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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLICKER OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加
液晶パネルのフリッカ測定の方法および装置 - 特許庁
SENSITIZATION PROCESSING METHOD FOR SPONTANEOUS POTENTIAL MEASURING ELECTRODE例文帳に追加
自然電位測定電極の鋭敏化処理方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE AND METHOD FOR CHARGED QUANTITY DISTRIBUTION OF TONER例文帳に追加
トナーの帯電量分布測定装置及び方法 - 特許庁
OPTICAL WAVEGUIDE TYPE SPR PHENOMENON MEASURING CHIP, MANUFACTURING METHOD FOR IT AND SPR PHENOMENON MEASURING METHOD例文帳に追加
光導波路型SPR現象計測チップ、その製造方法およびSPR現象計測方法 - 特許庁
RESPONSE TIME MEASURING DISPLAYING SYSTEM AND DISPLAYING METHOD例文帳に追加
応答時間測定表示システム及び表示方法 - 特許庁
RADAR APPARATUS AND METHOD OF MEASURING AZIMUTH ANGLE OF TARGET例文帳に追加
レーダ装置及びターゲットの方位角計測方法 - 特許庁
ALIGNMENT METHOD AND OVERLAY MEASURING METHOD IN LITHOGRAPHY PROCESS, ALIGNER, AND OVERLAY MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
リソグラフィ工程におけるアライメント方法およびオーバレイ測定方法、露光装置およびオーバレイ測定装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SALT INTAKE AMOUNT例文帳に追加
塩分摂取量測定方法及び測定装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体測定装置及び半導体測定方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体測定装置および半導体測定方法 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING DEVICE BY PHASE SHIFT METHOD例文帳に追加
位相シフト法による三次元形状測定装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING NUMBER DENSITY OF DROPLET例文帳に追加
液滴数密度測定方法および測定装置 - 特許庁
PICKUP SYSTEM AND METHOD OF MEASURING ITS DISPLAY PROPERTIES例文帳に追加
撮像システム及びその表示特性測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING REFLECTANCE例文帳に追加
反射率測定方法および反射率測定装置 - 特許庁
BONDING HEAD, BONDING DEVICE, SPECIFIC CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE, BONDING METHOD, SPECIFIC CHARACTERISTICS MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
ボンディングヘッド、ボンディング装置、固有特性測定装置、ボンディング方法、固有特性測定方法、及びプログラム - 特許庁
METHOD OF MEASURING DISPLACEMENT BETWEEN FREE ANGLE WALL SURFACES例文帳に追加
自由角度壁面間の変位を測定する方法 - 特許庁
BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING DEVICE AND ITS CORRECTION METHOD例文帳に追加
生体情報計測装置及びその校正方法 - 特許庁
SURFACE POTENTIAL MEASURING METHOD AND SURFACE ELECTROMETER例文帳に追加
表面電位測定方法および表面電位計 - 特許庁
SURFACE ELECTROMETER AND SURFACE POTENTIAL MEASURING METHOD例文帳に追加
表面電位計および表面電位測定方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加
波面収差軌定機及び波面収差測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR ROBOT OUTPUT AND RESTRICTION DEVICE例文帳に追加
ロボット出力の測定方法および制限装置 - 特許庁
PHYSICAL QUANTITY MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
物理量計測装置及び物理量計測方法 - 特許庁
STRAIN MEASURING DEVICE AND STRAIN GAUGE DISCRIMINATING METHOD例文帳に追加
ひずみ測定装置およびひずみゲージ判別方法 - 特許庁
RESIDUAL CHLORINE MEASURING METHOD AND RESIDUAL CHLORINE METER例文帳に追加
残留塩素測定方法及び残留塩素計 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DOPANT CONCENTRATION OF EPITAXIAL LAYER AND METHOD FOR MEASURING RESISTIVITY OF EPITAXIAL LAYER例文帳に追加
エピタキシャル層のドーパント濃度測定方法およびこれを用いたエピタキシャル層の抵抗率測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR ANTI-CALPASTATIN ANTIBODY AND MEASUREMENT KIT例文帳に追加
抗カルパスタチン抗体の測定法及び測定キット - 特許庁
DIFFRACTION GRATING REFLECTED WAVELENGTH MEASURING METHOD AND DEVICE, AND PHYSICAL QUANTITY MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
回折格子反射波長計測方法及びその装置並びに物理量計測方法及びその装置 - 特許庁
PIEZOELECTRIC OSCILLATOR AND METHOD OF MEASURING PIEZOELECTRIC OSCILLATOR例文帳に追加
圧電発振器および圧電発振器の測定方法 - 特許庁
DEW POINT METER, HYGROMETER, DEW POINT DERIVATION APPARATUS, HUMIDITY DERIVATION APPARATUS, DEW POINT MEASURING METHOD AND HUMIDITY MEASURING METHOD例文帳に追加
露点計、湿度計、露点導出装置、湿度導出装置、露点測定方法、及び湿度測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING CLOUD POINT OF POLYGLYCERIN FATTY ACID ESTER例文帳に追加
ポリグリセリン脂肪酸エステルの曇点測定方法 - 特許庁
〔Method 3〕Measuring the risk based on a Monte Carlo simulation.6 例文帳に追加
〔方法3〕モンテカルロシミュレーションに基づく方法6 - 金融庁
NOVEL FLUORESCENT CHELATING REAGENT AND METAL ION MEASURING METHOD例文帳に追加
新規蛍光キレート試薬と金属イオンの測定法 - 特許庁
ION BEAM IRRADIATION APPARATUS, AND ION BEAM MEASURING METHOD例文帳に追加
イオンビーム照射装置及びイオンビーム測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING HOMOCYSTEINE IN CYSTEINE COEXISTING SPECIMEN例文帳に追加
システイン共存試料中のホモシステインの測定法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING UREA NITROGEN AND REAGENT FOR MEASUREMENT例文帳に追加
尿素窒素の測定方法及び測定用試薬 - 特許庁
LASER WAVELENGTH CONTROLLER, GAS CONCENTRATION MEASURING DEVICE, LASER WAVELENGTH CONTROL METHOD, AND GAS CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加
レーザの波長制御装置、ガス濃度測定装置、レーザの波長制御方法およびガス濃度測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING VISCOELASTICITY OF POWDER例文帳に追加
粉体の粘弾性測定方法およびその装置 - 特許庁
CONDUCTIVITY MEASURING METHOD OF GEL POLYMER ELECTROLYTE例文帳に追加
ゲル状ポリマー電解質の導電率測定方法 - 特許庁
INDUCTOR MEASURING TOOL FOR ELECTRONIC PART AND ITS METHOD例文帳に追加
電子部品のインダクタ測定治具およびその方法 - 特許庁
METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL TEST OF POSITION MEASURING DEVICE, AND POSITION MEASURING DEVICE FOR PERFORMING THIS METHOD例文帳に追加
位置測定装置の機能テストを実施する方法およびこの方法を実施するための位置測定装置 - 特許庁
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