「Probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

CONTACT PROBE AND PRODUCTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンタクトプローブおよびその製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波プローブと、その製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBER AND METHOD FOR TOUCHING PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローバ及びプローブ針接触方法 - 特許庁

NANOTUBE PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ナノチューブプローブ及びその製造方法 - 特許庁

PROBER DEVICE AND PROBE MEASURING METHOD例文帳に追加

プローバ装置及びプローブ測定方法 - 特許庁

PROBE POSITION CORRECTING METHOD AND PROBER例文帳に追加

プローブ位置修正方法及びプローバ - 特許庁

CONTACT PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンタクトプローブおよびその製造方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

磁気探針およびその製造方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNING PROBE, OPTICAL SCANNING PROBE DEVICE, AND METHOD FOR CONTROLLING OPTICAL SCANNING PROBE例文帳に追加

光走査プローブおよび光走査プローブ装置並びに光走査プローブの制御方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE, MAGNETIC PROBE MANUFACTURING METHOD, AND PARTICLE ARRANGING DEVICE HAVING THE MAGNETIC PROBE例文帳に追加

磁気プローブ、同磁気プローブの製造方法および同磁気プローブを備える微粒子配置装置 - 特許庁

NANOTUBE PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用ナノチューブプローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE INFORMATION COLLECTION DEVICE, PROBE INFORMATION TRANSMISSION DEVICE AND PROBE INFORMATION COLLECTION METHOD例文帳に追加

プローブ情報収集装置、プローブ情報送信装置およびプローブ情報収集方法 - 特許庁

To provide a probe holder, a probe unit, and a manufacturing method of a probe holder with excellent productivity.例文帳に追加

生産性に優れたプローブホルダ、プローブユニットおよびプローブホルダの製造方法を提供する。 - 特許庁

CONTACT PROBE, MEASURING PAD USED FOR CONTACT PROBE, AND METHOD OF MANUFACTURING CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ、そのコンタクトプローブに用いる測定用パッド、及びそのコンタクトプローブの作製方法 - 特許庁

OLIGONUCLEOTIDE PROBE, PROBE-FIXED MICROARRAY AND METHOD FOR DESIGNING PROBE例文帳に追加

オリゴヌクレオチドプローブ、前記プローブが固定化されているマイクロアレイ及び前記プローブを設計する方法 - 特許庁

PROBE INFORMATION SERVICE SYSTEM, PROBE INFORMATION PROVIDING SERVER AND PROBE INFORMATION PROVIDING METHOD例文帳に追加

プローブ情報提供システム、プローブ情報提供サーバおよびプローブ情報提供方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, EVALUATION METHOD OF PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラム - 特許庁

PROBE INFORMATION PREPARATION DEVICE, PROBE INFORMATION PREPARATION METHOD, AND PROBE INFORMATION PREPARATION PROGRAM例文帳に追加

プローブ情報生成装置、プローブ情報生成方法およびプローブ情報生成プログラム - 特許庁

PROBE SENSING PAD AND METHOD OF DETECTING CONTACT POSITION OF PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブセンシング用パッド及びプローブ針接触位置検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR PROBE ARRAY, PROBE ARRAY, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブアレイ用基体ならびにプローブアレイおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE UNIT, CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE AND PROBE UNIT MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブユニット、回路基板検査装置およびプローブユニット製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MAINTAINING PLANE PARALLELISM BETWEEN PROBE CARD AND ITS PROBE SUBSTRATE例文帳に追加

プローブカード及びそのプローブ基板の面平行度の保持方法 - 特許庁

PROBE ARRAY FOR DISTINGUISHING DNA, AND METHOD OF USING PROBE ARRAY例文帳に追加

ＤＮＡ識別のためのプローブアレイ及びプローブアレイの使用方法 - 特許庁

FIXING MECHANISM AND METHOD OF PROBE CARD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカードの固定機構、ローブカードの固定方法及びプローブ装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, ENDOSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波プローブ、内視鏡及び超音波プローブの製造方法 - 特許庁

PROBE DATA COLLECTION SYSTEM, PROBE DATA COLLECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

プローブデータ収集システム、プローブデータ収集方法およびプログラム - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND APPLICATION OF SHEET-LIKE PROBE例文帳に追加

シート状プローブおよびその製造方法ならびにその応用 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE DIAGNOSING APPARATUS AND ULTRASONIC PROBE DIAGNOSING METHOD例文帳に追加

超音波プローブ診断装置および超音波プローブ診断方法 - 特許庁

PROBE FOR INSPECTION, INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR INSPECTION例文帳に追加

検査用プローブ及び検査装置、検査用プローブの製造方法 - 特許庁

DISPENSING PROBE, CLEANING APPARATUS, AND CLEANING METHOD OF DISPENSING PROBE例文帳に追加

分注プローブ、洗浄装置及び分注プローブの洗浄方法 - 特許庁

PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE COLLISION AVOIDANCE METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針衝突回避方法 - 特許庁

PROBE APPARATUS, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE DISPLAY METHOD例文帳に追加

プローブ装置、走査型プローブ顕微鏡および試料表示方法 - 特許庁

MEASURING NEEDLE FOR PROBE CARD, PROBE CARD, AND MANUFACTURING METHOD OF MEASURING NEEDLE例文帳に追加

プローブカード用測定針、プローブカード及び測定針形成方法 - 特許庁

FUNCTIONAL DEVICE, PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPY HAVING PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF FUNCTIONAL DEVICE AND PROBE例文帳に追加

機能デバイス、プローブおよびそれを用いた走査プローブ顕微鏡、ならびに、機能デバイスおよびプローブの作製方法 - 特許庁

METHOD FOR PROCESSING PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE PROCESSED BY THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に用いられるプローブの処理方法およびこの処理方法で処理されたプローブ - 特許庁

PROBE POLISHING METHOD AND POLISHING MEMBER例文帳に追加

プローブの研磨方法及び研磨部材 - 特許庁

SPRING PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

スプリングプローブ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE UNIT AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブユニットおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE BOARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブ基板及びその製造方法 - 特許庁

PROBE VEHICLE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブ媒体およびその製造方法 - 特許庁

SELF-QUENCHING FLUORESCENCE PROBE AND METHOD例文帳に追加

自己消光性蛍光プローブと方法 - 特許庁

CONTACT PROBE AND METHOD OF FORMING THE SAME例文帳に追加

コンタクトプローブ及びその形成方法 - 特許庁