| 意味 | 例文 |
Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
DISK DRIVE, ECCENTRIC AMOUNT MEASURING METHOD AND SEEKING METHOD例文帳に追加
ディスクドライブ装置ならびに偏心量測定方法およびシーク方法 - 特許庁
MASK, METHOD FOR TRANSFERRING PATTERN, METHOD FOR MEASURING ALIGNMENT ACCURACY, AND APPARATUS例文帳に追加
マスク、パターンの転写方法、アライメント精度測定方法、および装置 - 特許庁
DEFLECTION MEASURING APPARATUS AND METHOD AND DEVELOPING ROLLER SELECTING METHOD例文帳に追加
振れ測定装置、現像ローラの選別方法及び振れ測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR AND METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF FILM THEREOF例文帳に追加
半導体の製造方法および半導体の膜厚測定方法 - 特許庁
PORE SIZE MEASURING METHOD AND INTEGRITY TEST METHOD FOR POROUS SEPARATION MEMBRANE例文帳に追加
多孔性分離膜の孔径測定法及び完全性試験方法 - 特許庁
METHOD OF DETERMINING GLYCOALBUMIN FROM SWEAT, GLYCOALBUMIN MEASURING METHOD AND KIT例文帳に追加
汗よりのグリコアルブミン判定方法、および測定方法およびキット - 特許庁
OSCILLATION QUANTITY MEASURING INSTRUMENT, ITS METHOD, AND LOOP DESIGN METHOD例文帳に追加
振動量測定装置及びその方法並びにループ設計方法 - 特許庁
AREA SPECIFYING METHOD, ABERRATION MEASURING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
領域特定方法、収差計測方法及び収差計測装置 - 特許庁
POSITION MEASURING METHOD AND APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
位置計測方法及び装置、露光装置、並びにデバイス製造方法 - 特許庁
INTERFERENCE FRINGE ANALYTICAL METHOD AND ABERRATION MEASURING METHOD FOR OPTICAL ELEMENT例文帳に追加
光学素子の干渉縞解析方法及び収差測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING OXYGEN INTAKE QUANTITY, AND DEVICE USING THE SAME METHOD例文帳に追加
酸素摂取量測定方法およびこの方法を用いる装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD OF MEASURING SHEET USING X-RAY TRANSMISSION METHOD例文帳に追加
X線透過法を用いたシートの測定装置および測定方法 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENTATION FOR MEASURING POSITION, AND POSITIONAL INFORMATION CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加
位置計測方法、位置計測装置及び位置情報構築方法 - 特許庁
POWDER HOLDER, MEASURING SAMPLE MANUFACTURING METHOD, AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法 - 特許庁
ALIGNMENT PATTERN FORMING METHOD AND MASK ALIGNMENT PRECISION MEASURING METHOD例文帳に追加
アライメントパタ—ンの形成方法及びマスクとの合わせ精度測定方法 - 特許庁
ANGLE MEASURING METHOD AND ANGLE INSPECTION METHOD FOR POWER TRANSMISSION BELT例文帳に追加
動力伝動用ベルトの角度測定方法及び角度検査方法 - 特許庁
OPTICAL ELEMENT, ITS ECCENTRICITY AMOUNT MEASURING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
光学素子、その偏心量測定方法及びその製造方法 - 特許庁
PROPAGATION DELAY TIME MEASURING METHOD, SYNCHRONIZATION METHOD, AND WIRELESS LAN SYSTEM例文帳に追加
伝搬遅延時間測定方法、同期方法、及び無線LANシステム - 特許庁
METHOD OF MEASURING GAS LEAK RATE AND GAS PIPING MAINTENANCE METHOD例文帳に追加
ガス漏洩速度の測定方法およびガス配管のメンテナンス方法 - 特許庁
ABERRATION MEASURING METHOD AND APPARATUS, EXPOSURE METHOD AND APPARATUS, AND MASK例文帳に追加
収差計測方法及び装置、露光方法及び装置、並びにマスク - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING POSITION, ALIGNER AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
位置計測装置及び方法、露光装置、並びにデバイス製造方法 - 特許庁
PHASE CONNECTING METHOD FOR WAVE FRONTS BY FRINGE SCANNING INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加
縞走査干渉測定方式による波面の位相つなぎ方法 - 特許庁
SCATTERING CORRECTING METHOD, SCATTERING MEASURING METHOD, AND X-RAY CT APPARATUS例文帳に追加
散乱補正方法、散乱測定方法およびX線CT装置 - 特許庁
SECULAR CHANGE CORRECTION METHOD AND CURRENT MEASURING METHOD OF MR SENSOR例文帳に追加
MRセンサの経年変化補正方法および電流測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING TEST PIECE AND METHOD FOR MEASURING PROPERTY VALUE OF COATING LAYER例文帳に追加
試験片製造方法及びコーティング層の物性値測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PROCESSED FACE PROPERTY BY PROJECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
