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For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁
CONFIRMATION TESTING METHOD AND SYSTEM FOR THROUGHPUT例文帳に追加
スループット確認試験方法およびスループット確認試験システム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MOTION SIMULATION OF TEST MODEL例文帳に追加
試験模型の移動シミュレーション試験方法及びその装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TOROIDAL TYPE CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION例文帳に追加
トロイダル型無段変速機の試験方法及び試験装置 - 特許庁
INSULATION TESTING METHOD AND DEVICE OF OUTER RING FOR ROLLING BEARING例文帳に追加
転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR BASE STATION UNIT IN MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
移動体通信システムにおける基地局装置試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ONE PROCESS OF MULTIPROCESS SYSTEM例文帳に追加
マルチプロセスシステムにおける1プロセスのテスト方法及びシステム - 特許庁
TENSILE TESTING MACHINE FOR DRAWING AND OBSERVING, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
延伸観察用引張試験装置および引張試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE AND METHOD FOR PULLING OUT PENETRATION ROD例文帳に追加
自動貫入試験機および貫入ロッドの引き抜き方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING OPTICAL COMPONENTS例文帳に追加
光学的構成要素を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁
ELECTRONIC EQUIPMENT, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
電子機器の試験方法、電子機器、及び、半導体装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS OF LOAD IN HOLE FOR MEASURING UNDERGROUND STRESS例文帳に追加
地中の応力を計測するための孔内載荷試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING POWER TRANSMISSION SYSTEM AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
動力伝達系の試験装置およびその制御方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE DURING PROCESSING例文帳に追加
半導体製造工程におけるテスト装置およびテスト方法 - 特許庁
SOCKET FOR TESTING NARROW-TERMINAL ELECTRONIC COMPONENT USING FLUID PRESSURE例文帳に追加
流体圧を利用した狭端子電子部品試験用ソケット - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPERATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の動作試験方法及び半導体装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC CHARGE例文帳に追加
静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法 - 特許庁
EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR CONTROL AMPLIFIER IN VVVF INVERTER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
VVVFインバータの制御アンプ試験方法及びその装置 - 特許庁
FLEXIBLE PRINTED CIRCUIT CABLE SYSTEM FOR CRASH TESTING DUMMY例文帳に追加
衝突試験用ダミーのためのフレキシブルプリント回路ケーブルシステム - 特許庁
APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験システムおよびその試験方法 - 特許庁
SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING VISCOSITY CHARACTERISTICS OF RESIN例文帳に追加
樹脂粘度特性試験システム、その方法、及びそのプログラム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING NETWORK ASSIST-TYPE GPS RECEIVER例文帳に追加
ネットワークアシスト型GPS受信機の検査方法及び装置 - 特許庁
SILICON SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE, DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
シリコン基板、デバイスの製造方法、デバイスおよびテスト方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR DETERMINING LENGTH, SHRINKAGE AMOUNT AND CRIMP PROPERTY OF ARTIFICIAL FIBER, AND METHOD FOR USING TESTING APPARATUS例文帳に追加
人造繊維の長さ、収縮量及び捲縮特性を決定するための試験装置並びに試験装置の使用方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING STATE DURING TESTING OF SUBSCRIBER'S LINE例文帳に追加
加入者回線試験時の状態監視方法と装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WEATHER RESISTANCE OF LOW ALLOY STEEL ACCELERATED BY COMBINED CYCLE例文帳に追加
低合金鋼の複合サイクル促進耐候性試験方法 - 特許庁
INTEGRATED DATA JITTER GENERATOR FOR HIGH-SPEED SERIAL INTERFACE TESTING例文帳に追加
高速シリアルインターフェースのテスト用の集積データジッター発生器 - 特許庁
FLAT DISPLAY DEVICE AND A METHOD FOR TESTING FLAT DISPLAY DEVICE例文帳に追加
フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法 - 特許庁
REGULATOR CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
レギュレータ回路、集積回路、及び集積回路のテスト方法 - 特許庁
DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING TRANSPORT PACKAGE ASSEMBLED IN UNIT LOAD例文帳に追加
ユニットロードにまとめられた包装貨物の評価試験装置 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING DEVICE OF STANDBY POWER SOURCE FOR FIRE ALARM SYSTEM例文帳に追加
火災報知設備における予備電源の自動試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT WITH DRIFT OF AVERAGE VALUE TAKEN INTO CONSIRATION例文帳に追加
平均値のドリフトを考慮した電子部品のテスト方法 - 特許庁
TOOL AND METHOD FOR TESTING ADHESIVE STRENGTH, AND SYSTEM例文帳に追加
粘着力試験器具および粘着力試験方法,システム - 特許庁
PRODUCTION SYSTEM FOR SANITARY WARE AND ITS TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
衛生陶器の生産システム、及び衛生陶器の試験装置 - 特許庁
ELECTRO-OPTICAL DEVICE, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 - 特許庁
NON-DISTRUCTIVE TESTING DEVICE AND METHOD FOR INVERTER TYPE RESISTANCE WELDING例文帳に追加
インバータ式抵抗溶接の非破壊検査装置及び方法 - 特許庁
METHODS, APPARATUS AND ARTICLES OF MANUFACTURE FOR TESTING BATCH CONFIGURATIONS例文帳に追加
バッチ構成を試験するための方法、装置、および製品 - 特許庁
DATA OUTPUT DEVICE FOR CREATION OF TESTING JIG OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加
印刷配線板試験治具作成用データ出力装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子コンポーネント試験装置及び電子コンポーネントの試験方法 - 特許庁
PENETRATION TESTING MACHINE AND AUTOMATIC CALCULATION METHOD FOR CONVERSION N-VALUE例文帳に追加
貫入試験機および換算N値の自動算出方法 - 特許庁
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