「Probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

SHEETLIKE PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

シート状プローブおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE MEMORY DEVICE AND ITS POSITIONING METHOD例文帳に追加

プローブメモリ装置及びその位置決め方法 - 特許庁

PROBE UNIT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブユニット及びプローブユニットの製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE MEMBER AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

コンタクトプローブ部材及びその製造方法 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法 - 特許庁

PROBER AND METHOD OF CLEANING PROBE PIN例文帳に追加

プローバーおよびプローブ針のクリーニング方法 - 特許庁

PROBE PIN AND METHOD FOR INSULATING THE SAME例文帳に追加

プローブピンおよびその絶縁処理方法 - 特許庁

ULTRASONIC WAVE PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

超音波プローブ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカードの製造方法及びプローブカード - 特許庁

SPM PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

ＳＰＭ探針及びその製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PROCESSING PROBE例文帳に追加

プローブ加工方法およびプローブ加工装置 - 特許庁

PROBE CARD, ITS RESTORATION METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード、その修復方法及びその製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, ITS USING METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

コンタクトプローブ、その使用方法及びその製造方法 - 特許庁

To provide techniques relating to a probe board and a method of manufacturing the probe board.例文帳に追加

プローブ基板及びその製造方法に関する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a reproduction method for a probe sheet and the reproducible probe sheet.例文帳に追加

プローブシートの再生方法と、再生可能なプローブシートとを提供する。 - 特許庁

PROBE PIN, PROBE PIN UNIT, AND INSPECTION METHOD OF INSPECTION OBJECT USING UNIT例文帳に追加

プローブピン、プローブピンユニット及びこれを用いた被検査物の検査方法 - 特許庁

PROBE DATA COLLECTION SYSTEM AND OPERATION METHOD FOR PROBE DATA COLLECTION SYSTEM例文帳に追加

プローブデータ収集システムおよびプローブデータ収集システムの動作方法 - 特許庁

PROBE FOR PROCESSING AND PROCESSING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR PROCESSING例文帳に追加

加工用プローブ及び加工装置並びに加工用プローブの製造方法 - 特許庁

PROBE CLEANING APPARATUS AND PROBE CLEANING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブのクリーニング装置およびその装置を用いたプローブのクリーニング方法 - 特許庁

OPTICAL VOLTAGE PROBE AND VOLTAGE-MEASURING METHOD USING THE OPTICAL VOLTAGE PROBE例文帳に追加

光電圧プローブ及び光電圧プローブを使った電圧測定方法 - 特許庁

PROBE ALIGNMENT METHOD, MOVABLE PROBE UNIT MECHANISM, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 - 特許庁

PROBE DEVICE AND ADJUSTMENT METHOD FOR CONTACT PRESSURE BETWEEN OBJECT TO BE INSPECTED AND PROBE例文帳に追加

プローブ装置及び被検査体とプローブとの接触圧の調整方法 - 特許庁

METHOD FOR DISPLAYING IMAGE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の像表示方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE AND TESTER HAVING PROBE例文帳に追加

プローブ及びその製造方法並びにプローブを有する顕微鏡及びテスタ - 特許庁

APPROACH METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

WAFER PROBER WITH PROBE CARD INSPECTING-CLEANING MECHANISM AND PROBE CARD INSPECTING METHOD例文帳に追加

プローブカード検査・クリーニング機構付きウエハプローバ及びプローブカード検査方法 - 特許庁

PROBE WITH PROBE ELEMENT INTERACTING WITH SAMPLE, MANUFACTURING METHOD OF THE PROBE, AND MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE FOR INTERMOLECULAR ACTION USING THE PROBE例文帳に追加

試料と相互作用する探針を有するプローブ、該プローブの製造方法、該プローブを用いた分子間の相互作用の測定方法及び測定装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置 - 特許庁

PROBE FOR ELECTROCONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE AND PROCESSING METHOD USING THIS PROBE例文帳に追加

導電性走査型顕微鏡用プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁

PROBE CARD TRANSFER METHOD, PROBER AND PROBE CARD SUPPLY/RECOVERY SYSTEM例文帳に追加

プローブカード受け渡し方法、プローバ及びプローブカード供給・回収システム - 特許庁

SHOE FOR ULTRASONIC PROBE AND METHOD OF DETACHING ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波探触子用シュー及び超音波探触子の取り外し方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE SUPPORTING PLATE, COMPUTER MEMORY MEDIUM, AND PROBE SUPPORTING PLATE例文帳に追加

プローブ支持板の製造方法、コンピュータ記憶媒体及びプローブ支持板 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, MOVABLE CARRIAGE FOR PROBE ATTACHMENT/DETACHMENT, MOVABLE CARRIAGE FOR RETRIEVING PROBE INSTALLATION POSITION, SYSTEM FOR ULTRASONIC PROBE ATTACHMENT/DETACHMENT, AND METHOD FOR ATTACHMENT OF ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波プローブ、プローブ着脱用移動台車、プローブ設置位置探索用移動台車、超音波プローブ着脱システム、および超音波プローブの取付方法 - 特許庁

PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT, GENERATING METHOD FOR NEAR FIELD LIGHT USING THE PROBE, PROBE HAVING THE PROBE, STORAGE UNIT HAVING THE PROBE, SURFACE OBSERVING UNIT, EXPOSURE UNIT, MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE PROBE HAVING THE PROBE FOR THE NEAR FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光用の探針、該探針を用いた近接場光発生方法、該探針を有するプローブ、該プローブを有するストレージ装置、表面観察装置、露光装置、デバイス製造方法、近接場光用の探針を有するプローブの製造方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡及び物性測定方法 - 特許庁

AUTOANALYZER AND PROBE CLEANING METHOD例文帳に追加

自動分析装置およびプローブ洗浄方法 - 特許庁

AUTOANALYZER AND PROBE CLEANING METHOD例文帳に追加

自動分析装置及びプローブ洗浄方法 - 特許庁

METHOD FOR EDDY CURRENT FLAW DETECTION AND FLAW DETECTION PROBE例文帳に追加

渦電流探傷法及び探傷プローブ - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PROBE DESIGN例文帳に追加

プローブ設計装置及びプローブ設計方法 - 特許庁

PROBE ASSEMBLY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブ組立体およびその製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC WAVE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波探触子及びその製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SUBSTRATE FOR PROBE CARD ASSEMBLY例文帳に追加

プローブカード・アセンブリ用基板の製造方法 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING WAFER AND PROBE NEEDLE WITH EACH OTHER AND METHOD AND DEVICE FOR PROBE TEST例文帳に追加

ウエーハとプローブ針との位置合わせ方法、プローブ検査方法及びプローブ検査装置 - 特許庁

ELECTRIC FIELD DETECTION PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電界検知プローブ及びその製造方法 - 特許庁