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For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING SYSTEM例文帳に追加
半導体集積回路装置の試験方法、半導体集積回路装置および試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, CONNECTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験回路の接続装置および半導体試験方法 - 特許庁
SEMI-PREPARED REAGENT FOR TESTING PURITY OF OXYGEN AND PURITY TESTING METHOD OF OXYGEN USING IT例文帳に追加
酸素純度試験用半調合試薬およびこれを用いた酸素純度試験方法 - 特許庁
To provide a network testing device capable of metadata capture for testing TCP connections.例文帳に追加
TCP接続を検査するためのメタデータキャプチャ可能なネットワーク検査装置を提供する。 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SAME, AND COMPUTER- READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験方法ならびにそのための試験装置およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
On the occasion of testing, besides, the delay control circuit 9 for testing increases the delay time for testing for one side and decreases it for the other, while the total delay time is left fixed.例文帳に追加
また、テストの際、テスト用遅延制御回路9は、合計遅延時間を一定にしたまま、テスト用遅延時間の一方を増加させ他方を減少させてゆく。 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING SOUND QUALITY OF SPEECH COMMUNICATION NETWORK例文帳に追加
音声通信ネットワークの音質を試験するシステム - 特許庁
METHOD FOR ACCELERATED TESTING OF DEGRADATION IN ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR AND ACCELERATED TESTING MACHINE FOR DEGRADATION IN ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR例文帳に追加
電子写真用感光体劣化加速試験方法及び電子写真用感光体劣化加速試験機 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加
監視制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁
DRIVE CIRCUIT FOR DISPLAY DEVICE, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
表示装置の駆動回路及びそのテスト方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TENSILE STRENGTH例文帳に追加
引張強度試験方法及び引張強度試験器 - 特許庁
EVALUATION/TESTING METHOD OF FILTER CLOTH FOR FILTRATION TYPE DUST COLLECTOR例文帳に追加
濾過式集塵機用濾布の評価試験方法 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING PERFORMANCE OF HYDRAULIC MOTOR例文帳に追加
油圧モータの性能試験方法およびその装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE例文帳に追加
ランダムアクセスメモリ装置をテストする方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR SIMULATION TESTING ON VAPOR- LIQUID TWO-PHASE LOW例文帳に追加
気液二相流模擬試験方法および装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加
半導体装置、及び半導体装置の試験装置 - 特許庁
VIRTUAL USB DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERSONAL COMPUTER例文帳に追加
仮想USBデバイスとパーソナルコンピュータのテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY例文帳に追加
ダイナミックランダムアクセスメモリをテストする方法及び装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DURABILITY OF INNER FACE BEAD ROLLING TOOL例文帳に追加
内面ビード圧延工具の耐久性試験装置 - 特許庁
METHOD FOR ASSEMBLING AND TESTING MODULAR FUEL INJECTOR例文帳に追加
モジューラ燃料インジェクタの組立て及び試験方法 - 特許庁
SHORT-CIRCUITING DEVICE FOR TESTING OF POWER CONVERTER例文帳に追加
電力変換装置の試験用回路短絡装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT BY AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加
自動テスト装置で、集積回路をテストする方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CLARITHROMYCIN RESISTANCE OF HELICOBACTER PYLORI例文帳に追加
ヘリコバクター・ピロリ菌のクラリスロマイシン耐性検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING NUCLEAR FUEL PELLET例文帳に追加
原子力燃料ペレットの検査方法および装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS例文帳に追加
半導体集積回路の試験装置、試験方法 - 特許庁
INTERFACE DEVICE AND METHOD FOR TESTING FREQUENCY FLUCTUATION例文帳に追加
インタフェース装置及び周波数変動試験方法 - 特許庁
HYDRAULIC PRESSURE TESTING DEVICE FOR HEAT TRANSMISSION TUBE PANEL WITH HEADER例文帳に追加
管寄付き伝熱管パネルの水圧試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SAME例文帳に追加
半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HYGROSCOPIC AND EXOTHERMIC PROPERTY例文帳に追加
吸湿発熱性試験方法および試験装置 - 特許庁
ANTIBODY TO BOVINE MYOGLOBIN PARTIAL PEPTIDE AND METHOD FOR TESTING USING THE ANTIBODY AND KIT FOR TESTING例文帳に追加
ウシミオグロビン部分ペプチドに対する抗体、及び当該抗体を用いた検査方法並びに検査用キット - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING DURABILITY OF INSULATION- COATING FILM例文帳に追加
絶縁皮膜の耐久試験方法および装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置、及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路をテストするための装置および方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加
情報処理装置の試験方法および試験システム - 特許庁
FLAME SENSOR AND TESTING DEVICE FOR OPERATION OF FLAME SENSOR例文帳に追加
火災感知器及び火災感知器の作動試験器 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁
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