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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
METHOD FOR EXPANDING DETERMINATION ZONE OF ELECTROLYTE-MEASURING REAGENT例文帳に追加
電解質測定試薬の定量域拡大方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING FEEBLE LIGHT SPECTRUM, AND INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加
微弱光スペクトルの測定方法及びその装置 - 特許庁
SURFACE POTENTIAL MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
表面電位測定装置、表面電位測定方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TILT ANGLE OF LIQUID CRYSTAL CELL例文帳に追加
液晶セルのチルト角測定方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SPEED USING IMAGE SENSOR例文帳に追加
イメージセンサを用いた速度計測方法及び装置 - 特許庁
To provide an electronic device for measuring body fat, method of measuring body fat using the same, and health management system using the device and method.例文帳に追加
体脂肪測定用電子機器、その方法及びそれを用いた健康管理システムを提供する。 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING REACTOR LOSS AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
リアクトル損失測定装置及びその測定方法 - 特許庁
ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
電気物性の測定方法および顕微鏡装置 - 特許庁
LOCATION INFORMATION MEASURING METHOD AND PORTABLE TERMINAL例文帳に追加
位置情報測定方法および携帯端末装置 - 特許庁
VARIABLE GAIN AMPLIFIER DEVICE AND METHOD FOR MEASURING ITS GAIN例文帳に追加
可変増幅装置及びその利得測定方法 - 特許庁
MEASURING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE FABRICATION METHOD例文帳に追加
測定装置、露光装置及びデバイスの製造方法 - 特許庁
DIMENSION MEASURING METHOD, AND BOTH-END FACE INTERFEROMETER例文帳に追加
寸法測定方法および両端面干渉計 - 特許庁
STRESS MEASURING APPARATUS AND STRAIN GAUGE MOUNTING METHOD例文帳に追加
応力計測装置及び歪ゲージの取付方法 - 特許庁
OUTER DIAMETER MEASURING DEVICE AND ROLLER BEARING MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
外径測定装置およびころ軸受製造方法 - 特許庁
UNDERWATER ANECHOIC CHAMBER AND ELECTROMAGNETIC NOISE MEASURING METHOD例文帳に追加
水中電波暗室及び電磁ノイズ計測方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING SEMICONDUCTOR CAPACITY TYPE ACCELERATION SENSOR例文帳に追加
半導体容量式加速度センサの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING RESOLUTION OF IMAGE SENSOR, AND TEST SHEET例文帳に追加
イメージセンサの解像度測定方法、およびテストシート - 特許庁
SHAPE MEASURING METHOD OF POLISHING PAD, POLISHING METHOD OF WORKPIECE AND SHAPE MEASURING DEVICE FOR POLISHING PAD例文帳に追加
研磨布の形状測定方法及び被加工物の研磨方法、並びに研磨布の形状測定装置 - 特許庁
OPTICAL POWER SENSITIVITY CORRECTION METHOD AND OPTICAL POWER MEASURING APPARATUS例文帳に追加
光パワー感度補正方法、光パワー測定装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SOUND PRESSURE OF ULTRASONIC SHOWER例文帳に追加
超音波シャワーの音圧測定方法および装置 - 特許庁
METHOD OF MEASURING RECOMBINATION LIFE TIME IN SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエハの再結合ライフタイム測定方法 - 特許庁
OPTICAL DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
光学式変位測定装置及びその測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DEGREE OF SOFTWARE QUALITY例文帳に追加
ソフトウェア品質の測定装置及び測定方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
計測装置、欠陥検査装置及び計測方法 - 特許庁
TEMPERATURE-SENSITIVE SNOW DEPTH METER AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
感温式積雪深計およびその計測方法 - 特許庁
TRANSMISSION DIFFUSION EMITTANCE TYPE FILM THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加
透過拡散放射率型フイルム厚さ測定方法 - 特許庁
MULTI-ELEMENT AND MULTI-COMPONENT SIMULTANEOUS MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
多元素多成分同時計測装置及び方法 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING TOTAL ORGANIC CARBON CONTENT例文帳に追加
全有機炭素含量の測定方法および装置 - 特許庁
VERTICAL PROFILE MEASURING METHOD OF COEFFICIENT OF HORIZONTAL PERMEABILITY例文帳に追加
水平透水係数の鉛直分布測定方法 - 特許庁
IN-LINE TYPE SHEET WEIGHT MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加
インライン式シート重量計測方法及び装置 - 特許庁
MEASURING METHOD AND INSPECTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の測定方法および検査装置 - 特許庁
INTELLECTUAL CAPITAL MEASUREMENT SYSTEM AND INTELLECTUAL CAPITAL MEASURING METHOD例文帳に追加
知的資本測定システム、知的資本測定方法 - 特許庁
PRECISION GRINDING MACHINE AND GRINDING WHEEL RADIUS MEASURING METHOD例文帳に追加
精密研削盤および砥石半径測定方法 - 特許庁
WIRELESS CHANNEL MEASURING SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF THE SAME例文帳に追加
無線チャネル測定システム、その方法及びプログラム - 特許庁
MEASURING HEAD OF AIR MICROMETER AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
エアマイクロメータの測定ヘッド及びその製造方法 - 特許庁
INSERTION LOSS MEASURING METHOD ON ELEMENT FOR LIGHT TRANSMISSION例文帳に追加
光伝送用素子の挿入損失測定方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING BOARD THICKNESS例文帳に追加
板厚の測定装置および板厚の測定方法 - 特許庁
IMAGE MEASURING METHOD AND INSTRUMENT, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
画像計測方法、装置、プログラム及び記録媒体 - 特許庁
STORAGE BATTERY CAPACITY MEASURING METHOD, AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加
蓄電池電気容量計測法及びその装置 - 特許庁
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