「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

NONDESTRUCTIVE METHOD AND NONDESTRUCTIVE APPARATUS FOR TESTING CERAMIC COATING FILM例文帳に追加

セラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置 - 特許庁

VOLTAGE GENERATING CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

電圧発生回路および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

This is a method(200)for making plural testing devices operational within the system.例文帳に追加

システム内で複数の試験装置を使用可能にする方法(200)。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DIGITAL RADIO SYSTEM例文帳に追加

デジタル無線システム試験方法およびデジタル無線システム試験装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, METHOD FOR TESTING WORK FLOW, AND TEST PROGRAM OF WORK FLOW例文帳に追加

画像処理装置、ワークフローのテスト方法及び同テストプログラム - 特許庁

To provide a technology for appropriately testing a protocol converter.例文帳に追加

プロトコル変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACTIVITY OF ACTIVE SLUDGE AND DECOMPOSABILITY OF WASTE WATER例文帳に追加

活性汚泥の活性および廃水の分解性の試験方法 - 特許庁

To provide a technique for suitably testing a speed conversion device.例文帳に追加

速度変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MULTI-STACK INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

マルチ−スタック集積回路パッケージをテストする装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HEAT INSULATION PERFORMANCE OF HEAT INSULATING MATERIAL例文帳に追加

断熱材における断熱性能の検査方法と検査装置 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for easy testing.例文帳に追加

容易にテストを行い得る半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

アプリケーションプログラムをテストする方法及びプログラム及び記録媒体 - 特許庁

TESTING METHOD AND IMPLEMENT FOR SALIVA BUFFER PERFORMANCE例文帳に追加

唾液緩衝能検査方法及び唾液緩衝能検査用具 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EMBEDDED-TYPE TIME DOMAIN REFLECTIVITY例文帳に追加

埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for speedily and reliably testing electric parts.例文帳に追加

電気部品を試験するための方法と装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LSI MIXED WITH RAM BUILT IN CPU例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩのテスト装置および方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CORROSION CRACKING CAUSED BY WELDING RESIDUAL STRESS例文帳に追加

溶接残留応力の腐食割れ試験方法および装置 - 特許庁

ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE FOR TESTING OR TREATING SAMPLE例文帳に追加

試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

CRASH TESTING DEVICE AND CRASH TEST METHOD FOR AUTOMOBILE BODY例文帳に追加

自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法 - 特許庁

PHYSICAL LAYER CHIP FOR IEEE1394 STANDARDS, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップ及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND INFORMATION STORAGE MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び情報記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

FRAME WORK SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF SERVER例文帳に追加

サーバのパフォーマンスをテストするためのフレームワーク・システムおよび方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING BUILT-IN ANALOGUE CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および内蔵アナログ回路テスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びシステム並びに記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND TESTING DEGREE OF DISPERSION例文帳に追加

分散度測定試験方法及び分散度測定試験装置 - 特許庁

You can ask Portage to allow the testing branch for particular packages but use the stable branch for the rest of the system.例文帳に追加

特定のパッケージに対してtestingブランチの利用を許可するがシステムにはstableブランチを利用するようにPortageに指示することができます。 - Gentoo Linux

The IDE provides a useful utility for testing RESTful web services.例文帳に追加

IDE には RESTful Web サービスのテストに便利なユーティリティーが備わっています。 - NetBeans

For testing purposes, you can drop the Facebook operation into the main method of a main class. 例文帳に追加

テスト目的で、Facebook 操作を main クラスの main メソッドにドロップできます。 - NetBeans

TESTING METHOD FOR A/D CONVERTING CIRCUIT AND A/D CONVERTING CIRCUIT例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路の試験方法、及びＡ／Ｄ変換回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY TESTING PLURAL SEMICONDUCTOR ELEMENTS例文帳に追加

複数の半導体素子を同時にテストする半導体テスト装置 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING MAINTENANCE BETWEEN LAN CONNECTION DEVICES AND LAN CONNECTION DEVICE例文帳に追加

ＬＡＮ接続装置間の保守試験方式およびＬＡＮ接続装置 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE FOR TESTING WIRING DEFECTS IN PANEL例文帳に追加

パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MAIN CIRCUIT PHASE DETECTION例文帳に追加

主回路検相試験装置および主回路検相試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR USING IT例文帳に追加

半導体記憶装置およびそれを用いた半導体テスト方法 - 特許庁

INFORMATION-PROCESSING DEVICE, IMAGE-PROCESSING DEVICE, METHOD FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, PROGRAM FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, AND RECORDING MEDIUM WITH THE RECORDED PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加

半導体モジュールの電気的特性試験方法及びその装置 - 特許庁

SHEET CONNECTOR, SOCKET FOR ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加

シート状コネクタ、電子部品用ソケット及び電子部品試験装置 - 特許庁

POWER GENERATION TESTING DEVICE OF CELL FOR SOLID OXIDE FUEL CELL例文帳に追加

固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.例文帳に追加

データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体集積回路テスト方法 - 特許庁

OPTIMIZATION METHOD AND PROGRAM FOR OPTIMIZING TIMING SET OF SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置のタイミングセットの最適化方法、半導体試験装置のタイミングセットの最適化プログラム、半導体試験装置 - 特許庁

To provide a testing method for semiconductor device suitable and more efficient for testing a mass-produced semiconductor device.例文帳に追加

大量生産された半導体装置を試験するときに好適な、より効率的な半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CHEMICAL SENSITIVITY OF METALLO-BETA- LACTAMASE-PRODUCING STRAIN例文帳に追加

メタロ−β−ラクタマーゼ産生菌の薬剤感受性試験方法 - 特許庁

To provide a testing method for an impervious sheet without the necessity for providing an electrode in the bottom side in testing the impervious sheet.例文帳に追加

遮水シートの検査に際しその下側に電極を設置することの不要な遮水シート検査方式を提供する。 - 特許庁