例文 (6件) |
LIN2を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 6件
A reactor L1 has inductance Lin1, and a reactor L2 has inductance Lin2(>Lin1).例文帳に追加
リアクトルL1はインダクタンスLin1を有し、リアクトルL2はインダクタンスLin2(>Lin1)を有する。 - 特許庁
The disk is provided with data areas AR1 and AR2, lead-in areas LIN1 and LIN2, and lead-out areas LOUT1 and LOUT2.例文帳に追加
ディスクには、データ領域AR1、AR2、リードイン領域LIN1、LIN2、及びリードアウト領域LOUT1、LOUT2が設けられる。 - 特許庁
An inspection light generating mechanism 122 irradiates an inspection light Lin2 in parallel with a tangent direction of the wafer 10 and immediately above the portion P1.例文帳に追加
検査光発生機構122は、ウェハ10に対する接線方向と平行にかつ検査箇所P1直上に検査光Lin2を照射する。 - 特許庁
An inspection light generation mechanism 122 irradiates inspection light Lin2 to the inspected position on the wafer 10 at an incident angle A2.例文帳に追加
検査光発生機構122は、ウェハ10上の検査箇所に入射角度A2を有して検査光Lin2を照射する。 - 特許庁
A detecting mechanism 131 for detecting a reflection light Lre1 of the inspection light Lin1 from the top of the wafer 10 and a detecting mechanism 132 for detecting the inspection light Lin2 passing if a foreign matter does not exist are provided.例文帳に追加
ウェハ10上からの検査光Lin1の反射光Lre1を検出する検出機構131、異物が無ければ通過してくる検査光Lin2を検出する検出機構132が設けられている。 - 特許庁
A detection mechanism 131 is provided for detecting reflected light Lre1 of the inspection light Lin1 from the wafer 10 while a detection mechanism 132 is provided for detecting reflected light Lre2 of the inspection light Lin2.例文帳に追加
ウェハ10上からの検査光Lin1の反射光Lre1を検出する検出機構131、検査光Lin2の反射光Lre2を検出する検出機構132が設けられている。 - 特許庁
例文 (6件) |
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