「Probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE TIP EVALUATION METHOD FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法 - 特許庁

PROBE MACHINING METHOD, PROBE, MEASURING MACHINE, AND ELECTRIC DISCHARGE MACHINE例文帳に追加

プローブ加工方法、プローブ、測定機および放電加工機 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波プローブ、および超音波プローブの作製方法 - 特許庁

PROBE SET, PROBE-FIXING CARRIER AND METHOD FOR EXAMINING GENE例文帳に追加

プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE/PROBE REPLACING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料・プローブ交換方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF POSITIONING PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および探針の位置決め方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND EVALUATION METHOD OF ITS PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING FLAT PROBE AND FLAT PROBE例文帳に追加

平面型プローブの形成方法および平面型プローブ - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING TRAVEL IN PROBE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針移動制御方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE-FIXING CARRIER例文帳に追加

プローブ固定担体の製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PROCESSING PROBE例文帳に追加

プローブの処理方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR PROBE TEST, PROBE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブ試験方法、プローブ装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

NANOTUBE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ナノチューブプローブ及び製造方法 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC INDUCTION PROBE FOR POTENTIAL DIFFERENCE METHOD AND INSPECTION METHOD USING THE PROBE例文帳に追加

電位差法用電磁誘導プローブ及びそれを用いる検査方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR PROBE TIP STRUCTURE例文帳に追加

プローブチップ構造の製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

コンタクトプローブとその製造方法 - 特許庁

PROBE ARRAY AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブアレイとその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE, USING METHOD THEREFOR, AND MANUFACTURING METHOD FOR PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針及びその使用方法並びにプローブ針の製造方法 - 特許庁

PROBE ARRAY AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加

プローブアレイとその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD QUALITY EVALUATION METHOD, ITS APPARATUS, AND PROBE INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカードの品質評価方法及びその装置、プローブ検査方法 - 特許庁

PROBE DESIGNING METHOD AND BIOCHIP例文帳に追加

プローブ設計方法及びバイオチップ - 特許庁

PROBE MOUNTING METHOD AND SUBLANCE PROBE ENABLING THE METHOD例文帳に追加

プローブ装着方法および該プローブ装着方法が可能なサブランスプローブ - 特許庁

PROBE DEVICE, INSPECTING METHOD OF PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブ装置及びプローブ検査方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROBE, PROBE CARD WITH PROBES MOUNTED THEREON, AND METHOD FOR POSITIONING THE PROBE IN MOUNTING THE PROBE ON THE PROBE CARD例文帳に追加

プローブ、複数のプローブが実装されたプローブカード、およびプローブカードにプローブを実装する際のプローブの位置決め方法 - 特許庁

STACKED PROBE, TOOL FOR MANUFACTURING STACKED PROBE, MANUFACTURING METHOD OF STACKED PROBE, AND VERTICAL TYPE PROBE CARD USING STACKED PROBE例文帳に追加

積層プローブ、積層プローブ製造用治具、積層プローブの製造方法及び積層プローブを用いた垂直型プローブカード - 特許庁

CONTROL METHOD FOR PROBE CARRIER, MANUFACTURING DEVICE FOR PROBE CARRIER, AND CONTROLLER FOR PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体の管理方法、プローブ担体製造装置及びプローブ担体管理装置 - 特許庁

PROBE TIP CLEANING MEMBER, PROBE CLEANING DEVICE, AND PROBE TIP CLEANING METHOD例文帳に追加

プローブ先端クリーニング部材、プローブクリーニング装置及びプローブ先端クリーニング方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, PROBE APPARATUS EQUIPPED THEREWITH, AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブおよびそれを備えたプローブ装置並びにコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

TIP TYPE PROBE MANUFACTURING METHOD, TIP TYPE PROBE AND TIP TYPE PROBE MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加

ティップ型プローブ製造方法、ティップ型プローブ及びティップ型プローブ製造装置 - 特許庁

ELECTRODE PROBE, ELECTRODE PROBE GUIDING GRID, AND METHOD OF MANUFACTURING THE ELECTRODE PROBE例文帳に追加

電極プローブ、電極プローブ導入用グリッド、および、電極プローブ製造方法 - 特許庁

METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法 - 特許庁

PROBE, ETCHING MASK FOR FORMING PROBE AND PROBE MANUFACTURING METHOD USING ETCHING MASK例文帳に追加

探針、探針形成用エッチングマスク及びそれを用いた探針の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACT STYLUS FIXING HOLDER FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードおよびプローブカード用のプローブ接触針固定用ホルダーの製造方法 - 特許庁

SOUND SOURCE PROBE DEVICE, SOUND SOURCE PROBE METHOD, SOUND SOURCE PROBE PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

音源探査装置、音源探査方法、音源探査プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CLEANING PROBE例文帳に追加

プローブの清掃方法及び装置 - 特許庁

PROBE CARD AND PRODUCTION METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CLEANING PROBE例文帳に追加

プローブの清掃方法及び装置 - 特許庁

PROBE PIN AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブピンおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING FORCE OF SCANNING PROBE例文帳に追加

走査プローブの力制御方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ針及びその製造方法 - 特許庁

QUALITY ASSURANCE METHOD OF PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体の品質保証方法 - 特許庁

PROBE HEAD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブヘッド及びその製造方法 - 特許庁

PROBE TEST DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

プローブテスト装置およびその方法 - 特許庁

CONTACT PROBE PIN AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

コンタクトプローブピンおよび検査方法 - 特許庁