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「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > For testingの意味・解説 > For testingに関連した英語例文

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For testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6752



例文

END NIPPER FOR TESTING CONDUCTION (CIRCUIT)例文帳に追加

導通(回路)試験用エンドニッパ - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験方法及び半導体デバイス試験装置 - 特許庁

SHEET FOR TESTING SHARPNESS OF CUTLERY例文帳に追加

刃物の切れ味検査用シート - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR PRODUCTS例文帳に追加

半導体製品の試験回路 - 特許庁

例文

TESTING APPARATUS FOR EXTENDABLE COMPONENT例文帳に追加

伸縮型部品の試験装置 - 特許庁


例文

TESTING DEVICE FOR ELEVATOR GOVERNOR例文帳に追加

エレベータ調速機の試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

検査装置および検査方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加

不揮発性メモリの検査回路 - 特許庁

TESTING PIECE FOR IMMUNOLOGICAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

免疫測定法用試験片 - 特許庁

例文

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING COIL例文帳に追加

コイル試験装置および方法 - 特許庁

例文

METHOD FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING AND APPARATUS FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING USED FOR THIS METHOD例文帳に追加

耐電圧試験方法とこの方法に使用する耐電圧試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR OBJECT DETECTING MEANS, AND TESTING METHOD例文帳に追加

物体検出手段の試験装置、及び試験方法 - 特許庁

DROP IMPACT TESTING MACHINE, AND TESTING METHOD FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加

落下衝撃試験機および落下衝撃試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR VEHICULAR ELECTRONIC MODULE例文帳に追加

車両用電子モジュールの検査装置及び検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING DC CHARACTERISTIC THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置とそのDC特性試験方法 - 特許庁

TELEPHONE DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR TELEPHONE DEVICE例文帳に追加

電話装置試験システムおよび電話装置の試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELECTRIC EQUIPMENT PROTECTION CIRCUIT例文帳に追加

電気設備保護回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL TRANSMISSION LINE例文帳に追加

光パルス試験装置および光伝送路試験方法 - 特許庁

IMAGE SENSOR, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁

TESTING PROCESS AND TESTING CIRCUIT FOR DIFFERENTIAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加

差動出力回路の試験方法および試験回路 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

D/Aコンバータの試験装置およびその試験方法 - 特許庁

ANTENNA SYSTEM FOR TESTING EMC AND EMC TESTING APPARATUS例文帳に追加

EMC試験用アンテナ装置及びEMC試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SELF-ADVANCING TESTING MACHINE例文帳に追加

自走式試験機の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

AIRTIGHT TESTING APPARATUS FOR PUMP FOR LIQUEFIED GAS例文帳に追加

液化ガス用ポンプの気密試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加

不揮発性メモリの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING COLLISION OF VEHICLE例文帳に追加

車両の衝突試験方法 - 特許庁

ULTRASONIC TESTING DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの超音波試験装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING TRAIN COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

列車通信システム試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING DETERIORATION OF SEALING MATERIAL例文帳に追加

シーリング材の劣化試験装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING AUXILIARY MACHINERY DRIVE CIRCUIT例文帳に追加

補機駆動回路の試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR IMAGE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

画像処理装置の試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING INSULATION MONITOR例文帳に追加

絶縁監視装置の試験装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING IMAGE DRIVER例文帳に追加

映像駆動ドライバの試験装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR WELDS例文帳に追加

溶接部の非破壊検査方法 - 特許庁

REMOTE TESTING APPARATUS FOR PROTECTIVE DEVICE例文帳に追加

保護装置の遠隔試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR NETWORK SERVICE SYSTEM例文帳に追加

ネットワークサービスシステムの試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING CURRENT COLLECTION OF PANTAGRAPH例文帳に追加

パンタグラフの集電試験装置 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TESTING JIG FOR CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路板の耐電圧試験治具 - 特許庁

TESTING METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC ELEMENT例文帳に追加

圧電セラミック素子の検査方法 - 特許庁

RADIO TESTING METHOD FOR MOBILE STATION例文帳に追加

移動局の無線試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR MAGNETIC DISK UNIT例文帳に追加

磁気ディスク装置の試験方法 - 特許庁

DEVICE FOR CONTROLLING MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機の制御装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING PACKET TRANSMISSION CHARACTERISTIC例文帳に追加

パケット伝達特性試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ALLERGIC DISORDER例文帳に追加

アレルギー性疾患の検査方法 - 特許庁

EVALUATION TESTING APPARATUS FOR PM MOTOR例文帳に追加

PMモータの評価試験装置 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING NETWORK例文帳に追加

ネットワークを試験するためのシステム - 特許庁

METHOD FOR TESTING ALLERGIC DISEASE例文帳に追加

アレルギー性疾患の検査方法 - 特許庁

TEMPERATURE TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の温度試験装置 - 特許庁

例文

DEVICE FOR TESTING HEAD OR DISK例文帳に追加

ヘッドまたはディスクの試験装置 - 特許庁




  
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