| 意味 | 例文 |
For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
METHOD FOR TESTING CYTOTOXICITY例文帳に追加
細胞毒性試験方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING POWER SUPPLY CIRCUIT例文帳に追加
電源回路試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING COMMUNICATION PATH例文帳に追加
通信経路試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR IMPERVIOUS SHEET例文帳に追加
遮水シート検査方式 - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置テストシステム - 特許庁
SUPPORT SYSTEM FOR TESTING SOFTWARE例文帳に追加
ソフトウェア試験支援装置 - 特許庁
INSTRUMENT FOR TESTING FINE WIRE SAMPLE例文帳に追加
細線試料試験治具 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING WATER PRESSURE OF TIRE例文帳に追加
タイヤ水圧試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NEUROTOXICITY例文帳に追加
神経毒性試験方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験装置 - 特許庁
CONDUCTIVITY TESTING JIG FOR CONNECTOR例文帳に追加
コネクタの導通検査治具 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SECONDARY BATTERY例文帳に追加
二次電池の検査方法 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF TESTING例文帳に追加
半導体装置のテストシステムおよびテスト方法 - 特許庁
APPARATUS FOR AUTOMATICALLY TESTING SECONDARY CELL AND TESTING METHOD例文帳に追加
二次電池自動試験装置及び試験方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体検査装置、半導体検査方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR STORAGE SYSTEM例文帳に追加
ストレージシステムの試験装置及び同試験方法 - 特許庁
CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁
PROBE CARD FOR WAFER TESTING AND WAFER TESTING DEVICE例文帳に追加
ウエハ検査用プローブカードおよびウエハ検査装置 - 特許庁
To provide a precise power supply in a testing device for testing an electronic device.例文帳に追加
電子デバイスを、高い精度で試験する。 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER, AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウエハの試験装置及び試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の試験方法 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ検査装置 - 特許庁
SUPERCONDUCTIVE WIRE FOR TESTING例文帳に追加
試験用超電導線材 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加
落下衝撃試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の検査方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR ATOMIZATION OF SALT WATER例文帳に追加
塩水噴霧試験装置 - 特許庁
MACHINE FOR TESTING HIGH-CYCLE MATERIAL例文帳に追加
高サイクル材料試験機 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TOUCH PANEL AND TESTING METHOD FOR TOUCH PANEL例文帳に追加
タッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
半導体素子の試験装置およびその試験方法 - 特許庁
BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置試験ボード - 特許庁
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