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For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
TESTING APPARATUS FOR TRANSPORTATION TRAIN例文帳に追加
搬送用電車のテスト装置 - 特許庁
STRENGTH-TESTING MACHINE FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加
電子機器用強度試験機 - 特許庁
PRESSURIZING DEVICE FOR TESTING INSIDE OF PIPE例文帳に追加
配管内部加圧試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING GEAR COUPLING MODEL例文帳に追加
歯車継手モデル試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPTICAL ELEMENT ARRAY例文帳に追加
光素子アレイの試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELASTIC CONTACT TERMINAL例文帳に追加
弾性接触端子の試験装置及び試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
液晶表示素子の検査方法、及び検査装置 - 特許庁
TESTING TOOL FOR TESTING AIRTIGHTNESS OR WATERTIGHTNESS OF TUBE FITTING BASE BODY例文帳に追加
管継手基体の気密又は水密試験用治具 - 特許庁
MODULE FOR TESTING, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
試験用モジュール及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の試験装置及びその試験方法 - 特許庁
SCRATCHABILITY TESTING MACHINE FOR FLOOR MATERIAL, AND TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加
床材用傷付き性試験機、及びこれを用いた試験装置、試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING RADIO COMMUNICATIONS EQUIPMENT例文帳に追加
無線通信機器試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR DATA PROCESSOR例文帳に追加
データ処理装置の試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR HOT BENDING STRENGTH例文帳に追加
熱間曲げ強度試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING TRANSACTION COMPETITION例文帳に追加
トランザクション競合試験方式 - 特許庁
LAYER SHORT CIRCUIT TESTING METHOD FOR COIL例文帳に追加
コイルのレアーショート試験方法 - 特許庁
HYDRAULIC PRESSURE RESISTANCE TESTING DEVICE FOR TUBE例文帳に追加
管体の耐水圧試験装置 - 特許庁
HAMMERING TESTING DEVICE FOR STRUCTURE, AND HAMMERING TESTING DEVICE FOR TUNNEL例文帳に追加
構造物打音検査装置およびトンネル用打音検査装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
プリント回路板の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の検査方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加
データ記憶装置の試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MAGNETIC SENSOR MODULE例文帳に追加
磁気センサモジュールの検査方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR GAS ANALYTICAL DEVICE例文帳に追加
ガス分析装置の試験装置 - 特許庁
TESTING SOCKET FOR SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加
半導体機器のテスト用ソケット - 特許庁
METHOD FOR TESTING WHOLE CHANNEL LOOP BACK TESTING METHOD FOR RELAY AND SWITCHING DEVICE例文帳に追加
中継器用全チャネルループバック試験方法及び切替装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR LIQUID TANK LEVEL SENSOR例文帳に追加
液槽レベルセンサの検査装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TIRE VIBRATIONAL CHARACTERISTIC例文帳に追加
タイヤ振動特性試験装置 - 特許庁
TESTING AND RECORDING DEVICE FOR DIE, AND TESTING AND RECORDING METHOD FOR DIE例文帳に追加
金型用検査記録装置、及び金型の検査記録方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR RUNNING OF AUTOMOBILE例文帳に追加
自動車の走行試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
プリント回路板の試験方法 - 特許庁
INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY例文帳に追加
メモリ用内蔵自己テスト回路 - 特許庁
To reduce the total time for a testing for a semiconductor device testing system.例文帳に追加
半導体装置の試験システムの試験の総時間の短縮。 - 特許庁
OPERATION TESTING DEVICE FOR MICROPROCESSOR例文帳に追加
マイクロプロセッサの動作試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING UNVULCANIZED CARCASS PLY例文帳に追加
未加硫カーカスプライの試験方法 - 特許庁
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