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For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CONFIRMATION OF CABLE CONNECTION例文帳に追加
ケーブル接続確認試験方法及びその試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST例文帳に追加
GUIプログラムテスト装置およびGUIプログラムテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS例文帳に追加
電子部品の試験方法および電子部品試験装置 - 特許庁
OPTICAL DISK RECORDING MEDIUM FOR TESTING AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加
テスト用光ディスク記録媒体及びその製造方法 - 特許庁
MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR SENSOR TESTING AND SENSOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加
センサ検査用磁場発生装置およびセンサ検査装置 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加
光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁
DATA INVERSION REGISTER TECHNIQUE FOR INTEGRATED CIRCUIT MEMORY TESTING例文帳に追加
集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験装置、及び集積回路試験方法 - 特許庁
INSPECTION DEVICE AND BURN-IN TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CONSTITUTION OF DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
装置の構成をテストする方法および半導体装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING PERFORMANCE OF CONTAMINANT TREATING MATERIAL例文帳に追加
汚染物質処理材の性能試験方法及び装置 - 特許庁
PROBE CARD, PROBE UNIT, METHOD FOR TESTING PROBE AND PROBE NEEDLE例文帳に追加
プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及びプローブ針 - 特許庁
SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR HOLLOW TORSIONAL SHEAR TESTING APPARATUS例文帳に追加
中空ねじりせん断試験装置の供試体支持構造 - 特許庁
BOARD CONVERSION CABLE FOR MULTIPLE-PIN TESTER AND IC TESTING METHOD例文帳に追加
多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびICテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING TUNNEL MAGNETORESISTANCE ELEMENT AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
トンネル磁気抵抗効果素子の検査方法及び装置 - 特許庁
REMOTE SENSING ALTERNATING CURRENT MEASURING INSTRUMENT FOR TESTING VOLTAGE/CURRENT例文帳に追加
試験電圧電流遠隔検出交流測定器 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RESISTANCE TO ADHESION TO DUST AND SLAG例文帳に追加
ダスト,スラグに対する難付着性評価試験方法 - 特許庁
METHOD FOR PREVENTING COLLAPSE OF POROUS WALL, CASING, AND TESTING METHOD例文帳に追加
孔壁崩落抑制方法、ケーシング、及び試験方法 - 特許庁
MEASURING SYSTEM WITH TESTING FUNCTION FOR CONFIRMING NORMALITY OF MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
計測器正常性確認試験機能付計測システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁
PULSATION WATER PRESSURE-GENERATING DEVICE FOR TESTING WATER PRESSURE IN PIPE例文帳に追加
管内の水圧試験用脈動水圧発生装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WATER HAMMER STRENGTH OF GLASS BOTTLE AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
ガラスびんのウォータハンマ強度試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM OF DEVICE FOR DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY例文帳に追加
半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁
To reduce the time required for testing a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の検査に要する時間を短縮する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 - 特許庁
DURABILITY TESTING APPARATUS FOR VEHICLE SEAT AND SEAT ATTACHMENT例文帳に追加
車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
IC試験装置、IC試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加
オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置 - 特許庁
LOADING TEST METHOD FOR GROUND ANCHOR AND TESTING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置 - 特許庁
CORROSION TESTING METHOD OF METALLIC MATERIAL FOR SHIP BALLAST TANK例文帳に追加
船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体集積回路装置テストシステムおよびプローブカード - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方式及びその方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INSULATION PERFORMANCE OF GAS INSULATED APPARATUS例文帳に追加
ガス絶縁機器の絶縁性能試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT OF OSTEOPOROSIS例文帳に追加
骨粗鬆症の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁
TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験システム及び試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND TEST METHOD FOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
CMOS集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁
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