「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(133ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR MEASURING ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板の電気的特性の測定方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD AND DEVICE FOR SHEET LIKE CUT OBJECT例文帳に追加

シート状の切断物測長方法および装置 - 特許庁

VACUUM MEASURING METHOD FOR VACUUM INSULATED BREAKER DEVICE例文帳に追加

真空絶縁開閉装置の真空度測定方法 - 特許庁

CONCENTRATION MEASURING METHOD FOR POLYCARBOXYLIC ACIDS AND INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加

ポリカルボン酸類の濃度測定方法および装置 - 特許庁

POSITRON ANNIHILATION GAMMA-RAY MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

陽電子消滅γ線測定方法および装置 - 特許庁

SIMPLE MELT VISCOSITY MEASURING METHOD OF THERMOPLASTIC RESIN例文帳に追加

熱可塑性樹脂の簡易溶融粘度測定方法 - 特許庁

METHOD, APPARATUS AND PROGRAM FOR MEASURING OPTICAL SIGNAL WAVEFORM例文帳に追加

光信号波形測定方法、装置及びプログラム - 特許庁

VOLTAGE MEASURING DEVICE AND ITS DETERIORATION DETERMINATION METHOD例文帳に追加

電圧測定装置およびその劣化判定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING TOTAL ORGANIC CARBON CONTENT例文帳に追加

全有機炭素含量の測定方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR PRESSURE MEASURING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体圧力測定装置とその製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND DEVICE FOR ULTRATRACE SUBSTANCE例文帳に追加

超微量物質の計測方法及び計測装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING LEVEL OF RETICLE OF SEMICONDUCTOR ALIGNER例文帳に追加

半導体露光装置のレチクルのレベル測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MOLD RELEASING FORCE OF MOLDED ITEM例文帳に追加

成形品離型力測定方法及び装置 - 特許庁

LASER BEAM WORKING DEVICE, LASER BEAM WORKING TEMPERATURE MEASURING INSTRUMENT, LASER BEAM WORKING METHOD AND METHOD FOR MEASURING LASER BEAM WORKING TEMPERATURE例文帳に追加

レーザ加工装置、レーザ加工温度測定装置、レーザ加工方法及びレーザ加工温度測定方法 - 特許庁

WAVEFORM MEASURING METHOD AND DEVICE OF HIGH FREQUENCY SIGNAL例文帳に追加

高周波信号の波形測定方法及び装置 - 特許庁

ELECTRON SPECTROSCOPIC APPARATUS AND ELECTRON SPECTROSCOPIC MEASURING METHOD例文帳に追加

電子分光装置及び電子分光測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING FLOW RATE AND ULTRASONIC FLOWMETER例文帳に追加

流量測定方法及び超音波流量計 - 特許庁

NEURON SENSITIVITY MEASURING METHOD FOR NEUTRON DETECTOR例文帳に追加

中性子検出器の中性子感度測定方法 - 特許庁

MEASURING PROBE FOR IMMUNIZATION AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

免疫法測定用プローブ及びその製造方法 - 特許庁

RADIOACTIVITY MEASURING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

放射能測定装置および放射能測定方法 - 特許庁

SYSTEM, APPARATUS, AND METHOD FOR MEASURING ROAD SURFACE MARK AUTOMATICALLY例文帳に追加

路面標示自動計測システム、装置及び方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE, MEASUREMENT METHOD, AND SOUND SIGNAL PROCESSOR例文帳に追加

計測装置、計測方法、音声信号処理装置 - 特許庁

DISPLACEMENT-MEASURING APPARATUS AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

変位量計測装置及び変位量計測方法 - 特許庁

STANDARD ATTITUDE CORRECTION METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

計測機器の基準姿勢補正方法及び装置 - 特許庁

BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING APPARATUS AND CONTROLLING METHOD例文帳に追加

生体情報計測装置およびその制御方法 - 特許庁

FORMATION OF ANODE AND METHOD FOR MEASURING ANODE THICKNESS例文帳に追加

アノード作製方法及びアノード厚さ測定方法 - 特許庁

CONCENTRATION MEASURING METHOD FOR GAS HYDRATE, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ガスハイドレートの濃度測定方法およびその装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF REDUCED AMOUNT OF EMISSION OF CARBON DIOXIDE例文帳に追加

二酸化炭素排出削減量の計測方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CONVERGENCE THROUGH USE OF MIXED COLOR PATTERN例文帳に追加

混色パターンを使用したコンバージェンス測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING LINING OF BUTTERFLY VALVE例文帳に追加

バタフライ弁のライニング測定方法およびその装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING HALF-WAVE VOLTAGE OF LIGHT MODULATOR例文帳に追加

光変調器の半波長電圧の測定方法 - 特許庁

MARGIN LEVEL MEASUREMENT METHOD, AND ITS SYSTEM AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

余裕度測定方法、及びそのシステムと測定器 - 特許庁

BEAM INTENSITY DISTRIBUTION MEASURING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND BEAM RESOLUTION CAPACITY MEASURING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビームのビーム強度分布測定方法及び荷電粒子ビームのビーム分解能測定方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR APD MEASURING DEVICE例文帳に追加

ＡＰＤ測定器の検査装置及び検査方法 - 特許庁

SURFACE ELECTROMETER AND METHOD OF MEASURING SURFACE POTENTIAL例文帳に追加

表面電位計および表面電位測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DEPOSITION THICKNESS AND DEPOSITION SYSTEM例文帳に追加

蒸着膜厚測定方法及び蒸着システム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING VOLUMETRIC FLOW例文帳に追加

ボリュメトリックフローを計測するための方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING BODY FAT PERCENTAGE AND BODY FAT METER例文帳に追加

体脂肪率測定方法および体脂肪計 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CONTACT STATE例文帳に追加

接触状態計測方法及びその計測装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING BASIC DATA OF LENS例文帳に追加

レンズの基礎データの測定方法及び測定装置 - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING ADHESION FORCE OF FINE PARTICULATE例文帳に追加

微粒子の付着力測定方法および装置 - 特許庁

ELECTRIC MEASURING METHOD OF CRACK DEPTH OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートのひび割れ深さの電気的計測方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ELECTROLYTE例文帳に追加

電解質測定方法および電解質測定装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SURFACE SHAPE OF SEMICONDUCTOR THIN FILM例文帳に追加

半導体薄膜の表面形状測定方法 - 特許庁

INTEGRAL POWER CONSUMPTION MEASURING SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

積算電力量計測システムおよびその方法 - 特許庁