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「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Measuring methodの意味・解説 > Measuring methodに関連した英語例文

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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28065件



例文

MAGNETIC POWDER CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND MAGNETIC POWDER CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

磁粉濃度測定装置及び磁粉濃度測定方法 - 特許庁

RADIATION MEASURING METHOD AND RADIATION MEASURING DEVICE例文帳に追加

放射線測定方法および放射線測定装置 - 特許庁

MEASURING JIG OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

半導体素子の計測治具及びその計測方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF COATING FILM IMPEDANCE例文帳に追加

塗膜インピーダンスの測定装置および測定方法 - 特許庁

例文

ACCESS TIME MEASURING CIRCUIT AND ACCESS TIME MEASURING METHOD例文帳に追加

アクセスタイム測定回路およびアクセスタイム測定方法 - 特許庁


例文

METHOD OF MEASURING CAT ACTIVIN A, AND MEASURING KIT例文帳に追加

ネコアクチビンAの測定方法およびその測定キット - 特許庁

CAM PROFILE MEASURING DEVICE AND CAM PROFILE MEASURING METHOD例文帳に追加

カムプロフィール測定装置及びカムプロフィール測定方法 - 特許庁

DEFLECTION MEASURING DEVICE OF CRANKSHAFT, AND MEASURING METHOD例文帳に追加

クランク軸のデフレクション計測装置及び計測方法 - 特許庁

TIP ANGLE MEASURING METHOD AND TIP ANGLE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

チップ角度測定方法及びチップ角度測定装置 - 特許庁

例文

CONDUCTIVITY MEASURING APPARATUS AND CONDUCTIVITY MEASURING METHOD例文帳に追加

導電率測定装置及び導電率測定方法 - 特許庁

例文

SURFACE DEPTH MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF ARTICLE例文帳に追加

物品の表面深さ測定装置と測定方法 - 特許庁

RAIL VARIATION QUANTITY MEASURING METHOD AND ITS MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

レール変動量測定方法及びその測定装置 - 特許庁

STATIC ELECTRICITY MEASURING METHOD AND STATIC ELECTRICITY MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

静電気測定方法および静電気測定装置 - 特許庁

COMBINATION MEASURING METHOD AND COMBINATION MEASURING SYSTEM例文帳に追加

組合せ計量方法および組合せ計量システム - 特許庁

GRAIN SIZE MEASURING METHOD AND GRAIN SIZE MEASURING APPARATUS FOR PARTICLES例文帳に追加

粒子の粒径測定方法及び粒径測定装置 - 特許庁

ACOUSTIC MEASURING DEVICE AND ACOUSTIC MEASURING METHOD例文帳に追加

音響式測定装置及び音響式測定方法 - 特許庁

PACKAGE SHAPE MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

パッケージ形状測定方法およびその測定装置 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING MICROORGANISM AND METHOD FOR MEASURING MICROORGANISM例文帳に追加

微生物測定装置および微生物測定方法 - 特許庁

COMPONENT PITCH MEASURING DEVICE AND COMPONENT PITCH MEASURING METHOD例文帳に追加

部品ピッチ計測装置及び部品ピッチ計測方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD OF HEXAVALENT CHROMIUM CONCENTRATION例文帳に追加

6価クロム濃度の測定装置および測定方法 - 特許庁

AZIMUTH ANGLE MEASURING DEVICE AND AZIMUTH ANGLE MEASURING METHOD例文帳に追加

方位角計測装置および方位角計測方法 - 特許庁

THICKNESS MEASURING METHOD AND THICKNESS MEASURING DEVICE OF WAFER例文帳に追加

ウエハの厚み測定方法および厚み測定装置 - 特許庁

ALIGNMENT MEASURING METHOD AND ALIGNMENT MEASURING APPARATUS例文帳に追加

位置合わせ測定方法及び位置合わせ測定装置 - 特許庁

MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF BOTTLE CAN WITH CAP例文帳に追加

