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Probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
ACQUIRING METHOD OF CONTACT POSITION OF PROBE PIN, CORRECTING METHOD OF CONTACT POSITION OF PROBE PIN, AND RESOLVING METHOD OF CONTACT ERROR BETWEEN PROBE DEVICES例文帳に追加
プローブピンの接触位置の採取方法、プローブピンの接触位置の補正方法及びプローブ装置間の接触誤差の解消方法 - 特許庁
To provide a repair method of a probe card and a repaired probe substrate.例文帳に追加
本発明は、プローブカードのリペア方法及びリペアされたプローブ基板に関する。 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING PROBE DEVICE AND METHOD FOR DETECTING INTERFERENCE OF PROBE例文帳に追加
三次元形状測定用プローブ装置およびプローブの干渉検知方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE MANUFACTURING METHOD, ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加
超音波プローブ製造方法、超音波プローブ、および超音波撮像装置 - 特許庁
PROBE HOLDER FOR ULTRASONIC ANGLE PROBE, AND ULTRASONIC ANGLE FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加
超音波斜角探触子用プローブホルダーおよび超音波斜角探傷法 - 特許庁
VERTICAL ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE, INSPECTION APPARATUS FOR PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加
落射型顕微鏡、プローブカードの検査装置、および、プローブカードの製造方法 - 特許庁
THERMAL CONDUCTIVITY PROBE AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY PROBE, AND MAKING METHOD THEREOF例文帳に追加
熱伝導プローブおよび電気伝導プローブならびにこれを作成する方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, MANUFACTURING METHOD FOR ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC DIAGNOSING APPARATUS例文帳に追加
超音波プローブ、超音波プローブの製造方法及び超音波診断装置 - 特許庁
SPM PROBE WITH SHORTENED CANTILEVER, AND METHOD OF MANUFACTURING SPM PROBE例文帳に追加
短縮化カンチレバーを備えたSPMプローブ及びSPMプローブの製造方法 - 特許庁
PROBE CARRIER AND PROBE MEDIUM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
プローブ担体、ブローブ担体製造用プローブ媒体およびプローブ担体の製造方法 - 特許庁
DATA PROCESSING METHOD IN ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER AND ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER例文帳に追加
電子プローブマイクロアナライザにおけるデータ処理方法及び電子プローブマイクロアナライザ - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING CERAMIC SUBSTRATE FOR PROBE CARD AND CERAMIC SUBSTRATE FOR PROBE CARD例文帳に追加
プローブカード用セラミック基板の製造方法及びプローブカード用セラミック基板 - 特許庁
METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡(SPM)用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁
SCAN METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
PROBE END DETECTION METHOD, ALIGNMENT METHOD, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH METHOD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加
プローブ先端の検出方法、アライメント方法及びこれらの方法を記録した記憶媒体、並びにプローブ装置 - 特許庁
PROBE FINGER STRUCTURE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
プローブフィンガ構造体及びその製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING DEVICE FOR PROBE CARRIER例文帳に追加
プローブ担体の製造方法及び製造装置 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING LSI DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加
LSIデバイスの検査方法、およびプローブカード - 特許庁
CONTACT PROBE AND ITS METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加
コンタクトプローブおよびコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁
MACHINE TOOL PROBE AND METHOD FOR SWITCHING ON THE SAME例文帳に追加
工作機プローブおよびそのスイッチオン方法 - 特許庁
PROBE FOR INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加
検査装置用プローブおよびその製造法 - 特許庁
INJECTION HEAD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE ARRAY例文帳に追加
インクジェットヘッド及びプローブアレイの製造方法 - 特許庁
PLASMA POTENTIAL MEASURING METHOD AND PROBE FOR MEASUREMENT例文帳に追加
プラズマ電位測定方法と測定用プローブ - 特許庁
PROBE DEVICE AND METHOD FOR CLEANING TEST OBJECT例文帳に追加
プローブ装置及び被検査体の清掃方法 - 特許庁
PROBE SUBSTRATE FOR INSPECTION AND METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加
検査用プローブ基板及びその製造方法 - 特許庁
LENS UNIT FOR PROBE AND ASSEMBLING METHOD THEREFOR例文帳に追加
プローブ用レンズユニット及びその組み立て方法 - 特許庁
INSPECTION TOOL AND METHOD FOR FIXING PROBE THEREFOR例文帳に追加
検査冶具及びそれへのプローブの固定方法 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
超音波用探触子及びその製造方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER例文帳に追加
プローブ担体の製造方法および製造装置 - 特許庁
PROBE CARD AND ELECTRICAL PERFORMANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加
プローブカードおよび電気的性能検査方法 - 特許庁
METHOD OF ULTRASOUND IMAGING AND ULTRASOUND PROBE例文帳に追加
超音波撮像方法及び超音波プローブ - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING COLLOID PROBE例文帳に追加
コロイドプローブの製造方法及び製造装置 - 特許庁
INSPECTION PROBE BOARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
検査用プローブ基板およびその製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING DNA PROBE ARRAY例文帳に追加
DNAプローブアレー製造方法、製造装置 - 特許庁
PUMP-PROBE PHOTOMETRIC DEVICE AND PHOTOMETRIC METHOD例文帳に追加
ポンプ−プローブ測光装置および測光方法 - 特許庁
PROBE SUBSTRATE FOR INSPECTION AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
検査用プローブ基板及びその製造方法 - 特許庁
PROBE NEEDLE, CANTILEVER, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
プローブ針、カンチレバー及びそれらの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING INK JET HEAD AND PROBE ARRAY例文帳に追加
インクジェットヘッド及びプローブアレイの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER AND ITS DEVICE例文帳に追加
プローブ担体の製造方法およびその装置 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE CABLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
超音波プローブケーブルおよびその製造方法 - 特許庁
PROBE CARD AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
プローブカード及び半導体チップの試験方法 - 特許庁
FLEXIBLE NERVE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
フレキシブル神経プローブおよびその製造方法 - 特許庁
PROBE DESIGNING METHOD AND INFORMATION PROCESSING APPARATUS例文帳に追加
プローブ設計方法及び情報処理装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体装置の検査方法及びプローブカード - 特許庁
PROBE APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING CONTACT POSITION例文帳に追加
プローブ装置及びコンタクト位置の補正方法 - 特許庁
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