「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING/DIAGNOSING METHOD AND TESTING/DIAGNOSING DEVICE FOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

記憶装置の試験・診断方法および試験・診断装置 - 特許庁

DRIVING METHOD FOR VIBRATION TESTING DEVICE AND VIBRATION TESTING DEVICE例文帳に追加

振動試験装置の駆動方法及び振動試験装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

液晶表示素子の検査装置及びその検査方法 - 特許庁

DISPENSING METHOD FOR SPECIMEN TESTING DEVICE AND SPECIMEN TESTING DEVICE例文帳に追加

検体試験装置の分注方法及び検体試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENT, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置およびそれを用いた試験方法 - 特許庁

TIRE TESTING MACHINE AND RUN-OUT MEASURING METHOD FOR TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ試験機とそのタイヤ試験機の芯ぶれ測定方法 - 特許庁

DEVICE FOR PULL-OUT TESTING OF EYELESS NEEDLE AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

医療用アイレス針の引抜試験装置及び試験方法 - 特許庁

REMOTE TESTING METHOD AND REMOTE TESTING SYSTEM FOR CONTROLLER例文帳に追加

制御装置の遠隔試験方法及び遠隔試験システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験システム及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR ELECTRICAL EQUIPMENT, AND TESTING METHOD OF ELECTRICAL EQUIPMENT例文帳に追加

電気機器用試験装置および電気機器の試験方法 - 特許庁

PEELING RESISTANCE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR PRESSURE SENSITIVE ADHESIVE TAPE例文帳に追加

粘着テープの耐剥離性試験方法、および、試験装置 - 特許庁

CALIBRATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, THE SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置の校正方法、半導体試験装置、半導体試験方法 - 特許庁

DOVETAIL CONNECTION FOR MATERIAL TESTING例文帳に追加

材料試験用蟻継ぎ接続部 - 特許庁

ONE PAIR OF RIMS FOR TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ試験機用の一対のリム - 特許庁

DURABILITY PERFORMANCE TESTING METHOD FOR TIRE例文帳に追加

タイヤの耐久性能テスト方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR CONTROL OF TRANSLATION AND ATTITUDE例文帳に追加

並進・姿勢制御試験装置 - 特許庁

POWER UNIT FOR IC TESTING DEVICE例文帳に追加

ＩＣ試験装置用電源装置 - 特許庁

PULLING RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOCK BOLT例文帳に追加

ロックボルト用引抜抵抗試験装置 - 特許庁

STRUCTURE FOR TESTING LIFE OF WIRING例文帳に追加

配線寿命の試験用構造 - 特許庁

VIBRATION TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品用振動試験装置 - 特許庁

TESTING MOUNT FOR GRID ARRAY PACKAGE例文帳に追加

グリッドアレイパッケージの試験用実装 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR TURNING PERFORMANCE OF CARRIAGE例文帳に追加

台車旋回性能試験装置 - 特許庁

ARITHMETIC METHOD FOR EQUIVALENCE TESTING DEVICE例文帳に追加

等価試験装置の演算方法 - 特許庁

FLOW CELL SYSTEM FOR SOLUBILITY TESTING例文帳に追加

溶解度測定用のフローセルシステム - 特許庁

INSERT FOR ELECTRONIC COMPONENT-TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

電子部品試験装置用インサート - 特許庁

TESTING METHOD FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF SENSOR例文帳に追加

センサの温度特性検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF ELECTRICAL CIRCUIT例文帳に追加

電気回路の機能検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING EXPANSIVITY OF COAL例文帳に追加

石炭の膨張性試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップを検査する方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DIGITAL OPERATION CIRCUIT例文帳に追加

デジタル演算回路の試験方法 - 特許庁

TEST HEAD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置用テストヘッド - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING FUNCTION OF NETWORK EQUIPMENT例文帳に追加

ネットワーク機器の機能試験装置 - 特許庁

METHOD OF TESTING TRANSFORMER FOR GAUGE例文帳に追加

計器用変成器の試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR VEHICLE-TRAVELING CHARACTERISTICS例文帳に追加

車両走行特性試験装置 - 特許庁

SOCKET FOR TESTING OPTICAL SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

光半導体素子テスト用ソケット - 特許庁

BURSTING STRENGTH TESTING MACHINE FOR PAPER OR THE LIKE例文帳に追加

紙などの破裂強さ試験機 - 特許庁

METHOD FOR TESTING OPERATION OF COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

通信機器の動作試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING INTERFERENCE ELIMINATION CAPABILITY例文帳に追加

妨害排除能力試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリ試験方法・メモリ試験装置 - 特許庁

REVOLUTION TESTING ARRANGEMENT FOR STEERING WHEEL例文帳に追加

ステアリングホイールの回転試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR INTERFERENCE REJECTION CAPABILITY例文帳に追加

妨害排除能力試験装置 - 特許庁

CONTINUITY TESTING METHOD FOR ELECTRIC CONNECTOR例文帳に追加

電気コネクタの導通検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING KEY TELEPHONE SET例文帳に追加

ボタン電話試験方法と装置 - 特許庁