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「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > For testingの意味・解説 > For testingに関連した英語例文

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For testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6752



例文

Furthermore, an inserting hole 14 for inserting the testing lead into the testing-lead through-hole 16 and an exhausting hole 15 for drawing out the testing lead from the testing-lead through-hole 16 are formed above and below the iron core 11, respectively.例文帳に追加

試験用リードを試験用リード貫通孔16に挿入するための挿入口14および試験用リードを試験用リード貫通孔16から排出するための排出口15が、鉄心11よりも上側および下側にそれぞれ設けられている。 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING DEVICE OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, STANDARD CIRCUIT BOARD USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DC SYSTEM RELAY MEANS USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるDC系中継手段 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス11aに対して所定の試験を行う半導体試験装置1と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置1に対して指示する制御装置2とを有する。 - 特許庁

In the case of testing the wafer, in addition to supplying a power to be executed via the pads 9 for the power source, the power is also supplied via the pads 17 for testing the wafer and the pads 19 for testing the wafer.例文帳に追加

ウェハテストの際には、電源用のボンディングパッド9を介して行なわれる電源供給の他、ウェハテスト用電源パッド17及びウェハテスト用グランドパッド19を介しても電源供給が行なわれる。 - 特許庁

例文

BATTERY PACK, DEVICE AND METHOD FOR BATTERY PACK CAPACITY TESTING例文帳に追加

組電池、組電池容量試験装置、および組電池容量試験方法 - 特許庁


例文

BRAKING FORCE TESTING DEVICE AND METHOD OF HOIST BRAKE FOR ELEVATOR例文帳に追加

エレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING γ-RAY SENSITIVITY OF PROPORTIONAL COUNTER TYPE NEUTRON DETECTOR例文帳に追加

比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法 - 特許庁

MODEL STRUCTURE, AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ABILITY OF VISIBLE-RAY CYTOTOXICITY EXPRESSION, AND USE OF THE METHOD例文帳に追加

可視光細胞毒性発現能力の検定方法、及びその利用 - 特許庁

例文

To provide techniques for suitably testing an emergency call controller.例文帳に追加

緊急通報制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

例文

METHOD FOR EVALUATING HYDROPHILIZATION TIME OF COATING FILM SURFACE, AND DETERIORATION TESTING APPARATUS例文帳に追加

塗膜表面の親水化時間評価方法および劣化試験装置 - 特許庁

PREPARING METHOD OF SPECIMEN FOR MIXTURE APPROPRIATENESS TESTING AND KIT USED THEREFOR例文帳に追加

配合適性試験用試料の調製方法及びそれに用いるキット - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATION DEVICE, AND NORMALITY TESTING METHOD USED FOR THEM例文帳に追加

通信システム、通信装置及びそれらに用いる正常性試験方法 - 特許庁

SKEW-ADJUSTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE AND SKEW-ADJUSTING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のスキュー調整方法・スキュー調整装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CONFIRMING/TESTING CALL INFORMATION DATA例文帳に追加

呼情報データ確認試験装置及び呼情報データ確認試験方法 - 特許庁

ROLLER FOR BENDING STRENGTH TEST OF CONCRETE AND TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

コンクリートの曲げ強度試験用ローラおよびこれを用いた試験装置 - 特許庁

PHASE CALCULATING METHOD, PHASE CALCULATING DEVICE METHOD OF TESTING FOR THE DEVICE例文帳に追加

位相算出方法、位相算出装置及びその装置の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING MAGNETIC DISK DEVICE, TESTING/ADJUSTING DEVICE, AND CARRYING CONTAINER例文帳に追加

磁気ディスク装置の製造方法、試験/調整装置及び搬送容器 - 特許庁

UNIVERSAL COUPLING FOR MEMBER SUPPORTING AND TENSION AND TORSION TESTING MACHINE USING THE SAME例文帳に追加

部材支持用自在継手及びそれを用いた引張り・ねじり試験機 - 特許庁

TEST MODULE AND TESTING METHOD FOR MEASURING COLOR AND LIGHT INTENSITY例文帳に追加

光の色及び強度を測定するためのテストモジュール及び試験方法 - 特許庁

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板試験装置、回路基板試験方法、及び回路基板試験プログラム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING LEAKAGE RESISTANCE OF PIPING例文帳に追加

