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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
INTRAOCULAR PRESSURE MEASURING DEVICE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加
眼圧計測装置及びその制御方法 - 特許庁
CASCADE CONNECTION MEASURING DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
カスケード接続計測装置および方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING BLOOD FLOW RATE例文帳に追加
血流速度の測定方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING GLOSSINESS OF OBJECT SURFACE例文帳に追加
物体表面の光沢度測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING DEFECT DENSITY IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
単結晶の欠陥密度測定方法 - 特許庁
DISPLACEMENT GAUGE AND MEASURING METHOD FOR DISPLACEMENT AMOUNT例文帳に追加
変位計及び変位量測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF DUTY RATIO VARIATION AND CIRCUIT例文帳に追加
デューティ崩れ測定方法および回路 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE DISTRIBUTION IN AIR PATH例文帳に追加
空気経路の温度分布計測方法 - 特許庁
FILM THICKNESS GAGE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS例文帳に追加
膜厚計及び膜厚の測定方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PLATE THICKNESS例文帳に追加
板厚測定装置および測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING LIGHT TRANSMITTANCE, AND SYSTEM例文帳に追加
光透過率測定方法および装置 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL IMAGE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
三次元画像計測装置及び方法 - 特許庁
OPTICAL SENSOR AND FLUID MEASURING METHOD例文帳に追加
光学式センサ及び流体測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLUORESCENCE LIFETIME例文帳に追加
蛍光寿命測定方法および装置 - 特許庁
ULTRASONIC THICKNESS MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
超音波厚さ測定方法および装置 - 特許庁
PROJECTED AREA MEASURING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加
投影面積測定方法とその装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR CONCENTRATION OF SACCHARIDE- CONTAINING SOLUTION例文帳に追加
糖類含有溶液の濃度測定法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING REMAINING BRIGHTNESS例文帳に追加
残留輝度測定システムおよび該方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INSIDE DIAMETER OF HOLE例文帳に追加
穴の内径測定方法及び装置 - 特許庁
OPTICAL DISK DRIVE AND INCLINATION MEASURING METHOD例文帳に追加
光ディスク装置及び傾角計測方法 - 特許庁
SPECIFIC ABSORPTION RATE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
比吸収率測定装置及び方法 - 特許庁
ULTRASONIC THICKNESS MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
超音波厚み測定方法および装置 - 特許庁
PUMP MEASURING EQUIPMENT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
ポンプ計測機器検査装置および方法 - 特許庁
COLOR CHART AND COLOR CHART MEASURING METHOD例文帳に追加
カラーチャートならびにカラーチャート測定方法 - 特許庁
CONTENT MEASURING METHOD OF VOLATILE COMPONENT例文帳に追加
揮発性成分の含有率測定方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
半導体装置およびその測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING NEUTRALIZATION DEGREE OF IONOMER RESIN例文帳に追加
アイオノマー樹脂の中和度測定方法 - 特許庁
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