「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR TESTING NETWORK REPEATER, AND THE NETWORK REPEATER例文帳に追加

ネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR THE SAME AND INTEGRATED-CIRCUIT COMPONENT例文帳に追加

集積回路、集積回路の試験方法、集積回路部品 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板を試験する方法およびこの方法を実施する装置 - 特許庁

To provide a technology for properly testing a virus detection device.例文帳に追加

ウィルス検出装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR NONDESTRUCTIVE INSULATION TESTING OF SMALL-SIZED ELECTRIC MACHINE例文帳に追加

小型電気機械の非破壊絶縁試験方法および装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MEMORY USING DMA例文帳に追加

ＤＭＡを使用してメモリをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SECONDARY BATTERY CAPACITY例文帳に追加

二次電池容量試験システム及び二次電池容量試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC TRANSFER SIGNAL例文帳に追加

磁気転写信号試験方法および装置ならびに磁気媒体 - 特許庁

The present invention provides improvement for a testing device for testing the examined object for outputting a digital data and a synchronization word detecting signal.例文帳に追加

本発明は、デジタルデータ及び同期ワード検出信号を出力する被試験対象を試験する試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To reduce remarkably a time necessary for a multi process testing accompanying a retesting process with a mechanical constitution equipped with the present testing devices as it is, with respect to the multi-process testing method and the multi-process testing device.例文帳に追加

多工程試験方法及び多工程試験装置に関し、現在の試験装置の具備する機械的構成のままで再試験工程を伴う多工程試験に要する時間を大幅に低減する。 - 特許庁

When testing command is received from the testing board, control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.例文帳に追加

テスト基板からテストコマンドを受信すると、ＲＡＭ１２２のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁

To provide an automatic load testing device and method for efficiently testing a load.例文帳に追加

負荷試験作業を効率的に行える自動負荷試験装置および自動負荷試験方法を提供すること。 - 特許庁

SELF-TESTING SYSTEM, SELF-TESTING REACTOR PROTECTION SYSTEM AND METHOD FOR STARTING SAFE OPERATION IN RESPONSE TO MONITORING OF PARAMETER例文帳に追加

パラメータの監視に応動して安全動作を開始するための自己試験系、自己試験原子炉保護系及び方法 - 特許庁

To provide testing circuit for electronic apparatuses, capable of reducing testing time and cost, without relying on a PLL circuit.例文帳に追加

ＰＬＬ回路によらずにテスト時間と費用を削減することができる電子機器テスト回路を提供する。 - 特許庁

To realize a memory-testing device which reduces time required for testing by mounting a plurality of fail memories on it.例文帳に追加

複数のフェイルメモリを設け、試験時間の短縮を図るメモリ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

When testing command is received from the testing board, the control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.例文帳に追加

テスト基板からテストコマンドを受信すると、ＲＡＭ１２２のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a testing method for diagnosing a plurality of input/output pins by one-time diagnosis.例文帳に追加

複数の入出力ピンを一度の診断で診断するための試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

ATM TESTING DEVICE, ATM TESTING METHOD USED FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ＡＴＭ試験装置及びそれに用いるＡＴＭ試験方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a crack testing method for pneumatic tires capable of suppressing an increase in a testing time by promoting ozone depletion.例文帳に追加

オゾン劣化を促進させて試験時間の増加を抑えうる空気入りタイヤのクラック試験方法を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT, AND METHOD FOR TESTING ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT例文帳に追加

飛翔害虫の誘引阻害活性試験装置、並びに、飛翔害虫の誘引阻害活性試験方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING IMPACT ABSORPTION ENERGY USING DROPPING WEIGHT TYPE IMPACT TESTING MACHINE, AND DROPPING WEIGHT TYPE IMPACT TESTING MACHINE例文帳に追加

落錘式衝撃試験機を用いた衝撃吸収エネルギーの測定方法および落錘式衝撃試験機 - 特許庁

This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to a component testing part.例文帳に追加

部品試験装置は部品試験部に電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method for easily and safely evaluating the load bearing insulation characteristics of a film.例文帳に追加