配管の耐漏洩性試験装置および配管の耐漏洩性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR ABSORPTION CHARACTERISTIC OF BODY FLUID ABSORBENT ARTICLE例文帳に追加

体液吸収性物品の吸収特性の試験方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING HARDWARE CIRCUIT BLOCK DESCRIBED IN HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGE例文帳に追加

ハードウエア記述言語が記述したハードウエア回路ブロックをテストする方法 - 特許庁

To provide a testing device for experimentally testing for a prescribed period operation of a power distribution system linking a distributed power source.例文帳に追加

分散型電源を連系した配電系統の運用を所定期間にわたり実験的に試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING DETECTION LEVEL IN MEASURING PART OF SHUTTER TESTING MACHINE例文帳に追加

シャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法 - 特許庁

IN-PLANE SHEARING TESTING METHOD FOR RUBBERY ELASTIC LAMINATE AND IN-PLANE SHEARING TEST EQUIPMENT例文帳に追加

ゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR REDUNDANCY CALCULATION, AND MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算装置及びリダンダンシ演算方法並びにメモリ試験装置 - 特許庁

APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING LIGHT BEAM PATH例文帳に追加

光線路試験装置、光線路試験システム及び光線路試験方法 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF MEMORY CELL OF INTEGRATED MEMORY AND INTEGRATED MEMORY例文帳に追加

集積メモリのメモリセルの機能をテストする方法および集積メモリ - 特許庁

To provide a method for testing a product character for effectively using testing data on a product, based on an identification number.例文帳に追加

識別番号に基づいて製品の検査データを有効活用することができる製品特性の検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

RADIATION SOLID STATE DETECTOR AND METHOD FOR TESTING SAME例文帳に追加

放射線固体検出器および放射線固体検出器の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM例文帳に追加

集積回路のテスト方法、集積回路および集積回路テストシステム - 特許庁

METHOD, SYSTEM AND DEVICE FOR TESTING RADIO BASE STATION DEVICE例文帳に追加

無線基地局装置の試験方法および試験システム並びに試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING EXPANSION FATIGUE OF CLOTH例文帳に追加

布帛の伸縮疲労試験装置および布帛の伸縮疲労試験方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR SENSITIVITY CALIBRATION OF ULTRASONIC TESTING, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波探傷試験の感度校正用試験片とその製造方法 - 特許庁

INTER-NODE TESTING METHOD FOR COMMUNICATION NETWORK AND NODE DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

通信ネットワークのノード間試験方法及びそれに用いるノード装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUNCTION OF ACTIVE FINE- STRUCTURE ELEMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING ACTIVE FINE ELEMENT USING THE TESTING METHOD例文帳に追加

能動微細構造素子の機能試験方法及び装置、当該方法を用いて能動微細素子を製造する能動微細素子製造方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING COMPONENT BUILT IN CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板に組み込まれた部品を検査するための装置及び方法 - 特許庁

To provide a technology for appropriately testing a network address translating device.例文帳に追加

ネットワークアドレス変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

PREPARATION METHOD AND PREPARATION SYSTEM FOR TESTING BOVINE SPONGIFORM ENCEPHALOPATHY例文帳に追加

牛海綿状脳症の検査前処理方法及び検査前処理システム - 特許庁

METHOD, APPARATUS AND PROBE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板検査方法およびその装置ならびに回路基板検査プローブ - 特許庁

DEVICE, PROGRAM, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェアテスト装置、ソフトウェアテストプログラム、ソフトウェアテスト方法及びソフトウェアテストシステム - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD FOR DATA TRANSFER APPARATUS, AND DATA TRANSFER APPARATUS例文帳に追加

データ転送装置の製造方法、試験方法、及びデータ転送装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR DETECTING OFF CAPACITY ABNORMALITY OF RELAY例文帳に追加

半導体試験装置およびリレーのオフ容量異常検出方法 - 特許庁

COMPUTER SYSTEM AND PERIPHERAL DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERIPHERAL DEVICE例文帳に追加

コンピュータシステムおよび周辺装置並びに周辺装置の試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING AUTOMATIC CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

自動回路試験システムを較正するシステム、方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

例文

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁




  
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