投影法による加工面性状の測定方法及びその装置 - 特許庁
In this mutagenesis test method, an ATP measurement method is used as a method for measuring the number of cells or a method for measuring a cell proliferation ratio.例文帳に追加
1.細胞数の測定法または細胞増殖率の測定法として、ATP測定法を用いる変異原性試験法。 - 特許庁
ROLLING MEASURING METHOD AND DEVICE FOR PIPE CONVEYOR AND METHOD FOR AVOIDING ROLLING例文帳に追加
パイプコンベアのローリング測定方法、装置及びローリング回避方法 - 特許庁
RESONATOR EXCITING METHOD AND MEASURING METHOD OF ELECTROMAGNETIC PHYSICAL PROPERTY VALUES例文帳に追加
共振器の励振方法及び電磁気的物性値の測定方法 - 特許庁
LIFETIME VALUE MEASURING METHOD AND WAFER SELECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
ライフタイム値の測定方法及びこれを用いたウエーハの選別方法 - 特許庁
CONTROL METHOD, MEASURING METHOD AND CONTROLLER FOR LASER POWER例文帳に追加
レーザパワーの制御方法、レーザパワーの測定方法、レーザパワーの制御装置 - 特許庁
HORIZONTAL RESISTANCE INCREASING METHOD AND HORIZONTAL YIELD STRENGTH MEASURING METHOD FOR PILE例文帳に追加
杭の水平抵抗増強方法及び水平耐力測定方法 - 特許庁
WATER SURFACE DISPLAY METHOD AND MEASURING METHOD OF UNDERWATER STRUCTURE POSITION例文帳に追加
水中構造物位置の水上表示方法および計測方法 - 特許庁
REFRACTORY THICKNESS MEASURING METHOD, AND ABNORMALITY DETECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
耐火物厚さ測定方法と異常検知方法、及びその装置 - 特許庁
POSITION MEASURING METHOD, ITS DEVICE, DEVICE MANUFACTURING METHOD AND EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加
位置計測方法とその装置、デバイス製造方法及び露光装置 - 特許庁
TRAPPING METHOD FOR PARTICULATE AND MEASURING METHOD FOR PARTICULATE USING SAME例文帳に追加
微粒子のトラップ方法およびこれを用いた微粒子計測方法 - 特許庁
DETECTION METHOD OF DISLOCATION, MEASURING METHOD OF NUMBER OF DISLOCATION, MEASURING METHOD OF DISLOCATION DENSITY, AND CALCULATION METHOD OF GAN CRYSTAL SUBSTRATE AND DISLOCATION DENSITY例文帳に追加
転位の検出方法、転位数の測定方法、転位密度の測定方法、GaN結晶基板および転位密度の算出方法 - 特許庁
TONER CONCENTRATION MEASURING METHOD AND SENSOR USED FOR EXECUTING THE METHOD例文帳に追加
トナー濃度の測定方法及びその方法の実施に用いるセンサ - 特許庁
INTERFERENCE MEASURING METHOD, INTERFEROMETER, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
干渉計測方法、干渉計、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING GAS TEMPERATURE BY HETERODYNE INTERFERENCE METHOD例文帳に追加
ヘテロダイン干渉法による気体温度測定方法およびその装置 - 特許庁
OPTICAL INTERFERENCE MEASURING METHOD USING PARALLEL OPTICAL HETERODYNE DETECTION METHOD例文帳に追加
並列光ヘテロダイン検出法を用いた光干渉計測方法 - 特許庁
PRECISION MEASUREMENT METHOD AND CALIBRATION METHOD OF NONCONTACT IMAGE MEASURING MACHINE例文帳に追加
非接触画像測定機の精度測定方法及び校正方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DEGREE OF POLYMERIZATION AND METHOD FOR PREPARING AROMATIC POLYETHER例文帳に追加
重合度の測定方法および芳香族ポリエーテルの製造方法 - 特許庁
RADIOACTIVE CHLORINE SEPARATION METHOD AND RADIOACTIVE CHLORINE MEASURING METHOD例文帳に追加
放射性塩素の分離方法及び放射性塩素の測定方法 - 特許庁
WEIGHT MEASURING METHOD, ARTICLE SORTING APPARATUS, AND PRODUCT SORTING METHOD例文帳に追加
重量測定装置、物品仕分け装置および物品仕分け方法 - 特許庁
FILM THICKNESS MEASURING METHOD, TEMPERATURE ADJUSTING METHOD, AND TEMPERATURE ADJUSTING DEVICE例文帳に追加
膜厚測定方法、温度調整方法及び温度調整装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING SHAPE OF PRIME FIELD AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
素体形状の測定方法及び電子部品の製造方法 - 特許庁
SENSITIVITY ADJUSTMENT METHOD, POLARIZATION MEASUREMENT METHOD, AND POLARIZATION MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
感度調整方法、偏光計測方法、及び偏光計測装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD FOR MANUFACTURING LIGHT-EMITTING DEVICE例文帳に追加
半導体ウェーハの測定方法及び発光素子の製造方法 - 特許庁
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