「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND A GENERATING MODULE FOR DETERMINING FILTER MASK FOR RELEVANCE TESTING OF IDENTIFIERS例文帳に追加

識別子の関連性テスト用のフィルタマスクを決定するための方法及び作成モジュール - 特許庁

To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加

試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD FOR IC TESTING DEVICE, AND SHORT- CIRCUIT DEVICE USED FOR THE CALIBRATION METHOD例文帳に追加

ＩＣ試験装置のタイミング校正方法及びこの校正方法に用いるショートデバイス - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING FUNCTIONAL BLOCK FOR SPECIFIC APPLICATION EMBEDDED IN RECONFIGURABLE ARRAY例文帳に追加

リコンフィギャラブルアレイに埋め込まれた特定用途向け機能ブロックのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

SOCKET FOR TEST, ITS MANUFACTURE, TESTING METHOD USING SOCKET FOR TEST, AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

EXCHANGING APPARATUS FOR WORK TABLE RECEIVING DISPLAY-USE SUBSTRATE AND TESTING DEVICE FOR DISPLAY-USE SUBSTRATE例文帳に追加

表示用基板を受けるワークテーブルの交換装置及び表示用基板の検査装置 - 特許庁

In the device for testing a wafer level, control means for controlling the moving means is provided.例文帳に追加

ウェハレベル試験装置には、更に、移動手段を制御する制御手段が設けられている。 - 特許庁

The operation module receives an image for testing and creates a plurality of signals for adjustment.例文帳に追加

動作モジュールは、試験用画像を受信して複数の調整用信号を生成する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DURABILITY OF METAL MATERIAL FOR LIVING BODY IN CELLULAR ENVIRONMENT, AND APPARATUS OF THE SAME例文帳に追加

細胞環境下での生体用金属材料の耐久性試験法とその装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SOUNDNESS OF THERMOMETER FOR NUCLEAR REACTOR COOLING WATER例文帳に追加

原子炉冷却水用温度計の健全性試験装置および健全性試験方法 - 特許庁

GRADATION WIRING FOR DISPLAY DEVICE, DRIVER FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS STRESS TESTING METHOD例文帳に追加

表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法 - 特許庁

REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF例文帳に追加

赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING ELECTRIC POWER SOURCE FOR DEVICE IN SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND ELECTRIC POWER SOURCE UNIT FOR DEVICE THEREIN例文帳に追加

半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 - 特許庁

To realize an apparatus for testing sealability which can surely text the sealability for a short time.例文帳に追加

短時間で確実に密封性の検査を行い得る密封性検査装置を実現する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ADHESIVE CELL COUNT AND METHOD FOR TESTING EFFECT OF DRUG USING THE SAME METHOD例文帳に追加

接着細胞数の計測方法および該方法を用いた薬剤効果試験方法 - 特許庁

GUIDE FOR PROBE CARD, PROBE CARD MOUNTING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE例文帳に追加

被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁

SUBSTRATE FOR MANUFACTURING PROBE CARD, TESTING DEVICE, DEVICE, AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MOLDING例文帳に追加

プローブカード製造用基板、検査装置、３次元造形装置および３次元造形方法 - 特許庁

GRINDING TOOL OF CONTACT PIN FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR IC例文帳に追加

半導体ＩＣのテスト用コンタクトピンの研磨治具及び半導体ＩＣのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR DECIDING PARAMETER FOR RADIO WAVE ENVIRONMENT IN RADIO TERMINAL TEST AND RADIO TERMINAL TESTING DEVICE例文帳に追加

無線端末試験における電波環境のパラメータ決定方法、無線端末試験装置 - 特許庁

DISEASE MARKER, DNA MICRO-ARRAY, METHOD FOR SCREENING DRUG AND METHOD FOR TESTING UVEITIS例文帳に追加

疾患マーカー、ＤＮＡマイクロアレイ、薬剤スクリーニング方法及びぶどう膜炎検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、半導体製造方法、ならびに半導体メモリ - 特許庁

