE ACTION OF SUBSTANCE例文帳に追加

物質のホルモン作用を検査するための方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED ELECTROPLATING INTERNAL STRESS例文帳に追加

高速電気めっきの内部応力試験装置 - 特許庁

MACHINE AND METHOD FOR TESTING BENDING FATIGUE例文帳に追加

曲げ疲労試験機及び曲げ疲労試験方法 - 特許庁

RECEIVING CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

受信回路及び該受信回路の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FILLING STRENGTH OF SAMPLE PARTICLES例文帳に追加

試料粒子の充填強度の試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

検査装置及び検査方法、集積回路素子の製造方法、集積回路素子 - 特許庁

ROLLING/SLIDING FATIGUE LIFE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR STEEL MATERIALS例文帳に追加

鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法およびその試験装置 - 特許庁

OPERATION TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC APPARATUS, OPERATION TESTING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置の動作試験装置、動作試験方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR TESTING OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM例文帳に追加

半導体集積回路試験用基板および半導体集積回路試験システム - 特許庁

INITIAL SETTING FOR MONITOR TERMINAL OR METHOD FOR TESTING REPORT例文帳に追加

監視端末装置の初期設定または発報試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING GAS SEALING PERFORMANCE AND METHOD FOR EVALUATING IT例文帳に追加

ガスシール性能試験装置及びガスシール性能評価方法 - 特許庁

APPARATUS FOR DRINK TASTE TESTING, APPARATUS FOR TASTE VALUE DETERMINATION, AND PROGRAM例文帳に追加

飲料味覚検査装置、味覚値決定装置、及び、プログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BAR STEEL MEMBER FOR WITHDRAWING RESISTANCE例文帳に追加

棒鋼部材の引抜抵抗試験装置およびその試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR EVALUATING/TESTING HYBRID IC FOR DEUTERIUM DISCHARGE TUBE例文帳に追加

重水素放電管用混成ＩＣの評価試験装置 - 特許庁

TRAY HOLDER FOR ELECTRONIC COMPONENT, AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品用トレイ保持装置および電子部品試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING AGENT FOR TREATMENT OR PREVENTION OF BONE METABOLISM DISORDER例文帳に追加

骨代謝異常の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ABRASION TESTING FOR COVERED ELECTRIC WIRE例文帳に追加

被覆電線の摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁

DRIVER PROGRAM FOR DISK DEVICE AND PROGRAM FOR TESTING DISK DEVICE例文帳に追加

ディスク装置用ドライバプログラム及びディスク装置テスト用プログラム - 特許庁

TESTING ITEM EXTRACTION SYSTEM, TESTING ITEM EXTRACTION DEVICE, TESTING ITEM EXTRACTION METHOD USED FOR THE DEVICE, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

テスト項目抽出システム、テスト項目抽出装置、及びそれに用いるテスト項目抽出方法並びにそのプログラム - 特許庁

PROCESSOR SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PROCESSOR SYSTEM例文帳に追加

プロセッサシステムおよびプロセッサシステムをテストする方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING WATER RESERVOIR LEVEL DETECTING APPARATUS例文帳に追加

貯水槽内水位検出装置の試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FPGA-MOUNTED BOARD例文帳に追加

ＦＰＧＡ搭載ボードのテスト方法とテスト装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ERROR IN MICROPROCESSOR例文帳に追加

マイクロプロセッサのエラーをテストする方法および装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

論理回路テスト装置及び論理回路テスト方法 - 特許庁

HEAT COLLECTING PERFORMANCE TESTING METHOD FOR SOLAR ENERGY COLLECTOR例文帳に追加

太陽集熱器の集熱性能試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING RELIABILITY例文帳に追加

信頼性試験装置及び信頼性試験方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING TIMING, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

タイミング測定方法及び半導体試験装置 - 特許庁

MANUFACTURING AND TESTING METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の製造方法及び試験方法 - 特許庁

JIG AND METHOD FOR TESTING LIFETIME例文帳に追加

寿命試験用治具及び寿命試験方法 - 特許庁

FLOOR MAGNIFICATION TESTING METHOD FOR BUILDING STRUCTURAL ELEMENT例文帳に追加

建築物構造要素の床倍率試験方法 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC BREAKDOWN RESISTANCE例文帳に追加

静電破壊耐量試験装置および試験方法 - 特許庁

LITHOGRAPHY METHOD AND METHOD FOR TESTING LITHOGRAPHY DEVICE例文帳に追加

リソグラフィ方法及びリソグラフィ装置の試験方法 - 特許庁

EDGE FAULT DETECTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体試験装置のエッジ不良検出装置 - 特許庁

TRACTION DOLLY DEVICE FOR VEHICLE IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加

車両衝突試験装置の牽引ドーリー装置 - 特許庁

LOAD CALIBRATION JIG FOR INSTRUMENTATION IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加

計装化衝撃試験装置用荷重較正治具 - 特許庁

IMPULSE TESTER AND TESTING METHOD FOR STATIONARY INDUCTION APPARATUS例文帳に追加

静止誘導器のインパルス試験装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND FACILITEIS FOR TESTING TUNNEL STABILITY例文帳に追加

トンネル安定性の試験方法および試験設備 - 特許庁

REMOTE TEST EQUIPMENT FOR PLANT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

プラント遠隔試験装置およびその試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AIRTIGHTNESS OF AIRTIGHT DOOR例文帳に追加

気密扉の気密性試験方法と試験装置 - 特許庁

TEST BOARD FOR TESTING CONTINUITY IN POWER SOURCE/GND TERMINAL例文帳に追加

電源／ＧＮＤ端子導通試験用テストボード - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加

半導体部品の試験方法および試験装置 - 特許庁

SAMPLE-PREPARING DEVICE FOR TESTING SOLDERING MATERIAL例文帳に追加

はんだ付材料試験用の試料作成装置 - 特許庁

CIRCUIT FOR TEST BOARD IN BURN-IN TESTING SYSTEM例文帳に追加

バーンイン試験システムにおける試験ボード用回路 - 特許庁

INCREASE OF INTERNAL CLOCK FOR SHORTENING TESTING TIME例文帳に追加

テスト時間短縮のための内部クロックの増大 - 特許庁