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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
OUTER DIAMETER MEASURING METHOD OF MEASURING OBJECT, OUTER DIAMETER MEASURING DEVICE, AND PERIPHERAL SURFACE GRINDING ATTACHMENT例文帳に追加
被測定物の外径測定方法、外径測定装置及び外周面研削装置 - 特許庁
ADVERTISEMENT EFFECT MEASURING METHOD, ADVERTISEMENT EFFECT MEASURING DEVICE, AND ADVERTISEMENT EFFECT MEASURING PROGRAM例文帳に追加
広告効果測定方法、広告効果測定装置および広告効果測定プログラム - 特許庁
TRANSMISSION LOSS MEASURING METHOD, TRANSMISSION LOSS MEASURING INSTRUMENT, AND TRANSMISSION LOSS MEASURING PROGRAM例文帳に追加
透過損失測定方法、透過損失測定装置、および透過損失測定プログラム - 特許庁
PERIPHERAL NERVE FUNCTION MEASURING INSTRUMENT OR TACTILE SENSATION THRESHOLD MEASURING INSTRUMENT, AND MEASURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
末梢神経機能測定具または触覚の閾値測定具とその測定方法 - 特許庁
ATTACHMENT MEASURING DEVICE, ATTACHMENT MEASURING METHOD, AND ATTACHMENT MEASURING PROGRAM例文帳に追加
付着物計測装置及び付着物計測方法並びに付着物計測プログラム - 特許庁
IMMUNOREACTION MEASURING METHOD, IMMUNOREACTION MEASURING KIT, AND IMMUNOREACTION MEASURING APPARATUS例文帳に追加
免疫反応測定方法、免疫反応測定キット及び免疫反応測定装置 - 特許庁
MEASURING CHIP, MEASURING SYSTEM AND MEASURING METHOD OF BIOLOGICAL SPECIFIC REACTANT例文帳に追加
生物学的特異的反応物質の測定チップ、測定システムおよび測定方法 - 特許庁
VOLTAGE MEASURING APPARATUS, VOLTAGE MEASURING METHOD AND MEASURING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の電圧計測装置および電圧計測方法並びに測定装置 - 特許庁
MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE FOR PROPAGATION TIME BY SOUND WAVE AND FLOW MEASURING DEVICE例文帳に追加
音波による伝搬時間の測定方法、測定装置及び流量測定装置 - 特許庁
ATTACHMENT AREA MEASURING APPARATUS, ATTACHMENT AREA MEASURING PROGRAM AND ATTACHMENT AREA MEASURING METHOD例文帳に追加
付着面積測定装置、付着面積測定プログラム、付着面積測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING ACTUAL REVOLUTION TORQUE OF BURYING MACHINE, MEASURING MEMBER, AND MEASURING DEVICE例文帳に追加
埋設機の実回転トルクの測定方法及び測定部材並びに測定装置 - 特許庁
MINUTE SPHERE MEASURING METHOD AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加
微小球測定方法及び画像処理方法 - 特許庁
POLARIZATION MEASURING METHOD AND POLARIZATION QUANTITY MONITORING METHOD例文帳に追加
偏光測定方法と偏光量監視方法 - 特許庁
VISCOSITY MEASURING METHOD AND APPLICATION QUANTITY CONTROL METHOD例文帳に追加
粘度測定方法および塗布量制御方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE OF SUBSTRATE AND METHOD FOR PROCESSING例文帳に追加
基板の温度測定方法および処理方法 - 特許庁
FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND SHEET MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
膜厚測定方法およびシートの製造方法 - 特許庁
FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR SHEET例文帳に追加
膜厚測定方法およびシートの製造方法 - 特許庁
ABERRATION MEASURING METHOD, EXPOSURE METHOD AND ALIGNER例文帳に追加
収差計測方法、露光方法及び露光装置 - 特許庁
OUTSIDE DIMENSION MEASURING METHOD AND CLASSIFYING METHOD例文帳に追加
外形寸法の測定方法及び選別方法 - 特許庁
MASK, METHOD FOR MEASURING ABERRATION, ADJUSTMENT METHOD AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加
マスク、収差計測方法、調整方法及び露光方法 - 特許庁
PRESSURE SENSOR AND STRESS MEASURING METHOD例文帳に追加
感圧センサおよび応力測定方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING DIMETHYL ETHER例文帳に追加
ジメチルエーテル測定装置および方法 - 特許庁
FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
膜厚計測方法及びその装置 - 特許庁
POLARIMETER AND POLARIZATION MEASURING METHOD例文帳に追加
偏光計及び偏光測定方法 - 特許庁
IMMUNOLOGICAL MEASURING REAGENT AND METHOD例文帳に追加
免疫学的測定試薬及び方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING IMPEDANCE OF ELECTRONIC CIRCUIT例文帳に追加
電子回路のインピーダンス測定方法 - 特許庁
MINUTE DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
微小変位計測方法及び装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR INSULATION RESISTANCE OF CAPACITOR例文帳に追加
コンデンサの絶縁抵抗測定方法 - 特許庁
MEASURING PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
測定プローブおよび、その製造方法 - 特許庁
MEASURING APPARATUS AND METHOD OF ITS CALIBRATION例文帳に追加
計測装置及びキャリブレーション方法 - 特許庁
PARTICLE COUNTER AND MEASURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
パーティクルカウンタおよびその計測方法 - 特許庁
SPEED-MEASURING APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
速度計測装置、方法及びプログラム - 特許庁
LUMINANCE MEASURING METHOD AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加
輝度測定方法および表示装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR WATER CONTENT IN OIL例文帳に追加
油中水分量の測定方法 - 特許庁
MEASURING APPARATUS AND LEAK DETECTION METHOD例文帳に追加
測定装置及び漏洩検知方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING GELATINIZATION TEMPERATURE OF STARCH例文帳に追加
澱粉の糊化温度の測定方法 - 特許庁
DEVICE OR METHOD FOR MEASURING ABSORBANCE例文帳に追加
吸光度計測装置またはその方法 - 特許庁
TEMPERATURE MEASURING METHOD OF COLD CATHODE TUBE例文帳に追加
冷陰極管の温度測定方法 - 特許庁
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