「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

CONFIGURATION MANAGEMENT TESTING METHOD AND PROGRAM FOR SERVER SYSTEM例文帳に追加

サーバシステムの構成管理試験方法及びプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MEMORY AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

メモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体 - 特許庁

PERFORMANCE EVALUATION TESTING EQUIPMENT OF RECIPROCAL ENGINE FOR AIRCRAFT例文帳に追加

航空機用レシプロエンジンの性能評価試験設備 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER BLOCK例文帳に追加

光ファイバ用ブロックの検査装置及び検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL FILTER例文帳に追加

デジタルフィルタのテスト装置及びデジタルフィルタのテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR ELECTRONIC CONTROL SYSTEM例文帳に追加

電子制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING HIGH FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

WETTING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING STRENGTH OF WETTED PAPER例文帳に追加

湿潤用器具及び湿潤紙力試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER COMMUNICATION LINE例文帳に追加

光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND METHOD FOR PRODUCTION OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM INCLUDING TESTING STEP例文帳に追加

磁気記録媒体の検査方法、およびその検査工程を有する磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁

To shorten a testing time for a semiconductor device by means of a tester and to lower a testing cost for the semiconductor device.例文帳に追加

テスタによる半導体デバイスのテスト時間を短縮し、半導体デバイスのテスト費用を削減する。 - 特許庁

TESTING TIP, AND METHOD FOR EVALUATING CONNECTION RESISTANCE VALUE例文帳に追加

試験用チップおよび接続抵抗値評価方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PHYSIOLOGICAL FUNCTION AND TESTING FOOD例文帳に追加

生理機能の計測方法及び試験用食品 - 特許庁

ELECTRICAL TESTER FOR TESTING ELECTRICAL TEST PIECE例文帳に追加

電気試験片を試験するための電気試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD SERVICE LIFE例文帳に追加

磁気ヘッドの寿命を試験する方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SERVICE TRANSFER例文帳に追加

サービス移動試験装置、及び、サービス移動試験方法 - 特許庁

QUADRUPOLAR NUCLEAR EQUIPMENT FOR TESTING SAMPLES AND ITS METHOD例文帳に追加

サンプルをテストする四極子核装置および方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RELIABILITY, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

信頼性評価試験方法および記録媒体 - 特許庁

SYSTEM AND CASSETTE FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップを試験するためのシステム及びカセット - 特許庁

BOARD FOR SEMICONDUCTOR TEST AND SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM例文帳に追加

半導体試験用ボード及び半導体試験システム - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置および方法 - 特許庁

CT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD AND PT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD例文帳に追加

保護継電器盤用ＣＴテストプラグ試験装置及び保護継電器盤用ＰＴテストプラグ試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND BOARD FOR CALIBRATION例文帳に追加

試験装置、パフォーマンスボード、および、キャリブレーション用ボード - 特許庁

OUTPUT CIRCUIT FOR CONTROLLING GRAY-SCALE, ITS TESTING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE CIRCUIT例文帳に追加

階調制御用出力回路及びその検査用装置，階調制御用出力回路の検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

FLOW SIMULATING CIRCUIT FOR TESTING OF FLOWMETER例文帳に追加

流量計の試験用の流れシミュレーション用回路 - 特許庁

WAFER PROBER DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

ウエハプローバ装置及び半導体ウエハのテスト方法 - 特許庁

SOCKET FOR SEMICONDUCTOR TEST, AND SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体テスト用ソケットおよび半導体テスト装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の検査方法、半導体集積回路の検査プログラム - 特許庁

PROBE CARD FOR USE IN TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハ上のチップの検査に用いるプローブカードおよび半導体ウエハ上のチップの検査方法 - 特許庁

The closing apparatus 1 for testing piping withstand pressure comprises a pair of tools for testing piping withstand pressure 2a, 2b.例文帳に追加

配管耐圧試験用閉止装置１は、１対の配管耐圧試験用治具２ａ、２ｂを含む。 - 特許庁

That they would begin to offer testing for the brca genes.例文帳に追加

brca遺伝子検査を 開始すると発表しました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

a small gauge used for testing an electric circuit 例文帳に追加

電気回路に関する試験を行う小型の計器 - EDR日英対訳辞書

DATA DAMAGE TESTING METHOD FOR HIERARCHICAL STORAGE SYSTEM例文帳に追加

階層的記憶システム用のデータ破損試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC HEAD例文帳に追加

磁気ヘッドの特性試験方法および試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR REMOTE AND AUTOMATIC TESTING OF PRIVATE LINE例文帳に追加

専用線遠隔自動試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DROPLET EJECTING HEAD例文帳に追加

液滴吐出ヘッドの試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

磁気記録媒体の検査装置および検査方法 - 特許庁

INSTALLATION DEVICE FOR TESTING SURFACE-MOUNTING DEVICE PACKAGE例文帳に追加

表面実装デバイスパッケージのテスト用取付け装置 - 特許庁

TEST STRUCTURE FOR ON-CHIP REAL-TIME RELIABILITY TESTING例文帳に追加

オン・チップ・リアルタイム信頼性試験用の試験構造 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING FLASH MEMORY例文帳に追加

フラッシュメモリのテスト装置及びフラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SOLID-STATE IMAGE SENSOR AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

固体撮像素子の検査方法及びその装置 - 特許庁