フィルムの耐荷重絶縁特性を簡易かつ安全に評価し得る試験装置、並びに試験方法を提供する。 - 特許庁

HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING METHOD, HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING APPARATUS, AND HIGH-PRESSURE AUTOMATIC SELECTOR VALVE USED FOR THE SAME例文帳に追加

ホース耐圧試験方法，ホース耐圧試験装置及びホース耐圧試験装置に用いる高圧自動切替え弁 - 特許庁

This is an improved IC tester for testing a test object by a plurality of testing modules.例文帳に追加

本発明は、複数の試験モジュールにより被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

As for measurement points by the testing machine, a sea bottom point where the testing machine arrives is grasped and recorded by an underwater sound wave probe.例文帳に追加

試験機の測定点は水中音波探査機により、試験機の着底点が把握され、記録される。 - 特許庁

METHOD OF TESTING ELECTRO-OPTICAL DEVICE, DEVICE FOR TESTING THE ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加

電気光学装置の検査方法、電気光学装置の検査装置、及び電気光学装置の製造方法 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing an environment which prevents condensation on a circuit board in a testing chamber.例文帳に追加

試験室内の回路基板への結露を防止する環境試験装置及び環境試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing apparatus for accurately evaluating damage generated in ironing.例文帳に追加

しごき加工時に発生する損傷を的確に評価することが可能な試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

The substrate for testing is formed by piling a circuit substrate 3 for testing which a plurality of electronic parts 2, 2... are installed to the testing position, an intermediate plate 4 maintaining constant the interval between each electronic part 2 and the circuit 3 substrate for testing and a positioning plate 5 for positioning the electronic part 2 to the testing position in turn from the bottom.例文帳に追加

複数の電子部品２、２‥が試験位置に装着される試験用回路基板３と、各電子部品２と試験用回路基板３との間隔を一定に保つ間隔板４と、各電子部品２を試験位置に位置決めする位置決め板５とを下から順に積み重ねて試験用基板１を形成する。 - 特許庁

To provide a method for reducing the time required for testing a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップのテスト所要時間を短縮する方法を提供すること。 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE EVALUATION FOR VEHICLE BY AUTOMATIC PRESSING OF OPERATION MEMBER例文帳に追加

操作部材の自動押圧による車輌の性能評価試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF TANK EXHAUST DEVICE AND TANK EXHAUST DEVICE FOR AUTOMOBILE例文帳に追加

タンク排気装置における機能の試験方法及び自動車のタンク排気装置 - 特許庁

METHOD AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING TEST SUBSTRATE例文帳に追加

半導体素子のテスト方法、そのテスト基板及びそのテスト基板の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, FOR CALIBRATING IC TESTER, AND CLEANING BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの検査方法、ＩＣテスタの校正方法、及びクリーニング用ボード - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL DEVICE AND TESTING DEVICE FOR DEFECTIVE DETERMINATION FOR THIS例文帳に追加

光学デバイスの製造方法およびこれに用いる欠陥判定用の検査具 - 特許庁

SYSTEM FOR ANALYZING DEVICE TO BE TESTED AND METHOD FOR TESTING DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験デバイスの分析のためのシステムおよび被試験デバイスをテストする方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING OF BASE ISOLATION DEVICE, BASE ISOLATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING OF BASE ISOLATION DEVICE例文帳に追加

免震装置の試験方法、免震装置、及び免震装置の製造方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE EVALUATION FOR VEHICLE BY AUTOMATIC PRESSING OF OPERATION MEMBER例文帳に追加

操作部材の自動押圧による車輌性能評価試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR例文帳に追加

積層セラミックコンデンサの試験方法および積層セラミックコンデンサの製造方法 - 特許庁

APPARATUS FOR INCREASING OPERATING FREQUENCY OF SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES例文帳に追加

電子デバイスをテストするためのシステムの動作周波数を増加させるための装置 - 特許庁

(2) The Qualification Examination shall be implemented for the purpose of testing the necessary knowledge required for money lending operations. 例文帳に追加

２　資格試験は、貸金業に関して、必要な知識について行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

HANDLING EQUIPMENT FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, IC TEST HANDLER, AND PUMP FOR LIQUID NITROGEN例文帳に追加

電子部品の試験用取扱装置，ＩＣテストハンドラ及び液体窒素用ポンプ - 特許庁