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「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > For testingの意味・解説 > For testingに関連した英語例文

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For testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6752



例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CONFIRMATION OF CABLE CONNECTION例文帳に追加

ケーブル接続確認試験方法及びその試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST例文帳に追加

GUIプログラムテスト装置およびGUIプログラムテスト方法 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING PROCESSOR例文帳に追加

プロセッサ試験装置、プロセッサ試験方法、プロセッサ試験プログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS例文帳に追加

電子部品の試験方法および電子部品試験装置 - 特許庁

例文

OPTICAL DISK RECORDING MEDIUM FOR TESTING AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加

テスト用光ディスク記録媒体及びその製造方法 - 特許庁


例文

MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR SENSOR TESTING AND SENSOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加

センサ検査用磁場発生装置およびセンサ検査装置 - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加

光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁

DATA INVERSION REGISTER TECHNIQUE FOR INTEGRATED CIRCUIT MEMORY TESTING例文帳に追加

集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路試験装置、及び集積回路試験方法 - 特許庁

例文

INSPECTION DEVICE AND BURN-IN TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置 - 特許庁

例文

METHOD FOR TESTING CONSTITUTION OF DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

装置の構成をテストする方法および半導体装置 - 特許庁

TESTPIECE MOLDING FORM FOR TESTING STRENGTH OF CEMENT MATERIAL例文帳に追加

セメント材料強度試験用供試体成形型枠 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PERFORMANCE OF CONTAMINANT TREATING MATERIAL例文帳に追加

汚染物質処理材の性能試験方法及び装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONNECTION STRENGTH OF BUMP ELECTRODE例文帳に追加

バンプ電極の接合強度試験装置と試験方法 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE UNIT, METHOD FOR TESTING PROBE AND PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及びプローブ針 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR HOLLOW TORSIONAL SHEAR TESTING APPARATUS例文帳に追加

中空ねじりせん断試験装置の供試体支持構造 - 特許庁

BOARD CONVERSION CABLE FOR MULTIPLE-PIN TESTER AND IC TESTING METHOD例文帳に追加

多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびICテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING TUNNEL MAGNETORESISTANCE ELEMENT AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の検査方法及び装置 - 特許庁

CONTACTOR FOR ELECTRONIC PART, AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子部品用コンタクタ及びこれを用いた試験方法 - 特許庁

REMOTE SENSING ALTERNATING CURRENT MEASURING INSTRUMENT FOR TESTING VOLTAGE/CURRENT例文帳に追加

試験電圧電流遠隔検出交流測定器 - 特許庁

GENETIC TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING USING THE SAME例文帳に追加

遺伝子検査装置およびそれを用いた検出方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RESISTANCE TO ADHESION TO DUST AND SLAG例文帳に追加

ダスト,スラグに対する難付着性評価試験方法 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING COLLAPSE OF POROUS WALL, CASING, AND TESTING METHOD例文帳に追加

孔壁崩落抑制方法、ケーシング、及び試験方法 - 特許庁

MEASURING SYSTEM WITH TESTING FUNCTION FOR CONFIRMING NORMALITY OF MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

計測器正常性確認試験機能付計測システム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁

PULSATION WATER PRESSURE-GENERATING DEVICE FOR TESTING WATER PRESSURE IN PIPE例文帳に追加

管内の水圧試験用脈動水圧発生装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING WATER HAMMER STRENGTH OF GLASS BOTTLE AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

ガラスびんのウォータハンマ強度試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND LEAKAGE FOR TESTING PIPING LEAK例文帳に追加

配管漏洩検査装置及び配管の漏洩検査方法 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM OF DEVICE FOR DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY例文帳に追加

半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁

To reduce the time required for testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の検査に要する時間を短縮する。 - 特許庁

SCREED AND METHOD FOR TESTING GAS SEALABILITY OF THE SCREED例文帳に追加

スクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 - 特許庁

DURABILITY TESTING APPARATUS FOR VEHICLE SEAT AND SEAT ATTACHMENT例文帳に追加

車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING EXTENSION IO COMBINATION VIA NETWORK例文帳に追加

ネットワークを介した拡張IO組み合わせ試験方式 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

IC試験装置、IC試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加

オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置 - 特許庁

LOADING TEST METHOD FOR GROUND ANCHOR AND TESTING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置 - 特許庁

CORROSION TESTING METHOD OF METALLIC MATERIAL FOR SHIP BALLAST TANK例文帳に追加

船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路装置テストシステムおよびプローブカード - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ROTARY BALANCE OF CRANKSHAFT例文帳に追加

クランク軸の回転バランス試験装置および試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方式及びその方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INSULATION PERFORMANCE OF GAS INSULATED APPARATUS例文帳に追加

ガス絶縁機器の絶縁性能試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT OF OSTEOPOROSIS例文帳に追加

骨粗鬆症の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁

TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験システム及び試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TEST METHOD FOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

CMOS集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

例文

INSTRUMENTS, APPARATUS AND DEVICES FOR CHECKING, SECURITY OR TESTING 例文帳に追加

検査用,保安用又は試験用の器械,機器及び装置 - 特許庁




  
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