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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
METHOD FOR MEASURING PHASE ERROR, MR IMAGING METHOD, AND MRI EQUIPMENT例文帳に追加
位相エラー測定方法、MRイメージング方法およびMRI装置 - 特許庁
IMAGE READING METHOD, IMAGE READING DEVICE AND DATA MEASURING METHOD例文帳に追加
画像読取方法及び画像読取装置並びにデータ測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF METALLIC COMPOUND THIN FILM BY EPMA METHOD例文帳に追加
EPMA法による金属化合物薄膜の厚さ測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DEGREE OF MATURING OF MEAT, AND MATURING METHOD OF PORK例文帳に追加
食肉の熟成度の測定方法及び豚肉の熟成方法 - 特許庁
To provide a measuring method, a measuring apparatus, a measuring program and a program for generating the measuring program, which can improve usability for a user.例文帳に追加
ユーザの使い勝手を向上させることができる測定方法、測定装置、測定プログラムおよび測定プログラム生成プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a small-sized inexpensive zeta potential measuring instrument capable of measuring the zeta potential of an individual measuring target, and a zeta potential measuring method.例文帳に追加
小型且つ安価で、個々の測定対象物のゼータ電位を測定できるゼータ電位測定装置及びゼータ電位測定方法を提供する。 - 特許庁
SIR MEASURING INSTRUMENT, SIR MEASURING METHOD, SIR MEASURING PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SIR MEASURING PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加
SIR測定装置、SIR測定方法、SIR測定プログラムおよびSIR測定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
MEASURING UNIT USED IN MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION, METHOD OF MANUFACTURING MEASURING UNIT, AND MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION例文帳に追加
全反射光を利用した測定装置に用いられる測定ユニット、該測定ユニットの製造方法および全反射光を利用した測定装置 - 特許庁
SURFACE MEASURING INSTRUMENT, SURFACE MEASURING METHOD, SURFACE MEASURING PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING SURFACE MEASURING PROGRAM例文帳に追加
表面測定装置および表面測定方法、表面測定プログラム、表面測定プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
To provide an oral odor measuring instrument and an oral odor measuring method, and an odor measuring instrument and an odor measuring method, capable of measuring accurately an oral odor component and an odor component, and capable of shortening measuring times therefor.例文帳に追加
口臭成分、臭気成分をより正確に測定するとともに、その測定時間をより短くする口臭測定装置及び口臭測定方法、並びに臭気測定装置及び臭気測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a temperature measurement method for measuring the temperature of a measuring object by using only a temperature sensor measuring the temperature of the measuring object by sorting the temperature sensor measuring the temperature of the measuring object and a temperature sensor not measuring the temperature when measuring the temperature of the measuring object placed on a measuring stand on which a plurality of temperature sensors are arranged.例文帳に追加
複数の温度センサを配設した測定台に載置した被測定物の温度を測定する際に、被測定物の温度を測定している温度センサとそうでない温度センサを選別して被測定物の温度を測定している温度センサだけを用いて温度を測定する温度測定方法を提供する。 - 特許庁
DETECTION METHOD, METHOD OF MEASURING OPTICAL CHARACTERISTICS, EXPOSURE METHOD AND ALIGNER, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
検出方法、光学特性計測方法、露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF FILM USING FTIR METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
FTIR法による膜厚測定方法および半導体ウェーハの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING POSITION OF STAGE, METHOD AND APPARATUS FOR EXPOSURE, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
ステージ位置計測方法、露光方法及びその装置、並びにデバイス製造方法 - 特許庁
MEASURING METHOD, DRAWING METHOD, MANUFACTURING METHOD FOR BASE MATERIAL, AND ELECTRON BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加
測定方法、描画方法、基材の製造方法、および電子ビーム描画装置 - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING POSITION ALIGNER AND METHOD OF EXPOSURE, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
位置計測装置及び方法、露光装置及び方法、並びにデバイス製造方法 - 特許庁
DECISION METHOD FOR PRECEDING WAFER, DECISION METHOD FOR MEASURING WAFER AND ADJUSTING METHOD FOR NUMBER OF WAFERS例文帳に追加
先行ウェハ決定方法、測定ウェハ決定方法及びウェハ数調整方法 - 特許庁
MEASURING METHOD, PHOTOLITHOGRAPHY METHOD, MANUFACTURING METHOD FOR BASE MATERIAL, AND ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加
測定方法、描画方法、基材の製造方法、および電子ビーム描画装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FILM THICKNESS OF METAL PLATING LAYER例文帳に追加
金属メッキ層の膜厚測定方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING LENS CHARACTERISTICS AND ITS OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
レンズ特性の測定方法およびその光学システム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING WATER CONTENT BY USING MICROWAVES例文帳に追加
マイクロ波による含水率測定方法並びに装置 - 特許庁
MOBILE DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND DEVICE FOR STRUCTURE例文帳に追加
構造物の移動式変位計測方法及び装置 - 特許庁
TRANSCEIVER UNIT AND MEASURING METHOD OF SAME例文帳に追加
送受信ユニット及び該送受信ユニットの測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD AND DEVICE FOR SOIL PROPERTY CORE SPECIFIC RESISTANCE例文帳に追加
土質コア比抵抗測定方法及び測定装置 - 特許庁
SIGNAL MEASURING APPARATUS, METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
信号測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING MACHINE AND COMPONENT HEIGHT MEASURING METHOD例文帳に追加
電子部品実装機および部品高さ測定方法 - 特許庁
WEB THICKNESS MEASURING DEVICE AND WEB MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
ウェブの厚さ測定装置及び該ウェブの製造方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING VIBRATION, AND ULTRASONIC MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加
振動計測方法及び超音波顕微鏡システム - 特許庁
CONFIGURATION DATA ACQUISITION METHOD AND CONFIGURATION MEASURING DEVICE例文帳に追加
形状データ取得方法および形状測定装置 - 特許庁
SIGNAL MEASURING DEVICE, METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
信号測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE OF SEMICONDUCTOR WAFER FOR TEMPERATURE MONITOR例文帳に追加
温度モニタ用半導体ウエハの温度測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF FAR EDGE REFLECTANCE OF OPTICAL FIBER CABLE例文帳に追加
光ファイバーケーブルの遠端反射率の測定方法 - 特許庁
LOAD HARMONIC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF POWER SYSTEM例文帳に追加
電力系統の負荷高調波特性測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING CONTAMINATION OF SAMPLE IN ELECTRON BEAM TESTER例文帳に追加
電子ビーム検査装置の試料汚染測定方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR REFLECTION SHEET AND ITS BRIGHTNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加
反射シートの評価方法及び輝度測定装置 - 特許庁
ENVIRONMENT MEASURING METHOD, APPARATUS AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
環境測定方法及び装置並びに記憶媒体 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING LINE WIDTH, AND RETICLE例文帳に追加
線幅測定装置、線幅測定方法、およびレチクル - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING WIDTH, HEIGHT AND POSITION OF OBJECT例文帳に追加
物体の幅、高さ、位置の計測方法及び装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR RESISTIVITY AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
比抵抗測定方法及び比抵抗測定用装置 - 特許庁
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