キャップ付ボトル缶の測定方法及び測定装置 - 特許庁

CONDUCTIVE MATERIAL MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

導電性物質測定装置及びその測定方法 - 特許庁

ULTRAVIOLET RAY MEASURING DEVICE AND METHOD OF MEASURING ULTRAVIOLET RAY例文帳に追加

紫外線測定装置および紫外線測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND MEASURING REAGENT OF ENZYME INHIBITOR例文帳に追加

酵素阻害物質の測定方法及び測定試薬 - 特許庁

ANGLE MEASURING APPARATUS, MEASURING METHOD OF ANGLE, AND PROGRAM例文帳に追加

角度測定装置、角度の測定方法、及びプログラム - 特許庁

PHOTOELECTRON MEASURING INSTRUMENT AND PHOTOELECTRON MEASURING METHOD例文帳に追加

光電子測定装置および光電子測定方法 - 特許庁

AZIMUTH-ANGLE MEASURING INSTRUMENT AND AZIMUTH-ANGLE MEASURING METHOD例文帳に追加

方位角計測装置、および、方位角計測方法 - 特許庁

CONCENTRICITY MEASURING METHOD IN CONCENTRICITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

同心度測定装置における同心度測定方法 - 特許庁

LIGHT WAVELENGTH MEASURING DEVICE AND LIGHT WAVELENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加

光波長計測装置及び光波長計測方法 - 特許庁

OZONE CONCENTRATION MEASURING METHOD AND OZONE CONCENTRATION MEASURING DEVICE例文帳に追加

オゾン濃度測定方法及びオゾン濃度測定装置 - 特許庁

OZONE CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND OZONE CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

オゾン濃度測定装置及びオゾン濃度測定方法 - 特許庁

REAGENT FOR CALCIUM MEASURING IN SPECIMEN AND MEASURING METHOD例文帳に追加

試料中のカルシウム測定試薬及び測定方法 - 特許庁

TRANSMISSION DELAY TIME MEASURING SYSTEM AND MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加

伝送遅延時間測定システムとその測定方法 - 特許庁

END PLAY MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF REDUCTION GEAR UNIT例文帳に追加

ギアユニットのエンドプレー測定方法及び測定装置 - 特許庁

LIGHT SWITCH, LIGHT MEASURING DEVICE AND LIGHT MEASURING METHOD例文帳に追加

光スイッチ、光測定装置、および光測定方法 - 特許庁

POSITION MEASURING APPARATUS, POSITION MEASURING METHOD AND ROBOT SYSTEM例文帳に追加

位置計測装置、位置計測方法およびロボットシステム - 特許庁

GAS CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND GAS CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

ガス濃度計測装置及びガス濃度算出方法 - 特許庁

CHARGE QUANTITY MEASURING CIRCUIT AND CHARGE QUANTITY MEASURING METHOD例文帳に追加

電荷量測定回路及び電荷量測定方法 - 特許庁

SCANNING LIGHT BEAM SPOT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

走査光ビームスポット測定方法及び測定装置 - 特許庁

DIELECTRIC CONSTANT MEASURING DEVICE AND DIELECTRIC CONSTANT MEASURING METHOD例文帳に追加

誘電率測定装置及び誘電率測定方法 - 特許庁

SURFACE POTENTIAL DISTRIBUTION MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

表面電位分布測定方法および測定装置 - 特許庁

LIGHT INTENSITY MEASURING APPARATUS AND LIGHT INTENSITY MEASURING METHOD例文帳に追加

光量測定装置および光量測定方法 - 特許庁

PLATE LENGTH MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING PLATE LENGTH例文帳に追加

板長さ測定装置及び板長さ測定方法 - 特許庁

TOOL FOR MEASURING DEVICE, MEASURING DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

計測装置用治具、計測装置及び計測方法 - 特許庁

ACQUISITION DEGREE MEASURING DEVICE AND ACQUISITION DEGREE MEASURING METHOD例文帳に追加

習得度測定装置及び習得度測定方法 - 特許庁

SHAPE MEASURING APPARATUS AND ITS SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加

形状測定装置およびその形状測定方法 - 特許庁

例文

PROBE TYPE LIGHT MEASURING DEVICE, AND LIGHT MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ型光測定装置および光測定方法 - 特許庁




  
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