MULTIPLE LINE GRID FOR TESTING, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TEST ELEMENT FOR CHECKING PERFORMANCE OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

テスト用マルティプルライングリッド、半導体チップ、並びに、半導体チップの性能チェック用テスト素子 - 特許庁

・Generally, no animal testing for eye irritation is undertaken for a skin-corrosive substance.例文帳に追加

・皮膚腐食性物質については、通常、動物の眼に滴下する試験は行われない。 - 経済産業省

It is used to implement other methods and may be useful for testing private extensions.If the connection to the server is lost while waiting for the reply,SMTPServerDisconnected will be raised.例文帳に追加

応答待ちのときに、サーバへのコネクションが失われると、SMTPServerDisconnectedが上がります。 - Python

TEST METHOD FOR DETERMINING OIL SEPARABILITY OF LUBRICATING GREASE, AND TESTING DEVICE FOR EXECUTING METHOD例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を求める試験方法及びこれを実施する試験装置 - 特許庁

ACCELERATED DRYING METHOD FOR HYDRAULIC MATERIAL AND LENGTH CHANGE TESTING METHOD FOR HYDRAULIC MATERIAL例文帳に追加

水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法 - 特許庁

To manage testing processes by exchanging information by allocating IP addresses for a management server and a plurality of testing devices for the management of the plurality of testing processes to products on a production line.例文帳に追加

生産ライン上の製品に対する複数の試験工程の管理について、管理サーバと複数の試験装置とをＩＰアドレスの割り振りによって情報交換し試験工程管理を行うこと。 - 特許庁

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide a testing machine for enabling a user to easily edit and prepare contents of a confirmation message in accordance with the configuration or the like of the testing machine even after software for testing machines is installed.例文帳に追加

試験機用ソフトウエアがインストールされた後においても、ユーザが試験機の構成等に応じて容易に確認メッセージの内容を編集および作成することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING DEVICE, AUTOMATICALLY TESTING METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH CONTROL PROGRAM FOR AUTOMATIC TEST RECORDED THEREON例文帳に追加

自動テスト装置、自動テスト方法及び自動テスト用制御プログラムが記録されたコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To realizes a device and method for testing a memory capable of shortening a testing time of a memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリの試験時間を短縮することができるメモリ試験装置及びメモリ試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a communication system in which effective testing can be performed corresponding to its objects while time, cost, and man-hours for the testing can be drastically reduced.例文帳に追加

時間・経費、工数の大幅な削減を図り、目的に応じて有効な試験を実施可能な通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain.例文帳に追加

リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an acceleration testing device and an acceleration testing method of software for efficiently executing the acceleration test of the software.例文帳に追加

ソフトウェアの加速試験を効率的に実行することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method which are utilized for an accommodation of an electronic component having a pressurizing housing with a conductor.例文帳に追加

加圧ハウジングが導電体を有した電子コンポーネントの収容に利用される試験装置と試験方法とを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device.例文帳に追加

低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING AS WELL AS COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR TESTING AND PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

半導体テスト装置、半導体テスト方法、および半導体テスト処理プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.例文帳に追加

被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁

To provide a method for testing the Internet permitting to carry out impartial testing without necessitating large scale communication facilities.例文帳に追加

大規模な通信設備を必要とせず、公平な試験を実施することを可能とするインターネット試験実施方法を提供する。 - 特許庁

The method(200) includes a step(202) for deciding, if a first testing device or a second testing device is connected to the system.例文帳に追加

本方法(200)は、第１の試験装置または第２の試験装置がシステムに接続されているか否かを判定するステップ(202)を含む。 - 特許庁

To provide a transmission processing apparatus testing method for the testing development of transmission processing apparatus software correctly and efficiently.例文帳に追加

通信処理装置ソフトウェアの開発の試験を正確かつ効率的に実施する通信処理装置試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software.例文帳に追加

本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cycle life testing method for a lithium secondary battery which can shorten duration of existing cycle life testing.例文帳に追加

既存のサイクル寿命検査の期間を短縮することができるリチウム二次電池のサイクル寿命検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