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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
MEASURING METHOD FOR WAVE FRONT OF LASER LIGHT例文帳に追加
レーザー光の波面の測定法 - 特許庁
OPTICAL INTERACTION MEASURING METHOD例文帳に追加
光学的相互作用測定方法 - 特許庁
OBSERVATION DEVICE, OBSERVATION METHOD, MEASURING METHOD OF ANGLE OF FARADAY ROTATION, MEASURING METHOD OF FARADAY ELLIPTICITY, MEASURING METHOD OF ANGLE OF CARR ROTATION AND MEASURING METHOD OF CARR ELLIPTICITY例文帳に追加
観測装置、観測方法、ファラデー回転角測定方法、ファラデー楕円率測定方法、カー回転角測定方法及びカー楕円率測定方法 - 特許庁
GENERATED GAS COLLECTING METHOD AND MEASURING METHOD例文帳に追加
発生ガスの捕集方法、及び測定方法 - 特許庁
SPECTRAL TRANSMITTANCE MEASURING INSTRUMENT, TRANSMISSION TYPE THICKNESS GAGE, COLOR VALUE MEASURING INSTRUMENT, SPECTRAL TRANSMITTANCE MEASURING METHOD, THICKNESS MEASURING METHOD, AND COLOR VALUE MEASURING METHOD例文帳に追加
分光透過率測定装置、透過型厚さ計、色彩値測定装置、分光透過率測定方法、厚さ測定方法、及び色彩値測定方法 - 特許庁
TOILET SEAT AND BODY TEMPERATURE MEASURING METHOD例文帳に追加
便座および体温測定方法 - 特許庁
PHYSICAL QUANTITY MEASURING METHOD AND SENSOR例文帳に追加
物理量計測方法及びセンサ - 特許庁
RESISTANCE VALUE MEASURING METHOD OF RESISTOR例文帳に追加
抵抗器の抵抗値測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MICROORGANISM例文帳に追加
微生物計測方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING ETHER TYPE PHOSPHOLIPID例文帳に追加
エーテル型リン脂質の測定方法 - 特許庁
MEASURING INSTRUMENT AND MASK TEST METHOD例文帳に追加
測定機器及びマスク試験方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING PROTEIN KINASE ACTIVITY例文帳に追加
プロテインキナーゼ活性の測定方法 - 特許庁
POLARIZED LIGHT MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
偏光測定方法および装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR MICRO-ADHESION例文帳に追加
マイクロ凝着力の測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING ZIRCONIUM CARBIDE LAYER DENSITY例文帳に追加
炭化ジルコニウム層密度測定法 - 特許庁
DETERIORATION DEGREE MEASURING METHOD OF SYNTHETIC RESIN例文帳に追加
合成樹脂の劣化度測定法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR CONCENTRATION OF CONTAMINANT例文帳に追加
汚染物質の濃度測定方法 - 特許庁
GLOSSINESS MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加
光沢度測定方法および装置 - 特許庁
DECLINOMETER AND AZIMUTH MEASURING METHOD例文帳に追加
方位計および方位測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DEGREE OF SATURATION OF GROUND例文帳に追加
地盤の飽和度の測定方法 - 特許庁
INSTALLATION METHOD FOR VEHICLE MEASURING APPARATUS例文帳に追加
車両計測機器の設置方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING HYSTERESIS OF REED SWITCH例文帳に追加
リードスイッチのヒステリシス測定方法 - 特許庁
TRANSMISSION PATH TIME DELAY MEASURING METHOD例文帳に追加
伝送路遅延時間測定方法 - 特許庁
NONCONTACT MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加
非接触測定方法及び装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR COMPOUND SEMICONDUCTOR例文帳に追加
化合物半導体の測定方法 - 特許庁
NONCONTACT MEASURING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
非接触測定システム及び方法 - 特許庁
INTERFEROMETER AND INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加
干渉計及び干渉計測法 - 特許庁
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